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인장강도 시험을 위한 탄소나노튜브의 그립 검사 방법 및 그 시스템

  • 기술번호 : KST2014065890
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기적인 저항값의 변화를 획득하여 탄소나노튜브의 그립 상태가 적당한지를 검사할 수 있도록 한 인장강도 시험을 위한 탄소나노튜브의 그립 검사 방법 및 그 시스템을 제공하기 위한 것으로, 본 발명의 일실시예에 따른 인장강도 시험을 위한 탄소나노튜브의 그립 검사 방법은, (a) 양쪽 금속팁에 고감도 나노 멀티미터를 전기적으로 연결하는 단계와; (b) 상기 탄소나노튜브 양단을 각기 양쪽 금속팁의 대향 단부에 접촉시켜 놓고 진공분위기에서 그 접촉부위에 전자 빔을 조사하여 용접하는 단계와; (c) 상기 나노 멀티미터로부터 탄소나노튜브를 흐르는 전류의 저항값을 측정하는 단계와; (d) 상기 (c) 단계에서 저항값 측정의 일정 경과시간내에 최대 저항값에서 설정 비율 만큼 저항값이 낮아지는가를 판단하는 단계;를 포함하여, 설정된 비율만큼 저항값이 낮아지면 정상으로 판단하고 그렇치 못할 경우 불량으로 검사하는 것을 특징으로 한다.탄소나노튜브, 인장강도, 그립검사
Int. CL B82Y 35/00 (2011.01) G01N 27/00 (2011.01) G01N 27/04 (2011.01)
CPC G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01)
출원번호/일자 1020070052102 (2007.05.29)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-0891613-0000 (2009.03.27)
공개번호/일자 10-2008-0104790 (2008.12.03) 문서열기
공고번호/일자 (20090408) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.05.29)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 남승훈 대한민국 대전 유성구
2 장훈식 대한민국 대구 서구
3 백운봉 대한민국 대전 유성구
4 김엄기 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김문종 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)
2 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2007-0393553-87
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.03.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0022238-07
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0587447-76
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0036549-44
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0108595-56
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.02.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0108594-11
8 등록결정서
Decision to grant		 2009.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0121290-33
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
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번호 청구항
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인장 강도시험을 위한 탄소나노튜브(10)의 그립 상태를 검사하기 위해,(a) 양쪽 금속팁(20,22)에 고감도 나노 멀티미터(30)를 전기적으로 연결하는 단계와;(b) 상기 탄소나노튜브(10) 양단을 각기 양쪽 금속팁의 대향 단부에 접촉시켜 놓고 진공분위기에서 그 접촉부위에 전자 빔을 조사하여 용접하는 단계와;(c) 상기 나노 멀티미터(30)로부터 탄소나노튜브를 흐르는 전류의 저항값을 측정하는 단계와;(d) 상기 (c) 단계에서 저항값 측정의 일정 경과시간 내에 최대 저항값에서 설정 비율 만큼 저항값이 낮아지는가를 판단하는 단계;를 포함하여, 설정된 비율만큼 저항값이 낮아지면 정상으로 판단하고 그렇치 못할 경우 불량으로 검사하는 것에 있어서, 상기 (d)단계에서, 획득한 저항값이 10분내에 20% 낮아지면 정상으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인장강도 시험을 위한 탄소나노튜브의 그립 검사 방법
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인장 강도시험을 위한 탄소나노튜브(10)의 그립 상태를 검사하기 위해,(a) 양쪽 금속팁(20,22)에 고감도 나노 멀티미터(30)를 전기적으로 연결하는 단계와;(b) 상기 탄소나노튜브(10) 양단을 각기 양쪽 금속팁의 대향 단부에 접촉시켜 놓고 진공분위기에서 그 접촉부위에 전자 빔을 조사하여 용접하는 단계와;(c) 상기 나노 멀티미터(30)로부터 탄소나노튜브를 흐르는 전류의 저항값을 측정하는 단계와;(d) 상기 (c) 단계에서 저항값 측정의 일정 경과시간 내에 최대 저항값에서 설정 비율 만큼 저항값이 낮아지는가를 판단하는 단계;를 포함하여, 설정된 비율만큼 저항값이 낮아지면 정상으로 판단하고 그렇치 못할 경우 불량으로 검사하는 것에 있어서, 상기 (d)단계에서, 획득한 저항값이 10 분 동안 15 % 이상 낮아지면서 1분 동안 전기저항 변화율이 ±1 % 이상 변하지 않으면 정상으로 판정하는 것을 특징으로 하는 인장강도 시험을 위한 탄소나노튜브의 그립 검사 방법
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