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전수합산법을 이용한 이차이온질량분석법에 의한 다성분 합금 박막의 주성분 정량 및 조성깊이분포 분석법

  • 기술번호 : KST2014065940
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 화합물 박막 태양전지용 박막과 같은 다성분 합금 박막에 대하여, 전수합산법을 이용한 이차이온화질량분석법에 의하여 정량분석 및 깊이에 따른 조성분포를 분석하는 방법을 개시하는바, 이로써 합금 박막 태양전지의 이력관리를 가능케 하여 성능을 극대화할 수 있는 표준을 제공할 수 있다.
Int. CL G01N 27/62 (2006.01) G01N 23/225 (2006.01) H01J 37/252 (2006.01)
CPC G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01) G01N 23/225(2013.01)
출원번호/일자 1020110008943 (2011.01.28)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1061163-0000 (2011.08.25)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20110901) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.01.28)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김경중 대한민국 대전시 유성구
2 장종식 대한민국 충북 청주시 흥덕구
3 조경행 대한민국 대전광역시 유성구
4 한명섭 대한민국 충청남도 계룡시
5 민형식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김종관 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
2 박창희 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)
3 권오식 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층(특허법인 플러스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0072323-25
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2011.02.08 수리 (Accepted) 1-1-2011-0087711-88
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2011.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2011.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0007884-67
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0131917-00
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.04.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0316003-87
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0359429-11
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0582526-60
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2011.07.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2011-0582528-51
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2011.08.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0447715-51
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 다성분 합금 박막 표준시편에 대하여, 이차이온질량분석법에 의하여 각 성분 원소의 깊이분포도를 얻고 전 구간에서 각 성분 원소의 분포도에 대하여 전구간을 적분하는 전수합산법으로 각 성분의 세기(Ii)를 구는 단계; 식(1)과 같이 각 성분의 세기(Ii)를 인증된 조성(Ci)으로 나누어 각 성분 원소의 감도인자(Si)를 구하는 단계; 상기 감도인자(Si)를 특정 성분 원소(i)의 감도인자로 나누어 식(2)와 같이 상대감도인자(Rj)를 구하는 단계; b) 분석 시편에 대해 동일한 SIMS 분석 조건에서 SIMS 깊이분포도를 얻는 단계; 상기 a)단계에서 얻어진 상대감도인자(Rj)를 이용하여 식(3)과 같이 정규화법으로 각 성분 원소의 상대적인 원소 비율(atomic fraction; Xi)을 얻는 단계;를 포함하는 이차이온질량분석법을 이용한 전수합산법에 의한 다성분 합금 박막의 정량 분석 및 깊이에 따른 조성분포 분석 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 다성분 합금 박막은 화합물 박막 태양전지용 합금 박막인 것을 특징으로 하는 이차이온질량 분석법에 의한 전수합산법에 의한 정량분석 및 조성깊이분포도 분석 방법
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,화합물 박막은 CIGS {Cu(InGa)Se2} 박막 또는 CdTe 박막인 것을 특징으로 하는이차이온질량 분석법에 의한 전수합산법에 의한 정량분석 및 조성깊이분포도 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.