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레이저 광탈착 이온화 질량분석방법 (SOI 기판)

  • 기술번호 : KST2014065965
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 매트릭스를 사용하지 않으며, 시료에 레이저 광탈착 이온화를 유발하는 외부 물질을 첨가하지 않고, 유기물, 무기물, 생화학물질, 또는 이들의 복합물을 함유하는 분석대상물질의 레이저 광탈착 이온화를 유발하여 분석대상물질의 질량을 분석하는 방법에 관한 것으로, 상세하게, 본 발명에 따른 분석방법은 무기 기판에 유기물, 무기물, 생화학물질, 또는 이들의 복합물을 함유하는 분석대상물질을 포함하는 분석액을 도포한 후 건조하고, 상기 분석대상물질이 도포 및 건조된 무기 기판에 레이저 광을 조사하여 상기 무기 기판의 레이저 광 흡수에 의해 상기 분석대상물질을 탈착 이온화시켜, 상기 탈착 이온화된 분석대상물질의 질량 검출을 수행하는 특징이 있다.
Int. CL H01J 49/26 (2006.01)
CPC G01N 27/628(2013.01) G01N 27/628(2013.01)
출원번호/일자 1020100104319 (2010.10.25)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0042581 (2012.05.03) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한상윤 대한민국 대전광역시 유성구
2 송재용 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 플러스 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.10.25 수리 (Accepted) 1-1-2010-0690619-28
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2014-5004381-25
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2015-5003341-28
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.02.04 수리 (Accepted) 1-1-2015-5005371-34
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
무기 기판에 유기물, 무기물, 생화학물질, 또는 이들의 복합물을 함유하는 분석대상물질을 포함하는 분석액을 도포한 후 건조하고, 상기 분석대상물질이 도포 및 건조된 무기 기판에 레이저 광을 조사하여 상기 무기 기판의 레이저 광 흡수에 의해 상기 분석대상물질을 탈착 이온화시켜, 상기 탈착 이온화된 분석대상물질의 질량 검출을 수행하는 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 기판의 흡광계수 (absorption coefficient, a)는 1x103/cm 이상인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
3 3
제 2항에 있어서,상기 기판의 열전도도(Thermal conductivity, K)는 1000 Wm-1K-1 이하인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
4 4
제 3항에 있어서,상기 기판의 비열(Heat Capacity, Cp)은 0
5 5
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 레이저 광은 펄스(pulse) 광이며, 레이저 광의 펄스 폭은 100μs 내지 1 fs인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
6 6
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 레이저 광은 자외선 내지 적외선인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
7 7
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 기판의 표면에는 인위적인 나노구조가 형성되지 않은 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
8 8
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 기판은 비정질인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
9 9
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 기판의 표면에는 상기 기판과 상기 분석대상물질과의 결합력보다 낮은 상기 분석대상물질과의 결합력을 갖는 코팅층이 형성된 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 코팅층은 자기조립 단분자막, 실리카(silica), -CH3를 포함하는 탄화수소 사슬, 폴리에틸렌 글리콜(-PEG), -OCH3 , -NH2, -COOH, -CF3, -F 및 -Cl에서 하나 이상 선택된 작용기를 표면 작용기로 갖는 코팅층인 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
11 11
제 1항 내지 제 4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 질량분석방법은 1600 Da 이하의 분석대상물질의 질량 검출이 수행되는 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
12 12
제 1항 내지 제4항에서 선택된 어느 한 항에 있어서,상기 질량분석방법은 10fmol 이상의 분석대상물질의 질량 검출이 수행되는 것을 특징으로 하는 무 매트릭스 레이저 광탈착 이온화 질량분석방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학부 한국표준과학연구원 신기술융합형 성장동력사업 멀티모드 질량화학현미경 분자진단 시스템 개발