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테라헤르츠파의 전계분포 분석장치에 있어서,평행한 테라헤르츠파를 발생하는 발생부와; 평판에 구멍을 형성하여, 발생된 테라헤르츠파의 특정 시간적, 공간적 부분을 샘플링 하는 포집부; 및,상기 포집부는 삼차원적 미세한 위치 이동이 가능한 자동 제어부를 포함하며,상기 포집된 파형을 검출하는 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 발생부는 광전도 안테나 방법(Photoconductive antenna), 광정류 방법(Optical rectification) 또는 반도체 표면 전계법(semiconductor surface filed)으로 테라헤르츠파를 발생시키는 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 발생부는 렌즈 또는 파라볼릭 미러(parabolic mirror)를 이용하여 빔의 직경을 증가시키는 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 3항에 있어서 상기 직경이 증가된 빔은 평행한 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 포집부는 중앙부에 구멍이 형성된 평판으로 구성되며, 상기 구멍의 직경은 평행한 테라헤르츠파의 직경에 1/10 이하인 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 포집부는 평판의 구멍부분에 편광기를 부착하는 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 제어부는 3차원적으로 미세한 위치 이동이 가능한 자동 정밀장치로 설치된 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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제 1항에 있어서, 상기 검출부는 광전도 표본추출법(Photoconductive sampling) 또는 전기 광학적 표본 추출법(Electro-optic sampling)으로 테라헤르츠파를 검출하는 것을 특징으로 하는 펄스형 테라헤르츠파의 시,공간적 전계분포 분석장치
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