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이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기 신호성능 향상 제어장치

  • 기술번호 : KST2014066527
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기 신호성능 향상 제어장치 및 방법에 관한 것으로, 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 이온 트랩에 주입되는 이온이 트랩의 중심으로 최대한 가깝게 주입되게 하기 위한 전기적 신호를 트랩 전극에 인가하며, 주입된 이온이 이온 운동을 하기 위한 트랩 전극의 신호를 적절히 조정하여 편향된 이온 운동을 조절하도록 하므로, 이온 신호의 충실성을 향상시키는 을 제공하는데 그 목적이 있다.본 발명의 목적은 이온트랩에 주입된 이온이 이온 운동 하도록 컴퓨터의 제어프로그램에 의해 제1,제2여기전극에 고주파신호를 입력하고, 이온신호 검출을 위한 제1,제2검출전극에 제어신호를 인가함에 따라 이온의 위치를 조정하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법에 있어서, 이온트랩에 이온 주입시 컴퓨터의 제어에 의하여 구동되는 제1 내지 제4제어신호발생부에서 발생된 제어신호가 상기 제1, 제2검출전극 및 제1, 제2여기전극에 각각 인가되어 상기 이온트랩 내의 이온의 위치가 중앙으로 조정되는 이온위치조정과정; 상기 제1, 제2여기전극에 고주파신호를 인가시키는 고주파인가과정; 및 상기 제1, 제2검출전극으로부터 이온신호를 검출하는 이온신호검출과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100129681 (2010.12.17)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-1146229-0000 (2012.05.08)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120517) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.17)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승용 대한민국 대전광역시 유성구
2 김현식 대한민국 대전광역시 유성구
3 최명철 대한민국 충청북도 청원군
4 유종신 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 이노 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 ***, *층 (서초동, 신한국빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0833271-09
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.10.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.10.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5212108-42
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0091651-39
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0757611-49
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0139635-04
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.02.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0139647-41
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2012.03.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0144676-29
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2012.03.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-0248415-90
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0248406-89
11 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2012.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0249921-06
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이온트랩(6)에 주입된 이온이 이온 운동 하도록 컴퓨터의 제어프로그램에 의해 제1,제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 입력하고, 이온신호 검출을 위한 제1,제2검출전극(2-1)(2-2)에 제어신호를 인가함에 따라 이온의 위치를 조정하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치에 있어서,상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 이온운동을 위해 고주파증폭기(7)로부터의 고주파신호 또는 제어신호를 선택 인가시키는 여기전극제어수단; 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)에 이온운동을 위한 제어신호를 발생하는 각각의 제1, 제2제어신호발생부(21)(23)로부터 발생된 임의파형을 각 검출전극(2-1)(2-2)에 각각 인가시키는 검출전극제어수단; 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)로부터 이온신호를 검출하여 증폭 및 디지털신호로 변환하는 검출전극신호처리수단; 및제3여기스위칭부의 선택에 의하여 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로부터 이온신호를 검출하여 증폭 및 디지털신호로 변환하는 여기전극신호처리수단;을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 여기전극제어수단은 상기 컴퓨터의 제어 프로그램에 의해 임의파형을 발생 및 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 공급하는 제3, 제4제어신호발생부(11)(13);상기 고주파증폭기(7)로부터 증폭된 고주파신호 또는 제3제어신호발생부(11)로부터의 제어신호를 상기 컴퓨터 제어 프로그램에 의해 선택 출력하는 제1여기스위칭부(12);상기 고주파증폭기(7)로부터의 고주파신호 또는 제4제어신호발생부(13)로부터의 제어신호를 상기 컴퓨터 제어 프로그램에 의해 선택 출력하는 제2여기스위칭부(14); 및상기 제1, 제2여기스위칭부(12)(14)로부터 출력된 신호를 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로 각각 인가하는 제3여기스위칭부(15);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 여기전극신호처리수단은 상기 제3여기스위칭부(15)의 선택에 의하여 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로부터 이온신호를 검출하여 증폭하는 제1프리앰프(16)와, 상기 제1프리앰프(16)을 통해 증폭된 이온신호를 디지털신호로 변환하여 상기 컴퓨터로 출력하는 제1디지타이저(17)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 검출전극제어수단은 상기 제1, 제2제어신호발생부(21)(23)로부터 발생된 각 제어신호를 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)에 인가하거나, 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)으로부터 이온신호를 검출하여 상기 검출전극신호처리수단으로의 출력을 선택하는 제1,제2검출스위칭부(22)(24);로 구성하되,상기 검출전극신호처리수단은 상기 제1, 제2검출스위칭부(22)(24)로부터 출력된 이온신호를 증폭하는 제2프리앰프(25)와 제2프리앰프(25)로부터 증폭된 이온신호를 디지털신호로 변환하여 상기 컴퓨터로 출력하는 제2디지타이저(26)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치
5 5
이온트랩(6)에 주입된 이온이 이온 운동 하도록 컴퓨터의 제어프로그램에 의해 제1,제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 입력하고, 이온신호 검출을 위한 제1,제2검출전극(2-1)(2-2)에 제어신호를 인가함에 따라 이온의 위치를 조정하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치에 있어서,상기 컴퓨터의 제어 프로그램에 의해 이온의 위치를 조정하기 위하여 제어신호를 발생하여 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)에 인가하는 제1, 제2제어신호발생부(21)(23) 및 제1, 제2검출스위칭부(22)(24);상기 제1, 제2검출스위칭부(22)(24)를 통해 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)으로부터 검출된 이온신호를 증폭하는 제2프리앰프(25);상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 발생하여 인가하는 고주파발생부(7) 및 제1 내지 제3여기스위칭부(12)(14)(15); 및상기 제3여기스위칭부(15)를 통해 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로부터 검출된 이온신호를 증폭하는 제1프리앰프(16);를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어장치
6 6
이온트랩(6)에 주입된 이온이 이온 운동 하도록 컴퓨터의 제어프로그램에 의해 제1,제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 입력하고, 이온신호 검출을 위한 제1,제2검출전극(2-1)(2-2)에 제어신호를 인가함에 따라 이온의 위치를 조정하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법에 있어서,상기 이온트랩에 이온 주입시 상기 컴퓨터의 제어에 의하여 구동되는 제1 내지 제4제어신호발생부에서 발생된 제어신호가 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2) 및 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 각각 인가되어 상기 이온트랩 내의 이온의 위치가 중앙으로 조정되는 이온위치조정과정; 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 인가시키는 고주파인가과정; 및상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)으로부터 이온신호를 검출하는 이온신호검출과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 고주파인가과정에 부가하여 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 고주파신호를 인가시킨 후 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)에 상기 제1, 제2제어신호발생부(21)(22)로부터의 제어신호를 동시에 인가시켜 이온의 위치를 조정하는 2차이온위치조정과정을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법
8 8
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,상기 이온신호검출과정에 부가하여 상기 컴퓨터의 제어에 의하여 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로부터 이온신호를 검출하여 신호 증폭 및 디지털신호로 변환한 후 상기 컴퓨터로 출력하는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법
9 9
이온트랩에 주입된 이온이 이온 운동 하도록 제어신호 또는 고주파신호를 선택 입력하는 제1,제2여기전극(1-1)(1-2)과, 이온신호 검출을 위한 제1,제2검출전극(2-1)(2-2)을 컴퓨터(9)의 제어프로그램에 의해 제어신호를 공급함에 따라 이온의 위치를 조정하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법에 있어서,상기 이온트랩에 이온 주입이 이루어진 후 상기 컴퓨터의 제어에 의하여 상기 고주파신호가 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)에 인가되고, 상기 컴퓨터에 의해 구동되는 제1,제2제어신호발생부(21)(23)에서 발생된 각 제어신호가 상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)에 동시에 인가되어 상기 이온트랩 내의 이온의 위치가 중앙으로 조정되는 이온위치조정과정; 및상기 제1, 제2검출전극(2-1)(2-2)으로부터 이온신호를 검출하는 이온신호검출과정;을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 이온신호검출과정에 부가하여 상기 컴퓨터의 제어에 의하여 상기 제1, 제2여기전극(1-1)(1-2)으로부터 이온신호를 검출하여 신호 증폭 및 디지털신호로 변환한 후 상기 컴퓨터로 출력하는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호성능 향상 제어방법
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1 US08723112 US 미국 FAMILY
2 US20130112864 US 미국 FAMILY
3 WO2012081826 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 US2013112864 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US8723112 US 미국 DOCDBFAMILY
3 WO2012081826 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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