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저온 MRFM의 프로브 장치

  • 기술번호 : KST2015000867
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 나노 크기 이하의 영역에서 발현하는 시료의 고유특성을 극저온에서 관찰하는 저온 자기공명 힘 현미경(Magnetic Resonance Force Microscopy: MRFM)의 프로브 장치에 있어서, 측정하고자 하는 시료가 장착되고, 전자기파를 공급해서 시료의 특성을 외팔보로 측정하는 측정부와, 상기 측정부의 상측에 ㎚단위로 구동 제어 가능하게 구비된 상측 구동부와, 상기 측정부의 하측에 ㎚단위로 구동 제어 가능하게 구비된 하측 구동부와, 상기 상측 구동부의 상측에 구비되고, 상기 측정부의 진동을 방지하는 댐핑부와, 상기 댐핑부의 상측에 구비되고, 상기 측정부에서 연결된 전기회로를 제어측정부로 전기적으로 연결시키는 커넥션부와, 상기 측정부의 일측에 구비되고, 상기 측정부의 측정상태를 영상으로 촬영하여 제어측정부로 데이터를 송신하는 영상촬영부를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
Int. CL G01Q 60/52 (2010.01)
CPC G01Q 60/52(2013.01) G01Q 60/52(2013.01) G01Q 60/52(2013.01) G01Q 60/52(2013.01)
출원번호/일자 1020120157759 (2012.12.31)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-1415053-0000 (2014.06.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140704) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.12.31)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 원순호 대한민국 경남 창원시 의창구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이성재 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(선영특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2012-1094860-05
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.11.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.12.03 수리 (Accepted) 9-1-2013-0099383-53
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0886960-29
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0168153-47
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.02.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0168185-08
7 등록결정서
Decision to grant
2014.06.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0435014-42
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
나노 크기 이하의 영역에서 발현하는 시료의 고유특성을 극저온에서 관찰하는 저온 자기공명 힘 현미경(Magnetic Resonance Force Microscopy: MRFM)의 프로브 장치에 있어서,측정하고자 하는 시료가 장착되고, 전자기파를 공급해서 시료의 특성을 외팔보(Cantilever)로 측정하는 측정부와,상기 측정부의 상측에 ㎚단위로 구동 제어 가능하게 구비된 상측 구동부와,상기 측정부의 하측에 ㎚단위로 구동 제어 가능하게 구비된 하측 구동부와,상기 상측 구동부의 상측에 구비되고, 상기 측정부의 진동을 방지하는 댐핑부와,상기 댐핑부의 상측에 구비되고, 상기 측정부에서 연결된 전기회로를 제어측정부로 전기적으로 연결시키는 커넥션부와,상기 측정부의 일측에 구비되고, 상기 측정부의 측정상태를 영상으로 촬영하여 제어측정부로 데이터를 송신하는 영상촬영부를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 저온 MRFM의 프로브 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 측정부는,측정하고자 하는 시료가 장착된 외팔보와,상기 외팔보의 하측에서 외팔보의 움직임을 측정하고 광간섭계의 역할을 수행하며 상기 하측 구동부와 연동하는 광섬유(Optical fiber)와,상기 외팔보의 상측에서 하측에 위치한 시료의 특정영역을 지정하며, 상기 상측 구동부와 연동하는 자석과,상기 외팔보의 일측에 구비되고, 전자기파를 발생시키는 알에프 코일(RF coil)을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 저온 MRFM의 프로브 장치
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제 2 항에 있어서, 상기 영상촬영부는,상기 측정부의 측정상태를 관찰하는 헤드부와,상기 헤드부에서 촬영된 영상을 디지털 신호로 변환하여 제어측정부로 송신하는 소정의 회로소자로 구성된 바디부와,상기 제어측정부 일측에 구비되어 바디부에서 송신된 데이터를 영상으로 재현하는 디스플레이부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 저온 MRFM의 프로브 장치
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제 3 항에 있어서, 상기 헤드부는 극저온에 노출되고,상기 바디부는 상온분위기에 위치하며, 상기 바디부와 헤드부는 상호 전기적으로 연결된 것을 특징으로 하는 저온 MRFM의 프로브 장치
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제 4 항에 있어서, 상기 알에프 코일은 다중 공진주파수를 갖는 LC회로인 것을 특징으로 하는 저온 MRFM의 프로브 장치
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1 지식경제부 한국기계연구원 부설 재료연구소 주요사업 극한환경용 탄소-탄소복합소재 비파괴 평가기술 개발
2 지식경제부 한국기계연구원 부설 재료연구소 주요사업 녹색산업소재 고기능성 발현기구 정밀분석기반 고도화사업