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고효율 발광다이오드 제조방법

  • 기술번호 : KST2015001723
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 3차원 구조물을 이용한 발광 다이오드 제조방법을 개시한다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 기판위에 3차원 구조물을 형성한 후, 3차원 구조물 사이사이에 파티클을 형성함으로써 산란(scattering)효과에 의한 광추출 효율을 향상시킬 수 있다. 또한, 기판과 3차원 구조물을 손쉽게 분리시켜 기판을 재사용할 수 있는 기술적 특징이 있다.
Int. CL H01L 33/30 (2014.01) H01L 33/32 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020120040207 (2012.04.18)
출원인 전북대학교산학협력단, 서울바이오시스 주식회사
등록번호/일자 10-1373398-0000 (2014.04.08)
공개번호/일자 10-2013-0117233 (2013.10.25) 문서열기
공고번호/일자 (20140429) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020130045844;
심사청구여부/일자 Y (2012.04.18)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이인환 대한민국 전북 전주시 완산구
2 전대우 대한민국 전북 전주시 완산구
3 최주원 대한민국 경기 화성시
4 조한수 대한민국 전북 정읍시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준혁 대한민국 경기도 수원시 팔달구 중부대로 *** B동 *층(우만동, 신아빌딩)(유니크국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 전라북도 전주시 덕진구
2 서울바이오시스 주식회사 경기도 안산시 단원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.04.18 수리 (Accepted) 1-1-2012-0306981-59
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2012-5206243-46
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.02.07 수리 (Accepted) 9-1-2013-0009064-61
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0129438-18
6 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2013.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2013-0363514-66
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.04.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0363518-48
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0480432-23
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.09.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0828928-83
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.09.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-0828925-46
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-5126387-92
12 등록결정서
Decision to grant
2013.12.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0897863-56
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5089977-41
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2014-5110518-03
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-5013206-34
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
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번호 청구항
1 1
기판상에 GaN 계열 반도체층을 형성하는 단계;상기 GaN 계열 반도체층 상에 복수의 금속 나노 도트 마스크를 형성한 후 선택적으로 에칭하여 복수의 GaN 계열 3차원 구조물을 형성하는 단계;상기 복수의 GaN 계열 3차원 구조물 사이에 직경이 50㎚ 내지 1㎛인 SiO2 또는 SiNx 파티클을 형성하는 단계;상기 금속 나노 도트 마스크를 제거하여 상기 GaN 계열 3차원 구조물 상단에 GaN 표면을 노출시키는 단계;상기 노출된 GaN 표면을 씨드로 하여 제1반도체층을 재성장시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
2 2
삭제
3 3
제 1항에 있어서,상기 GaN 계열 반도체층은 u-GaN 또는 n-GaN 인 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
4 4
제 1항에 있어서,상기 GaN 계열 3차원 구조물은 마이크로 또는 나노사이즈의 로드 또는 필러(pillar)인 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
5 5
제 1항에 있어서,상기 GaN 계열 3차원 구조물의 높이는 100㎚ 내지 3㎛ 이고, 직경은 50㎚ 내지 1000㎚인 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
6 6
제 1항에 있어서,상기 GaN 계열 3차원 구조물의 간격은 100nm 내지 2㎛ 범위인 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
7 7
삭제
8 8
제 1항에 있어서,상기 3차원 구조물 상단에 형성되는 제1반도체층을 재성장시키는 단계는 에피탁시 측방과성장(ELOG)성장법을 사용하는 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
9 9
제 1항에 있어서,상기 제1반도체층을 재성장시키는 단계 후, 활성층 및 제2반도체층을 추가로 형성하는 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
10 10
제 1항에 있어서,기판상에 GaN 계열 반도체층을 형성하는 단계는, u-GaN층을 형성하는 단계, 도핑농도가 1×1018㎤ ~1×1020㎤ 인 고농도 n-GaN 층을 성장시킨 후 연속하여 u-GaN층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
11 11
제 10항에 있어서,상기 방법은, 제1반도체층을 재성장시키는 단계 후에 활성층 및 제2반도체층을 형성하는 단계;3차원 구조물 사이의 파티클을 제거하는 단계; 및도핑농도가 1×1018㎤ ~1×1020㎤ 인 고농도 n-GaN 계열 3차원 구조물만을 전기화학적 에칭 또는 건식 식각(dry etching)으로 제거하여 기판을 분리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 고효율 발광 다이오드의 제조방법
12 12
삭제
13 13
삭제
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR1020130117735 KR 대한민국 FAMILY
2 WO2013157875 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2013157875 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.