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단층촬영용 X선 현미경 시스템

  • 기술번호 : KST2015002133
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 X선 현미경 시스템에 관한 것으로, 특히 움직이는 시료에 대한 실시간 단층 영상 촬영이 가능하고, X선 피폭량을 대폭 줄일 수 있으며, 사방으로 X선을 방사하는 저가의 광원으로도 평행광을 유도할 수 있어 적은 비용으로도 시료의 선명한 단층 영상을 획득할 수 있는 단층촬영용 X선 현미경 시스템에 관한 것이다.
Int. CL G21K 7/00 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC G01N 23/046(2013.01)
출원번호/일자 1020110034285 (2011.04.13)
출원인 전남대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1185786-0000 (2012.09.19)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20121002) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.04.13)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전남대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전인수 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인아이엠 대한민국 서울특별시 강남구 봉은사로 ***, ***호 (역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전남대학교산학협력단 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2011-0271496-72
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.05.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0262112-36
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.05.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0368010-94
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2012-5157698-67
5 등록결정서
Decision to grant
2012.09.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0535519-30
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000058-61
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2015-5076218-57
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2016-5093177-51
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.03.30 수리 (Accepted) 4-1-2018-5056463-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시료를 중심으로 서로 이격되어 방사형으로 고정되는 다수 개의 X선 발생부들; 및상기 시료를 사이에 두고, 상기 X선 발생부들의 개수와 대응하는 개수로 상기 X선 발생부들과 대면하여 고정되며, 각각 대면하는 X선 발생부에서 출사되어 상기 시료를 통과한 X선만을 수광하여, 서로 다른 방향에서 상기 시료의 확대된 영상 데이터들을 획득하는 X선 검출부들;을 포함하고,X선 촬영시에 상기 X선 발생부들과 상기 X선 검출부들은 회전하지 않고 고정되어, 한번에 동시에 상기 시료의 영상데이터들을 획득하며,상기 X선 발생부들:은 각각X선을 사방으로 출사하는 광원;상기 광원의 전방에 구비되고, 상기 X선들 중 일부를 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 반사시키는 미러; 및상기 미러를 경유하는 상기 X선을 반사시킴으로써 단 파장이 되게 하는 반사 필터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
2 2
제 1 항에 있어서,상기 영상 데이터들을 입력받아 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 데이터 처리장치; 및상기 단층 영상 데이터를 단층 영상으로 표시하는 표시부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
3 3
제 2 항에 있어서,상기 데이터 처리장치:는상기 영상 데이터들을 상기 X선 검출부들로부터 입력받아 저장하는 데이터 저장부; 상기 영상 데이터들을 기반으로 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정하는 데이터 보간부; 및상기 데이터 저장부 및 상기 데이터 보간부의 영상 데이터들로부터 상기 시료의 단층 영상 데이터를 생성하는 영상 처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
4 4
제 3 항에 있어서,상기 데이터 보간부는 인접하는 상기 X선 검출부들의 영상 데이터를 산술평균하여 상기 X선 발생부들 사이의 위치에서의 영상 데이터들을 추정하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
5 5
제 1 항에 있어서,상기 미러는 서로가 소정 간격 이격되고 상기 X선이 적어도 일면을 조사하도록 배치되며, 각각에 반사된 X선이 서로 적층되어 일정한 두께 및 폭을 갖는 평행광이 되도록 유도하는 다수 개의 미러들로 구성되는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
6 6
제 1 항에 있어서,상기 광원과 상기 미러 사이에 구비되고, 상기 X선이 상기 미러로 집중되도록 상기 X선의 경로를 유도하는 포커싱 미러를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
7 7
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 X선 검출부:는 상기 시료를 투과한 상기 X선이 투영되는 검출막; 및상기 시료와 상기 검출막 사이에 배치되며, 메쉬 형태의 금속막으로 형성되는 투과 필터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
8 8
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 X선 검출부:는 상기 시료를 투과한 상기 X선의 산란 및 간섭을 억제하는 메쉬 형태의 금속막으로 이루어진 투과 필터;상기 투과 필터를 경유한 상기 X선을 검출하는 신틸레이터;상기 신틸레이터의 영상을 확대하기 위한 광학렌즈; 및상기 광학렌즈에 의해 확대된 영상을 촬상하기 위한 촬상소자;를 구비하는 것을 특징으로 하는 단층 촬영용 X선 현미경 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 전남대학교 방사선기술개발사업 X-선 산란 효과 보정을 통한 초고분해능 X-선 시스템의 개발과 획득한 초고해상도 영상을 이용한 새로운 비파괴 분석기법의 확립