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현미경 기술

  • 기술번호 : KST2015002234
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 탐침('프로브'라고도 한다)의 제조방법에 관한 것으로서, 특히 주사형 탐침 현미경(SPM; Scanning Probe Microscope)에 사용되는 주사 탐침의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 베이스와, 베이스로부터 연장되는 캔틸레버와, 상기 캔틸레버로부터 돌출되고 끝단이 뾰족한 중공형의 금속 미세팁을 구비하는 본체를 포함하며, 상기 미세팁의 뾰족한 끝단에는 빔이 통과할 수 있으며 그 크기가 통과하는 빔의 파장보다 작은 개구부가 형성되며, 상기 캔틸레버에는 상기 미세팁의 개구부와 연결되며 빔이 통과할 수 있고 상기 미세팁의 개구부보다 큰 통로구멍이 형성된 캔틸레버형 주사 탐침이 제공된다.주사 탐침, 캔틸레버, 통로구멍, 산화막, 지지체, 연장부, 개구부
Int. CL B82Y 40/00 (2011.01) C01B 31/02 (2006.01) G01Q 70/16 (.) H01J 37/26 (2006.01)
CPC G01Q 70/16(2013.01) G01Q 70/16(2013.01) G01Q 70/16(2013.01)
출원번호/일자 1020050128970 (2005.12.23)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-0722555-0000 (2007.05.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070528) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.12.23)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장원석 대한민국 대전 유성구
2 서영호 대한민국 대전 유성구
3 김재구 대한민국 대전 유성구
4 조성학 대한민국 대전 유성구
5 황경현 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 채윤 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, 역삼하이츠빌딩 ***호 (역삼동)(채윤국제특허법률사무소)
2 송호찬 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, 성지하이츠 III ***호 (역삼동)(송호찬국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2005-0758756-85
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.08.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.09.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0059911-03
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0716096-67
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.01.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0075903-94
6 등록결정서
Decision to grant
2007.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0210418-87
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
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번호 청구항
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캔틸레버형 주사 탐침을 제조하는 방법으로서,차례로 적층된 제1 실리콘 층, 제1 산화막, 제2 실리콘 층을 구비하는 SOI 웨이퍼를 준비하는 단계와,상기 SOI 웨이퍼의 제1 실리콘 층이 기초부와, 상기 기초부로부터 연장되며 가지부가 마련된 연장부를 갖는 돌출영역을 형성하도록 에칭하는 제1 에칭 단계와,상기 제1 실리콘 층의 기초부와 연장부를 갖는 영역을 덮는 제2 산화막을 형성하는 단계와,상기 제2 산화막과 제1 실리콘 층의 가지부와 상기 제1 산화막을 통과하며, 뾰족한 끝단이 상기 제2 실리콘 층에 마련되도록 연장되는 구멍을 형성하도록 에칭하는 제2 에칭 단계와,상기 구멍의 내벽면에 금속을 증착하여 끝단이 뾰족한 금속 증착막을 형성하는 단계와,상기 제1 실리콘 층의 가지부에 대응하는 영역이 노출되도록 상기 제2 산화막에 접착 웨이퍼를 접착시키는 단계와,상기 금속 증착막의 뾰족한 끝단이 노출되도록 상기 제2 실리콘 층과 제1 산화막층을 에칭하는 제3 에칭 단계와,상기 금속 증착막의 뾰족한 끝단에 나노 스케일의 개구부를 형성하는 단계를 포함하는 캔틸레버형 주사 탐침의 제조방법
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제9항의 제조방법에 있어서, 상기 제1 에칭 단계는 상기 돌출영역에 연장부가 다수 형성되도록 이루어지는 제조방법
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제10항의 제조방법에 있어서, 상기 제1 에칭 단계는 상기 돌출영역이 다수 형성되도록 이루어지는 제조방법
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제10항 또는 제11항의 제조방법에 있어서, 상기 접착 웨이퍼는 서로 분리된 다수의 분리부를 구비하며, 상기 다수의 분리부 각각은 상기 연장부에 대응하는 영역들 각각에 접착되는 제조방법
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제12항의 제조방법에 있어서, 상기 접착 웨이퍼의 각 분리부에 분리홈을 형성하는 단계를 더 포함하는 제조방법
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제13항의 제조방법에 있어서, 상기 분리홈을 형성하는 단계 전에 상기 접착 웨이퍼의 다수의 분리부들을 연결하는 테이프를 접착하는 단계를 더 포함하는 제조방법
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제14항의 제조방법에 있어서, 상기 제2 실리콘 층의 남아있는 부분들을 연결하는 테이프를 접착하는 단계를 더 포함하는 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.