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반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 시스템 및 반도체나노물질의 캐리어 타입의 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015002753
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 나노물질의 캐리어 타입을 신뢰성 있고 경제성 있게 측정할 수 있는 시스템 및 그 방법이 제공된다. 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 시스템에 있어서, 한 쌍의 마이크로 히터들은 반도체 나노물질에 각각 접촉되어 상기 반도체 나노물질 내에 온도 구배를 형성하기 위해서 서로 다른 온도로 가열된다. 그리고, 측정 부재는 상기 반도체 나노물질의 상기 온도 구배로 인한 제백 전압을 측정하기 위해 제공된다.반도체 나노물질, 캐리어 타입, 마이크로 히터, 제백 전압
Int. CL H01L 21/66 (2006.01.01)
CPC H01L 22/14(2013.01)
출원번호/일자 1020070017518 (2007.02.21)
출원인 전북대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0827819-0000 (2008.04.29)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080507) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.02.21)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이상권 대한민국 전북 전주시 덕진구
2 김태홍 대한민국 전북 전주시 덕진구
3 이승용 대한민국 전북 전주시 완산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0153839-77
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
2007.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2007-5019766-61
3 등록결정서
Decision to grant
2008.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0053775-12
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2010-5245806-20
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2012-5206243-46
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-5013206-34
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 나노물질에 각각 접촉되어 상기 반도체 나노물질 내에 온도 구배를 형성하기 위해서 서로 다른 온도로 가열된 한 쌍의 마이크로 히터들; 및상기 반도체 나노물질의 상기 온도 구배로 인한 제백 전압을 측정하기 위한 측정 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 시스템
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 측정 부재는, 상기 반도체 나노물질에 전기적으로 각각 연결된 한 쌍의 프로브들; 및상기 한 쌍의 프로브들에 연결된 전압계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 시스템
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 반도체 나노물질은 반도체 나노와이어 또는 반도체 튜브를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 시스템
4 4
반도체 나노물질에 서로 다른 온도로 가열된 한 쌍의 마이크로 히터들을 접촉시켜 상기 반도체 나노물질 내에 온도 구배를 형성하는 단계;상기 반도체 나노물질의 상기 온도 구배에 의한 제백 전압을 측정하는 단계; 및상기 제백 전압의 부호에 의해서 상기 반도체 나노물질의 캐리어 타입을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 제백 전압을 측정하는 단계는,상기 반도체 나노물질에 전기적으로 연결된 한 쌍의 프로브들 사이에 전압계를 연결하여 수행하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 방법
6 6
제 4 항에 있어서, 상기 반도체 나노물질은 반도체 나노와이어 또는 반도체 튜브를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 나노물질의 캐리어 타입 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.