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다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015002857
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법 및 그 장치에 관한 것으로서, 하나 또는 2개 이상의 광원으로부터 발생된 각기 다른 파장의 빛을 광원으로 사용하여 전반사형광을 유도함으로써, 두 개 이상의 단일분자에서 발생되는 빛을 실색, 실시간으로 검출함으로써 단일분자 검출 및 분자 상호 간의 작용 및 특성을 실시간으로 측정할 수 있다.
Int. CL C12Q 1/68 (2018.01.01) G01N 33/483 (2006.01.01)
CPC G01N 33/483(2013.01) G01N 33/483(2013.01) G01N 33/483(2013.01) G01N 33/483(2013.01)
출원번호/일자 1020050055838 (2005.06.27)
출원인 전북대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0760315-0000 (2007.09.13)
공개번호/일자 10-2007-0000255 (2007.01.02) 문서열기
공고번호/일자 (20071005) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.06.27)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 전북 전주시 완산구
2 김대광 대한민국 전북 전주시 완산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이승현 대한민국 전라북도 전주시 덕진구 기린대로 ***, 삼전빌딩 *층 이승현국제특허법률사무소 (덕진동*가)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전북대학교산학협력단 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2005.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2005-0343249-26
2 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2005.06.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0350792-61
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2006.06.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2006.07.11 수리 (Accepted) 9-1-2006-0042511-56
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0570030-85
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2006.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0878997-97
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2006.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0977084-72
8 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2007.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2007-0076941-97
9 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2007.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2007-0171753-61
10 의견서
Written Opinion		 2007.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2007-0242333-42
11 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2007.03.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0242332-07
12 등록결정서
Decision to grant		 2007.07.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0381814-19
13 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status		 2007.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0602173-88
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2010-5245806-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2012-5206243-46
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2016-5013206-34
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.02.27 수리 (Accepted) 4-1-2019-5038917-11
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146986-17
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5146985-61
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.10.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5219602-91
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.07.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5149086-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전반사형광을 위한 2개 이상의 파장의 빛을 시료에 조사하는 단계(a);광학필터, 렌즈, 거울, 프리즘, 웨이브가이드, 셔터 중 어느 하나 또는 그 이상의 광학 장치를 이용하여 상기 단계(a)에서 조사된 빛의 입사각을 조정하여 상기 시료의 한 영역에서 전반사형광을 일으키는 단계(b); 및상기 단계(b)에 의하여 전반사형광이 일어난 상기 시료의 한 영역에 포함되어 있는 하나 또는 그 이상의 단일분자로부터 발생된 빛을 검출하는 단계(c)를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 단계(a)의 2개 이상의 파장의 빛은 검출 대상인 하나 또는 그 이상의 단일분자의 형광 다이와 관련된 파장을 가지는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 단계(a)의 2개 이상의 파장의 빛은 하나 또는 그 이상의 광원으로부터 발생되는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
4 4
청구항 1에 있어서, 2개 이상의 파장의 빛을 조사하는 상기 단계(a)는, 광표백 효과를 줄이기 위하여 단일분자 측정 시에만 조사하는 것을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 단계(b)는 다면 프리즘을 이용하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 단계(b)는 이색성 거울 또는 웨이브 가이드로서 역할을 하는 유리 또는 빛을 반사하는 재질의 폴리머를 이용하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 단계(b)는 TIRFM용 대물렌즈를 이용하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
8 8
청구항 1에 있어서, 상기 단계(c)의 검출 과정은 CCD 또는 PMT를 이용하는 것을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 방법
9 9
전반사형광을 위한 2개 이상의 파장의 빛을 시료에 조사하는 수단;상기 조사 수단에 의하여 조사된 빛의 입사각을 조정하여 상기 시료의 한 영역에서 전반사형광을 일으키기 위한 수단으로서, 광학필터, 렌즈, 거울, 프리즘, 웨이브가이드 또는 셔터 중 어느 하나 또는 그 이상으로 구성된 광학 장치; 및상기 광학 장치에 의한 전반사형광에 의하여 상기 시료의 한 영역에 포함되어 있는 하나 또는 그 이상의 단일분자로부터 발생된 빛을 검출하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
10 10
청구항 9에 있어서, 상기 조사 수단이 조사하는, 2개 이상의 파장의 빛은 검출 대상인 하나 또는 그 이상의 단일분자의 형광 다이와 관련된 파장을 가지는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
11 11
청구항 9에 있어서, 상기 조사 수단은 하나 또는 그 이상의 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
12 12
청구항 9에 있어서, 상기 조사 수단은, 광표백 효과를 줄이기 위하여 단일분자 측정시에만 조사하도록 셔터 장치를 더 구비하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
13 13
청구항 9에 있어서, 상기 광학 장치는, 다면 프리즘인 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
14 14
청구항 9에 있어서, 상기 광학 장치는, 이색성 거울이나 웨이브 가이드로서 역할을 하는 유리 또는 빛을 반사하는 재질의 폴리머 중 어느 하나를 포함하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
15 15
청구항 9에 있어서, 상기 광학 장치는 TIRFM용 대물렌즈를 포함하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
16 16
청구항 9에 있어서, 상기 검출 수단은 CCD 또는 PMT 중 어느 하나를 포함하는 것임을 특징으로 하는 다중파장 전반사형광기술을 이용한 단일분자 검출 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.