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엑스선을 이용하여 물질의 구성성분을 분석하기 위해 사용되는 사다리꼴(trapezoidal)필터를 통해 사다리꼴 형태로 검출신호를 출력하는 출력단계;상기 출력된 검출신호 값을 저장하기 위한 레지스터를 생성하는 레지스터 생성단계;상기 출력된 검출신호 값을 상기 레지스터에 저장하는 저장단계;상기 레지스터에 저장된 검출신호 값을 미분하여 미분된 값의 부호를 판별하여 증가, 감소, 정체 중 어느 하나의 구간인지 여부를 식별하기 위한 구분단계; 및상기 구간은 상승레지스터, 정체레지스터, 하강레지스터 중 어느 하나로 식별되며, 상기 정체레지스터에 저장된 검출신호의 값을 인식하여 최대값을 검출하는 검출단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 이용하는 형광분석의 최대값 검출 방법
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제 1항에 있어서, 상기 저장단계는상기 미분을 통하여 식별된 하강레지스터 및 정체레지스터의 순서로 저장하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 이용하는 형광분석의 최대값 검출 방법
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제 1항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 구분단계는상기 미분된 값을 비트로 인식하는 비트 인식단계;상기 인식된 비트의 최상위 비트만을 선택적으로 추출하여 상기 미분된 값을 '1' 또는 '0'으로 식별하는 최상위 비트 적용단계; 및상기 최상위 비트 적용을 통해 식별된 값을 AND연산하고, AND연산의 변환값이 '1'로 출력되는 구간까지의 검출신호가 저장되어 있는 레지스터를 하강레지스터로 구분하는 하강레지스터 구분단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 이용하는 형광분석의 최대값 검출 방법
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제 3항에 있어서, 상기 하강레지스터 구분단계 이후
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제 1 항에 있어서, 상기 검출단계는 정체레지스터 중 소정의 구간을 선택하여 평균값을 계산하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 이용하는 형광분석의 최대값 검출 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 검출단계는 상기 손실레지스터를 제외한 후 평균값을 계산하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 이용하는 형광분석의 최대값 검출 방법
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엑스선을 발광하는 엑스선발광기; 측정하고자 하는 물질에 상기 엑스선이 조사된 후 반사된 형광엑스선을 수광하고, 상기 형광엑스선의 에너지를 검출하는 검출기; 및 상기 검출된 에너지를 분석하여 상기 물질에 포함된 성분을 분석하는 신호처리기;를 포함하는 엑스선 형광분석장치에 있어서,상기 검출기는,상기 물질의 성분을 분석하기 위해 사용되는 필터를 통해 사다리꼴 형태로 검출신호를 출력하는 신호출력부;상기 출력된 검출신호 값을 저장하기 위한 레지스터;상기 레지스터에 저장된 검출신호 값을 미분하여 미분된 값의 부호를 판별하여 증가, 감소, 정체 중 어느 하나의 구간인지 여부를 식별하기 위한 식별부; 및상기 구간은 상승레지스터, 정체레지스터, 하강레지스터 중 어느 하나로 식별되며, 상기 정체레지스터에 저장된 검출신호의 값을 검출하는 검출부; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 형광분석장치
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제 7 항에 있어서, 상기 레지스터는 상기 하강레지스터와 정체레지스터 사이에는 상기 하강레지스터와 정체레지스터의 경계점에서 발생하는 휘어짐에 따른 오차값을 처리하기 위한 소정의 손실레지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 형광분석장치
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제 8 항에 있어서,상기 검출부는 상기 손실레지스터를 제외한 정체레지스터 중 상기 손실레지스터와 인접한 소정의 구간을 선택하여 평균값을 계산하는 것을 특징으로 하는 엑스선을 형광분석장치
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