| 1 |
1
시편의 일단에 접촉되는 제1 탐촉자에 신호를 입력하는 신호 입력 단계;기본파를 필터링 하는 제1 밴드패스필터 및 제2 고조파를 필터링 하는 제2 밴드패스필터를 이용하여 상기 시편의 타단에 접촉되는 제2 탐촉자로부터 출력되는 신호를 필터링 하며, 상기 제1 밴드패스필터 및 제2 밴드패스필터는 아날로그 필터로 구성되는 필터링 단계;상기 제1 밴드패스필터의 출력단에 연결되며 기본파를 증폭하는 제1 증폭기 및 상기 제2 밴드패스필터의 출력단에 연결되며 제2 고조파를 증폭하는 제2 증폭기를 이용하여 상기 필터링 단계를 거친 신호를 증폭시키는 증폭 단계;상기 증폭 단계를 거친 신호의 전압을 측정하는 전압 측정 단계;상기 제2 탐촉자에 대한 보정함수를 계산하는 보정함수 계산 단계;상기 보정함수 계산 단계에서 계산한 제2 탐촉자에 대한 보정함수와 상기 전압 측정 단계에서 계산한 전압을 이용하여 기본파와 제2 고조파의 진폭을 계산하는 진폭 계산 단계; 및상기 진폭 계산 단계에서 계산한 기본파와 제2 고조파의 진폭을 이용하여 상기 시편의 비선형 파라미터를 계산하는 비선형 파라미터 계산 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 신호 입력 단계는 신호 발생기에서 발생한 신호를 전력 증폭기 및 로우패스필터에 순차적으로 통과시켜 상기 제1 탐촉자를 통하여 상기 시편에 입력하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 제1 및 제2 증폭기는 중간주파수 증폭기(Intermediate Frequency Amplifier)인 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 4 |
4
제1항에 있어서,상기 진폭 계산 단계는 아래의 식을 이용하여 기본파 성분의 절대변위진폭 및 제2 고조파 성분의 절대변위진폭을 계산하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 5 |
5
제4항에 있어서,상기 제2 탐촉자에 대한 보정함수는 아래의 식을 이용하여 계산하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 6 |
6
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 비선형 파라미터 계산 단계는 아래의 식을 이용하여 상기 시편의 비선형 파라미터를 계산하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 방법
|
| 7 |
7
시편의 일단에 접촉되는 제1 탐촉자에 입력하는 신호 입력부;기본파를 필터링 하는 제1 밴드패스필터 및 제2 고조파를 필터링 하는 제2 밴드패스필터를 이용하여 상기 시편의 타단에 접촉되는 제2 탐촉자로부터 출력되는 신호를 필터링 하며, 상기 제1 밴드패스필터 및 제2 밴드패스필터는 아날로그 필터로 구성되는 필터링 부;상기 제1 밴드패스필터의 출력단에 연결되며 기본파를 증폭하는 제1 증폭기 및 상기 제2 밴드패스필터의 출력단에 연결되며 제2 고조파를 증폭하는 제2 증폭기를 이용하여 상기 필터링 부를 통과한 신호를 증폭시키는 신호 증폭부;상기 신호 증폭부를 통과한 신호의 전압을 측정하는 전압 측정부;상기 제2 탐촉자에 대한 보정함수를 계산하는 보정함수 계산부;상기 보정함수 계산부에서 계산한 제2 탐촉자에 대한 보정함수와 상기 전압 측정부에서 계산한 전압을 이용하여 기본파와 제2 고조파의 진폭을 계산하는 진폭 계산부; 및상기 진폭 계산부에서 계산한 기본파와 제2 고조파의 진폭을 이용하여 상기 시편의 비선형 파라미터를 계산하는 비선형 파라미터 계산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 시스템
|
| 8 |
8
제7항에 있어서,상기 신호 입력부는 신호 발생기에서 발생한 신호를 전력 증폭기 및 로우패스필터에 순차적으로 통과시켜 상기 제1 탐촉자를 통하여 상기 시편에 입력하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 시스템
|
| 9 |
9
제7항에 있어서,상기 제1 및 제2 증폭기는 중간주파수 증폭기(Intermediate Frequency Amplifier)인 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 시스템
|
| 10 |
10
제7항에 있어서,상기 보정함수 계산부는 아래의 식을 이용하여 제2 탐촉자에 대한 보정함수를 계산하는 것을 특징으로 하는 비선형 파라미터 측정 시스템
|
