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N개의 초음파 센서가 배열된 형상 가변형 어레이 트랜스듀서가 피검사물의 평면 표면 또는 굴곡진 표면에 밀착되며,상기 N개의 초음파 센서 중 적어도 하나의 초음파 센서로부터 상기 피검사물을 향하여 제1 신호가 방사되고,상기 피검사물의 결함에서 반사되어 상기 N개의 초음파 센서로 입수되는 제2 신호가 수신되며,복소 영역에서 상기 제2 신호와 180°의 위상차를 갖도록 시간 역전 처리된 제3 신호가 상기 N개의 초음파 센서로부터 상기 피검사물을 향하여 동시에 재방사되고,상기 결함에서 재반사되어 상기 N개의 초음파 센서로 입수되는 제4 신호가 재수신되며,주파수 영역의 상기 제4 신호를 시간 영역 신호로 변환한 제5 신호로부터 상기 결함의 위치를 검출하는 자동 빔 집속 장치
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제6항에 있어서,상기 제5 신호의 시간값에 따른 진폭값을 콘트라스트로 표현하는 결함 영상을 디스플레이하고,상기 제5 신호의 시간값은 상기 결함 영상의 픽셀 좌표값에 대응되며,상기 결함 영상에서 상기 콘트라스트가 주변보다 큰 픽셀 좌표값을 읽으면 상기 결함의 위치가 검출되는 자동 빔 집속 장치
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N개의 초음파 센서가 배열된 형상 가변형 어레이 트랜스듀서를 피검사물의 평면 표면 또는 굴곡진 표면에 밀착시키고, 상기 N개의 초음파 센서 중 적어도 하나의 초음파 센서를 가진시켜 초음파를 상기 피검사물에 방출하는 제1 단계;상기 피검사물의 결함에서 반사되는 산란파를 상기 N개의 초음파 센서에서 수신하는 제2 단계;상기 N개의 초음파 센서에 입수된 파형을 각 초음파 센서별 시간 지연량 차이를 근거로 해서 시간 역전 처리하고, 상기 N개의 초음파 센서는 상기 시간 역전 처리된 새로운 파형을 동시에 방사하는 제3 단계;상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사되어 상기 N개의 초음파 센서로 입수되는 신호를 획득하는 제4 단계;상기 제4 단계에서 획득된 주파수 영역 신호를 시간 영역 신호로 복원하는 제5 단계; 를 포함하고,상기 제5 단계에서 입수된 상기 시간 영역 신호로부터 상기 결함의 위치를 검출하는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 제5 단계에서 복원된 상기 시간 영역 신호의 진폭값을 콘트라스트로 표현하는 결함 영상을 디스플레이하고, 상기 시간 영역 신호의 시간값을 상기 결함 영상의 픽셀 좌표값에 대응시키며, 상기 결함 영상에서 상기 콘트라스트가 주변보다 큰 픽셀 좌표값을 읽어서 상기 결함의 위치를 검출하는 제6 단계; 를 더 포함하는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 어레이 트랜스듀서에 배열되는 각각의 초음파 센서는 사각 평면 형상이며, 상기 사각 평면 형상을 갖는 상기 초음파 센서에서 방사되는 초음파의 속도는 평면파의 속도로 근사되는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 제1 단계에서 m번째 초음파 센서로부터 상기 결함을 향하여 방사되는 초음파의 속도 V(rm,w)는,상기 m번째 초음파 센서의 출력 B(w) 및 회절 계수 C(rm, a1, a2, w)를 곱한 항을 진폭으로 하고, P-파형(P-wave)의 파형수(wave number) k에 m번째 초음파 센서로부터 상기 결함에 이르는 거리 rm 을 곱한 항을 위상으로 하는 주파수 영역 신호인 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 제2 단계에서 n번째 초음파 센서가 수신한 초음파의 속도 Vn(rn,w)는,상기 제1 단계에서 상기 초음파 센서가 방사한 초음파 속도 V(rm,w)에 회절 계수 Cn(rn, a1, a2, w)를 곱한 항을 진폭으로 하고, P-파형(P-wave)의 파형수(wave number) k에 상기 n번째 초음파 센서로부터 상기 결함에 이르는 거리 rn 을 곱한 항을 위상으로 하는 주파수 영역 신호인 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 제3 단계에서 상기 N개의 초음파 센서가 상기 시간 역전 처리된 파형을 동시에 방사할 때 상기 어레이 트랜스듀서의 전체 빔 속도 Vtotal(w)은,상기 제2 단계에서 n번째 초음파 센서가 수신한 초음파의 속도 Vn(rn,w)의 공액 복소수인 V*n(rn, w)에 회절 계수 Cm(rm, a1, a2, w)를 곱한 항을 진폭으로 하고, P-파형(P-wave)의 파형수(wave number) k에 m번째 초음파 센서로부터 결함에 이르는 거리 rm 을 곱한 항을 위상으로 하는 주파수 영역 신호인 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법
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제8항에 있어서,상기 제4 단계에서 상기 결함으로부터 반사되어 n번째 초음파 센서로 입수되는 신호 Hn(rn, w)는,상기 제3 단계에서 상기 N개의 초음파 센서가 상기 시간 역전 처리된 파형을 동시에 방사할 때 상기 어레이 트랜스듀서의 전체 빔 속도 Vtotal(w)에 회절 계수 C(rn, a1, a2, w)를 곱한 항을 진폭으로 하고, P-파형(P-wave)의 파형수(wave number) k에 상기 n번째 초음파 센서로부터 결함에 이르는 거리 rn 을 곱한 항을 위상으로 하는 주파수 영역 신호인 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 방법
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N개의 초음파 센서가 배열된 형상 가변형 어레이 트랜스듀서를 피검사물의 평면 표면 또는 굴곡진 표면에 밀착시키고, 상기 피검사물의 결함에서 반사되어 상기 초음파 센서로 입수되는 주파수 영역 신호 Hn 을 푸리에 역변환하여 얻은 시간 영역 신호 hn 을 구하며,수평 좌표축을 시간값으로 놓고 수직 좌표축을 상기 초음파 센서에 입수된 신호의 진폭값으로 놓아 상기 hn 의 파형을 획득하고,상기 hn 의 파형에서 상기 시간값을 픽셀 좌표값으로 표현하고 상기 진폭값을 콘트라스트로 표현하는 결함 영상을 획득하며,상기 결함 영상에서 상기 콘트라스트가 주변보다 큰 픽셀 좌표값을 읽어 상기 결함의 위치를 검출하는 비파괴 검사 방법
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