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피검사물을 향하여 제1 신호의 초음파를 방사하는 제1 초음파 센서;상기 제1 초음파 센서에 연결되어 상기 제1 초음파 센서의 신호 입출력을 제어하는 제1 신호부;상기 제1 신호가 상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사된 제2 신호를 수신하는 제2 초음파 센서;상기 제2 초음파 센서에 연결되어 제2 초음파 센서의 신호 입출력을 제어하는 제2 신호부; 상기 제2 신호에서 비선형 성분의 파형을 추출하고, 상기 추출된 비선형 성분을 시간 역전 처리한 제3 신호를 생성하는 제3 신호부;상기 제3 신호부에 연결되며 상기 제3 신호부에서 생성된 상기 제3 신호를 상기 피검사물로 방사하는 제3 초음파 센서;상기 제3 신호가 상기 피검사물을 통과한 제4 신호를 입수하는 제4 초음파 센서;상기 제4 초음파 센서와 연결되며, 상기 제4 신호의 피크 진폭(peak amplitude)을 읽어 결함의 유무 또는 존재 위치를 검출하는 제4 신호부; 를 포함하는 초음파 비파괴 검사 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 초음파 센서 및 상기 제3 초음파 센서의 중심 주파수는 상기 제1 초음파 센서의 중심 주파수의 k배 또는 1/m배(여기서, k 및 m은 양의 정수이다)인 것을 특징으로 하는 초음파 비파괴 검사 장치
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제2항에 있어서,상기 제2 초음파 센서 및 상기 제3 초음파 센서는 동일한 것으로서 초음파의 송신 및 수신을 겸할 수 있는 송수신 겸용 초음파 센서인 것을 특징으로 하는 초음파 비파괴 검사 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 초음파 센서의 신호 수신 시간은 상기 제1 초음파 센서의 신호 송신 시간보다 더 긴 것을 특징으로 하는 초음파 비파괴 검사 장치
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제1항에 있어서,상기 제3 초음파 센서가 상기 제3 신호를 계속해서 방사하는 동안, 상기 제4 초음파 센서를 상기 피검사물의 표면에 접촉시키고, 상기 제4 초음파 센서를 이동시키면서 각 위치에서 상기 제4 신호를 수신하며, 상기 제4 신호의 피크 진폭을 읽어 상기 결함의 유무 또는 존재 위치를 검출하는 초음파 비파괴 검사 장치
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6
제1항에 있어서,상기 제1 초음파 센서, 상기 제2 초음파 센서, 상기 제3 초음파 센서 중 적어도 하나는 복수의 초음파 센서가 배열된 어레이 트랜스듀서인 것을 특징으로 하는 초음파 비파괴 검사 장치
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피검사물을 향하여 제1 신호를 방사하고,상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사된 제2 신호를 기준값 이상의 시간동안 입수하며,주파수 영역에서 상기 제2 신호의 저조파 또는 고조파의 피크값의 하한치가 입수되는 조건을 만족하는 상기 제2 신호의 입수 시간의 최소값을 상기 기준값으로 설정하는 초음파 비파괴 검사 장치
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제1 초음파 센서로부터 피검사물을 향하여 제1 신호를 방사하는 제1 신호부;상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사된 제2 신호를 제2 초음파 센서로 수신하는 제2 신호부;상기 제2 신호로부터 비선형 성분의 파형을 추출하고 상기 추출된 비선형 성분을 시간 역전 처리한 제3 신호를 제3 초음파 센서를 통하여 피검사물에 방사하는 제3 신호부;상기 제3 신호가 계속해서 방사되는 동안 상기 제2 초음파 센서 또는 상기 제3 초음파 센서와 동일한 중심 주파수를 갖는 제4 초음파 센서를 상기 피검사물의 표면에 접촉시키고 상기 제4 초음파 센서를 이동시킬 때 각 위치에서 수신되는 제4 신호를 입수하는 제4 신호부;상기 제4 신호의 피크 진폭을 기록하여 결함의 유무 또는 위치를 검출하는 제어부; 를 포함하는 초음파 비파괴 검사 장치
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송신용 초음파 센서, 송수신 겸용 초음파 센서, 수신용 초음파 센서 중 적어도 하나를 포함하고, 상기 송신용 초음파 센서와 동일한 중심 주파수를 갖는 버스트형(burst type) 신호인 제1 신호가 상기 송신용 초음파 센서로부터 피검사물에 방사되며,상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사된 제2 신호는 기준값 이상의 시간에 걸쳐 상기 송수신 겸용 초음파 센서로 수신되고,상기 송수신 겸용 초음파 센서에 수신된 상기 제2 신호를 변환하여 주파수 스펙트럼을 구하며,주파수 영역에서 윈도우 함수를 이용하여 상기 주파수 스펙트럼으로부터 저조파 또는 고조파 스펙트럼을 추출하고,상기 저조파 또는 고조파 스펙트럼을 시간 역전 처리한 다음 시간 영역의 신호로 역변환시킨 제3 신호를 구하며, 상기 제3 신호를 상기 송수신 겸용 초음파 센서의 입력 신호로 하여 상기 피검사물을 향하여 재방사하고,상기 제3 신호가 재방사되는 동안 상기 송수신 겸용 초음파 센서와 동일한 중심 주파수를 갖는 상기 수신용 초음파 센서를 상기 피검사물의 표면에 접촉시키며,상기 수신용 초음파 센서를 이동시키면서 각 위치에서 제4 신호를 수신하고,상기 제4 신호에서 피크 진폭을 읽어 결함의 유무 또는 위치를 검출하는 초음파 비파괴 검사 장치
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송신용 초음파 센서로부터 피검사물을 향하여 제1 신호를 방사하는 제1 단계;상기 피검사물의 결함 또는 경계면에서 반사된 제2 신호를 송수신 겸용 초음파 센서로 입수하는 제2 단계;상기 제2 신호에서 비선형 성분의 파형을 추출하고 상기 추출된 비선형 성분 을 시간 역전 처리한 제3 신호를 상기 송수신 겸용 초음파 센서를 통하여 상기 피검사물에 재방사하는 제3 단계;상기 송수신 겸용 초음파 센서와 동일한 중심 주파수를 갖는 수신용 초음파 센서를 상기 피검사물의 표면에 접촉시키고 상기 수신용 초음파 센서를 이동시키면서 각 위치별로 제4 신호를 입수하며 상기 제4 신호의 피크 진폭을 토대로 결함의 유무 또는 존재 위치를 검출하는 제4 단계; 를 포함하는 초음파 비파괴 검사 방법
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