맞춤기술찾기

이전대상기술

기구 변형 측정을 위한 광학시스템

  • 기술번호 : KST2015012087
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저가의 비용으로 방사선 진단 장치의 변위를 효율적으로 측정할 수 있는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템에 관한 것으로 메인프레임; 상기 메인프레임으로부터 회전가능하게 설치되는 회전 프레임; 상기 회전 프레임 상에 설치되며, 엑스선(X-Ray)를 방출하는 엑스선 소스와 상기 엑스선 소스를 마주보게 배치되어 상기 엑스선을 제공받는 엑스선 디텍터;를 구비하는 방사선 진단부; 상기 엑스선 소스 측에 장착되며, 상기 엑스선 경로와 나란한 광경로를 따라 광을 방출하는 광원; 상기 엑스선 디텍터 측에 장착되며, 상기 광원으로부터 방출되는 광을 제공받는 수광부;를 포함하며, 상기 방사선 진단부가 작동되는 동안, 상기 수광부에 의해 검출되는 상기 광의 변위를 통해 상기 엑스선 디텍터에 도달하는 상기 엑스선의 변위를 측정하는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템이 제공된다.
Int. CL A61B 6/00 (2006.01)
CPC A61B 6/588(2013.01) A61B 6/588(2013.01) A61B 6/588(2013.01) A61B 6/588(2013.01)
출원번호/일자 1020140024135 (2014.02.28)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1476250-0000 (2014.12.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20141226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.02.28)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 구자춘 대한민국 서울특별시 서초구
2 류성수 대한민국 제주특별자치도 제주시
3 이혁진 대한민국 경상남도 창원시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 나승택 대한민국 서울특별시 서초구 양재천로**길 **, *층 (양재동, 대화빌딩)(무일국제특허법률사무소)
2 조영현 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***(도곡동, 은하수빌딩) *층(특허사무소시선)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0201289-67
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-0420854-80
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2014.05.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2014.05.09 수리 (Accepted) 9-1-2014-0034996-19
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2014-0660971-86
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0574826-70
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-0898289-14
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0898299-71
9 등록결정서
Decision to grant
2014.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0863564-14
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
메인프레임;상기 메인프레임으로부터 회전가능하게 설치되는 회전 프레임;상기 회전 프레임 상에 설치되며, 엑스선(X-Ray)를 방출하는 엑스선 소스와 상기 엑스선 소스를 마주보게 배치되어 상기 엑스선을 제공받는 엑스선 디텍터;를 구비하는 방사선 진단부;상기 엑스선 소스 측에 장착되며, 상기 엑스선 경로와 나란한 광경로를 따라 광을 방출하는 광원;상기 엑스선 디텍터 측에 장착되며, 상기 광원으로부터 방출되는 광을 제공받는 수광부;를 포함하며,상기 방사선 진단부가 작동되는 동안, 상기 수광부에 의해 검출되는 상기 광의 변위를 통해 상기 엑스선 디텍터에 도달하는 상기 엑스선의 변위를 측정하는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
2 2
제 1항에 있어서,상기 메인 프레임은 높이조절이 가능하게 마련되는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
3 3
제 1항에 있어서,상기 회전 프레임은 원형, 타원형 또는 다각형으로 마련되는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
4 4
제 3항에 있어서,상기 엑스선 소스는 상기 회전 프레임의 중심을 향하여 엑스선을 방출하는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
5 5
제 4항에 있어서,상기 방사선 진단부는 복수개로 마련되며, 각각의 엑스선 소스로부터 방출되는 엑스선은 상기 회전 프레임의 중심 영역에서 교차되는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
6 6
제 1항에 있어서,상기 광원으로부터 방출되는 광은 레이저인 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
7 7
제 1항에 있어서,상기 광원은 상기 광원으로부터 방출되는 광의 광경로와 수직인 가상의 평면을 따라 이동가능하게 마련되는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
8 8
제 1항에 있어서,상기 수광부는,상기 광원으로부터 방출되는 광을 통과시키는 빔 스플리터; 상기 빔 스플리터를 통과한 광의 위치를 검출할 수 있도록 상기 빔 스플리터를 통과한 광을 제공받고 반사하는 타겟면; 상기 타겟면으로부터 반사된 광을 제공받는 광검출부;를 포함하는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
9 9
제 8항에 있어서,상기 타겟면은 상기 빔스플리터로부터 제공되는 광을 산란시키며,상기 빔스플리터는 상기 타겟면으로부터 산란된 광을 상기 광검출부 측으로 반사시키는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
10 10
제 8항에 있어서,상기 광검출부는 상기 빔 스플리터로부터 멀어지거나 근접하는 방향으로 이동가능하게 마련되는 방사선 진단 장치의 변위 측정 시스템
11 11
삭제
12 12
삭제
13 13
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지경부 성균관대학교 산학협력 융합연구사업단 O-arm 기구 매커니즘 분석 및 제어기술 개발