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황화 텅스텐층 형성 방법 및 황화 텅스텐층 형성 장치

  • 기술번호 : KST2015012899
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 황화 텅스텐층 형성 방법 및 황화 텅스텐층 형성 장치에 관한 것으로, 황화 텅스텐층 형성 방법은, 원자층 증착(Atomic Layer Deposition)에 의하여 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 방법으로서, 기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체와 황화 수소를 포함하는 반응물을 반응시켜 기판상에 황화 텅스텐층을 형성하는 단계를 포함한다.
Int. CL C23C 16/455 (2006.01) C23C 16/448 (2006.01) C23C 16/06 (2006.01)
CPC C23C 16/448(2013.01) C23C 16/448(2013.01) C23C 16/448(2013.01) C23C 16/448(2013.01) C23C 16/448(2013.01) C23C 16/448(2013.01)
출원번호/일자 1020140000317 (2014.01.02)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1463105-0000 (2014.11.12)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20141204) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.01.02)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형준 대한민국 서울 영등포구
2 이원선 대한민국 인천 계양구
3 박주상 대한민국 서울 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-0003029-14
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.01.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-0042482-32
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-0380578-55
4 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2014.04.23 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2014.04.29 수리 (Accepted) 9-1-2014-0034397-70
6 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2014.05.08 수리 (Accepted) 9-1-2014-0034884-04
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0373244-04
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2014-0718786-28
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.07.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0718787-74
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
11 등록결정서
Decision to grant
2014.09.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0658329-37
12 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2015-0082335-01
13 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2015-0198952-93
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번호 청구항
1 1
원자층 증착(Atomic Layer Deposition)에 의하여 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 방법으로서,기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체와 황화 수소를 포함하는 반응물을 반응시켜 기판상에 황화 텅스텐층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는,상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체를 상기 기판상에 공급하는 단계; 및상기 황화 수소를 포함하는 반응물을 상기 기판상에 공급하는 단계를 포함하며,상기 전구체를 공급하는 단계는,챔버 내에서의 상기 기화된 텅스텐 클로라이드의 분압이 0
2 2
제1 항에 있어서,고체 상태의 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시키는 단계를 더 포함하는 황화 텅스텐층 형성 방법
3 3
제2 항에 있어서,상기 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시키는 단계는, 상기 텅스텐 클로라이드를 60℃ 이상, 100℃ 이하 온도로 가열하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 생성하는 황화 텅스텐층 형성 방법
4 4
삭제
5 5
제1 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 상기 전구체를 공급하는 단계 및 상기 반응물을 공급하는 단계를 복수 회 반복하여 상기 기판상에 적어도 하나의 황화 텅스텐 분자층을 포함하는 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 방법
6 6
삭제
7 7
제1 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 상기 황화 텅스텐층을 이루는 각 황화 텅스텐 분자층의 두께 편차가 0nm 초과, 0
8 8
제1 항에 있어서,상기 전구체를 공급하는 단계는, 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 단계를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 방법
9 9
제8 항에 있어서,상기 비활성 가스는 아르곤 가스 및 질소 가스 중의 적어도 하나를 포함하고,상기 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 단계는, 상기 비활성 가스의 상기 챔버 내에서의 유량이 10sccm 이상, 20sccm 이하가 되도록, 상기 비활성 가스를 공급하는 황화 텅스텐층 형성 방법
10 10
제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판은 400℃ 이상, 800℃ 이하의 온도로 유지되는 황화 텅스텐층 형성 방법
11 11
제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 반응물을 공급하는 단계는, 챔버 내에서의 상기 황화 수소의 분압이 0
12 12
제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판은 실리콘 기판 또는 실리콘 옥사이드 기판인 황화 텅스텐층 형성 방법
13 13
제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 평균 두께가 0
14 14
원자층 증착(Atomic Layer Deposition)에 의하여 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 장치로서,챔버;기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체를 상기 챔버 내에 공급하는 전구체 공급부; 및황화 수소를 포함하는 반응물을 상기 챔버 내에 공급하는 반응물 공급부를 포함하며,상기 챔버 내에 공급된 상기 기화된 텅스텐 클로라이드와 상기 황화 수소의 반응에 의하여, 상기 챔버 내에 제공되는 기판상에 황화 텅스텐층이 형성되고,상기 전구체 공급부는,상기 챔버 내에서의 상기 기화된 텅스텐 클로라이드의 분압이 0
15 15
제14 항에 있어서,상기 전구체 공급부는, 고체 상태의 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시켜 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 생성하는 가열 장치를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
16 16
제15 항에 있어서,상기 전구체 공급부는, 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 가스 공급 장치를 더 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
17 17
제16 항에 있어서,상기 가스 공급 장치는, 상기 비활성 가스의 상기 챔버 내에서의 유량이 10sccm 이상, 20sccm 이하가 되도록, 상기 비활성 가스를 공급하는 황화 텅스텐층 형성 장치
18 18
삭제
19 19
제14 항에 있어서,상기 반응물 공급부는, 상기 챔버 내에서의 상기 황화 수소의 분압이 0
20 20
제14 항 내지 제17 항 또는 제19 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 챔버는, 상기 기판을 400℃ 이상, 800℃ 이하의 온도로 유지시키는 기판 가열 장치를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
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1 US20150184297 US 미국 FAMILY

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1 US2015184297 US 미국 DOCDBFAMILY
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