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원자층 증착(Atomic Layer Deposition)에 의하여 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 방법으로서,기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체와 황화 수소를 포함하는 반응물을 반응시켜 기판상에 황화 텅스텐층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는,상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체를 상기 기판상에 공급하는 단계; 및상기 황화 수소를 포함하는 반응물을 상기 기판상에 공급하는 단계를 포함하며,상기 전구체를 공급하는 단계는,챔버 내에서의 상기 기화된 텅스텐 클로라이드의 분압이 0
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제1 항에 있어서,고체 상태의 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시키는 단계를 더 포함하는 황화 텅스텐층 형성 방법
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제2 항에 있어서,상기 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시키는 단계는, 상기 텅스텐 클로라이드를 60℃ 이상, 100℃ 이하 온도로 가열하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 생성하는 황화 텅스텐층 형성 방법
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제1 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 상기 전구체를 공급하는 단계 및 상기 반응물을 공급하는 단계를 복수 회 반복하여 상기 기판상에 적어도 하나의 황화 텅스텐 분자층을 포함하는 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 방법
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삭제
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제1 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 상기 황화 텅스텐층을 이루는 각 황화 텅스텐 분자층의 두께 편차가 0nm 초과, 0
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8
제1 항에 있어서,상기 전구체를 공급하는 단계는, 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 단계를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 방법
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제8 항에 있어서,상기 비활성 가스는 아르곤 가스 및 질소 가스 중의 적어도 하나를 포함하고,상기 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 단계는, 상기 비활성 가스의 상기 챔버 내에서의 유량이 10sccm 이상, 20sccm 이하가 되도록, 상기 비활성 가스를 공급하는 황화 텅스텐층 형성 방법
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10
제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판은 400℃ 이상, 800℃ 이하의 온도로 유지되는 황화 텅스텐층 형성 방법
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제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 반응물을 공급하는 단계는, 챔버 내에서의 상기 황화 수소의 분압이 0
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제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판은 실리콘 기판 또는 실리콘 옥사이드 기판인 황화 텅스텐층 형성 방법
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제1 항 내지 제3 항, 제5 항 또는 제7 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 황화 텅스텐층을 형성하는 단계는, 평균 두께가 0
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원자층 증착(Atomic Layer Deposition)에 의하여 황화 텅스텐층을 형성하는 황화 텅스텐층 형성 장치로서,챔버;기화된 텅스텐 클로라이드를 포함하는 전구체를 상기 챔버 내에 공급하는 전구체 공급부; 및황화 수소를 포함하는 반응물을 상기 챔버 내에 공급하는 반응물 공급부를 포함하며,상기 챔버 내에 공급된 상기 기화된 텅스텐 클로라이드와 상기 황화 수소의 반응에 의하여, 상기 챔버 내에 제공되는 기판상에 황화 텅스텐층이 형성되고,상기 전구체 공급부는,상기 챔버 내에서의 상기 기화된 텅스텐 클로라이드의 분압이 0
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제14 항에 있어서,상기 전구체 공급부는, 고체 상태의 텅스텐 클로라이드를 가열하여 기화시켜 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 생성하는 가열 장치를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
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제15 항에 있어서,상기 전구체 공급부는, 비활성 가스를 공급하여 상기 기화된 텅스텐 클로라이드를 챔버 내로 유입시키는 가스 공급 장치를 더 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
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제16 항에 있어서,상기 가스 공급 장치는, 상기 비활성 가스의 상기 챔버 내에서의 유량이 10sccm 이상, 20sccm 이하가 되도록, 상기 비활성 가스를 공급하는 황화 텅스텐층 형성 장치
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삭제
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제14 항에 있어서,상기 반응물 공급부는, 상기 챔버 내에서의 상기 황화 수소의 분압이 0
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제14 항 내지 제17 항 또는 제19 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 챔버는, 상기 기판을 400℃ 이상, 800℃ 이하의 온도로 유지시키는 기판 가열 장치를 포함하는 황화 텅스텐층 형성 장치
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