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지연 회로 및 지연 제어 방법

  • 기술번호 : KST2015013008
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 지연 회로 및 지연 제어 방법에 관한 것으로, 병렬 연결된 전송게이트들; 선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 룩업테이블 생성부; 및 생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 제어코드 생성부를 포함하는 지연 회로를 제공한다.
Int. CL H03L 7/081 (2006.01) H03K 5/13 (2014.01)
CPC H03K 5/133(2013.01) H03K 5/133(2013.01) H03K 5/133(2013.01) H03K 5/133(2013.01) H03K 5/133(2013.01)
출원번호/일자 1020120091899 (2012.08.22)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1383223-0000 (2014.04.02)
공개번호/일자 10-2014-0026680 (2014.03.06) 문서열기
공고번호/일자 (20140414) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.08.22)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정성욱 대한민국 서울특별시 서대문구
2 정동훈 대한민국 서울 성동구
3 류경호 대한민국 서울 강남구
4 박정현 대한민국 서울 강동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.08.22 수리 (Accepted) 1-1-2012-0675178-67
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0466282-42
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.09.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0799471-49
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.09.02 수리 (Accepted) 1-1-2013-0799472-95
7 등록결정서
Decision to grant
2013.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0904629-44
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
병렬 연결된 전송게이트들;선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 룩업테이블 생성부; 및생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 제어코드 생성부를 포함하며,상기 룩업테이블 생성부는,상기 전송게이트들의 합성 저항값들이 선형적으로 나타나도록 하는 상기 전송게이트들의 턴온 조합을 검출함으로써, 상기 룩업테이블을 생성하는 지연 회로
2 2
제1 항에 있어서,생성된 상기 룩업테이블을 저장하는 저장부를 더 포함하며,상기 제어코드 생성부는 소정의 지연스텝에 대응하는 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 상기 저장부로부터 독출하여 상기 제어코드를 생성하는 지연 회로
3 3
삭제
4 4
병렬 연결된 전송게이트들;선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 룩업테이블 생성부; 및생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 제어코드 생성부를 포함하며,상기 룩업테이블 생성부는,상기 전송게이트들의 모든 턴온 조합에 따른 합성 저항값들을 산출하는 합성저항값 산출부;상기 합성 저항값들이 선형적으로 나타나는 상기 전송게이트들의 턴온 조합들의 데이터 구간을 검출하는 선형 데이터 구간 검출부; 및상기 데이터 구간의 상기 전송게이트들의 상기 턴온 조합들 중에서 상기 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 상기 턴온 조합을 샘플링함으로써, 상기 룩업테이블을 생성하는 샘플링부를 포함하는 지연 회로
5 5
제4 항에 있어서,상기 지연 회로는 상기 지연스텝들 중의 최대 지연스텝에 기초하여 지연 해상도(Delay Resolution)가 결정되는 조지연 회로(Coarse Delay Line)를 더 포함하고,상기 선형 데이터 구간 검출부는 상기 조지연 회로의 상기 지연 해상도를 고려하여 상기 데이터 구간을 검출하는 지연 회로
6 6
병렬 연결된 전송게이트들;선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 룩업테이블 생성부; 및생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 제어코드 생성부를 포함하며,상기 지연 회로는 입력단 측에 연결되어 입력 신호를 반전하는 제1 인버터 및 출력단 측에 연결되는 제2 인버터를 더 포함하고,상기 전송게이트들은 상기 제1 인버터의 출력단자와, 상기 제2 인버터의 입력단자의 사이에 병렬로 연결되는 지연 회로
7 7
제6 항에 있어서,상기 전송게이트들 각각은,드레인이 상기 제1 인버터의 상기 출력단자에 연결되고, 소스가 상기 제2 인버터의 상기 입력단자에 연결되는 지연 회로
8 8
제7 항에 있어서,상기 전송게이트들 각각은 병렬 연결된 NMOS 및 PMOS를 포함하고,상기 NMOS 및 상기 PMOS는 드레인이 상기 제1 인버터의 상기 출력단자에 연결되고, 소스가 상기 제2 인버터의 상기 입력단자에 연결되는 지연 회로
9 9
제8 항에 있어서,상기 제어코드 생성부는 상기 전송게이트들 각각의 상기 NMOS의 게이트에 상기 제어코드에 대응하는 제어신호를 입력하고, 상기 전송게이트들 각각의 상기 PMOS의 게이트에 상기 제어신호에 대한 반전신호를 입력하는 지연 회로
10 10
제1 항, 제2 항, 제4 항 내지 제9 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 전송게이트들 각각은 서로 다른 등가 저항값을 갖는 지연 회로
11 11
병렬 연결된 전송게이트들;선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 저장하는 저장부; 및상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 제어코드 생성부를 포함하며,상기 전송게이트들의 턴온 조합에 관한 정보는,상기 전송게이트들의 합성 저항값들이 선형적으로 나타나도록 하는 전송게이트들의 턴온 조합을 나타내는 지연 회로
12 12
병렬 연결된 전송게이트들을 포함하는 지연 회로의 지연 제어 방법에 있어서,선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 단계; 및생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 단계를 포함하며,상기 룩업테이블을 생성하는 단계는,상기 전송게이트들의 합성 저항값들이 선형적으로 나타나도록 하는 상기 전송게이트들의 턴온 조합을 검출함으로써, 상기 룩업테이블을 생성하는 단계를 포함하는 지연 제어 방법
13 13
삭제
14 14
병렬 연결된 전송게이트들을 포함하는 지연 회로의 지연 제어 방법에 있어서,선형적 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 턴온(turn-on) 조합에 관한 정보를 나타내는 룩업테이블을 생성하는 단계; 및생성된 상기 룩업테이블의 상기 턴온 조합에 관한 정보를 이용하여, 상기 전송게이트들을 제어하기 위한 제어코드를 생성하는 단계를 포함하며,상기 룩업테이블을 생성하는 단계는,상기 전송게이트들의 모든 턴온 조합에 따른 합성 저항값들을 산출하는 단계;상기 합성 저항값들이 선형적으로 나타나는 상기 전송게이트들의 턴온 조합들의 데이터 구간을 검출하는 단계; 및상기 데이터 구간의 상기 전송게이트들의 상기 턴온 조합들 중에서 상기 지연스텝들에 대응하는 상기 전송게이트들의 상기 턴온 조합을 샘플링함으로써, 상기 룩업테이블을 생성하는 단계를 포함하는 지연 제어 방법
15 15
제12 항에 있어서,상기 전송게이트들 각각의 게이트에 상기 제어코드에 대응하는 제어신호를 입력하는 단계를 더 포함하는 지연 제어 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 연세대학교산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발 차세대 초고속 테스터를 위한 ASIC Chip 개발