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자외선 다이오드와 ＭＣＰ를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치

  • 기술번호 : KST2015014118
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 따라서 본 발명은 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치에 관한 것으로, 휴대용 질량분석기를 제작하는데 있어서, MCP 전자증배판을 사용하되 자외선 다이오드에서 방출하는 자외선 광자를 MCP 전자증배판 전면판에 주사된 전자를 백만(106) 배까지 증폭된 전자빔을 획득하고, 저온 저전력으로 방출시간이 정확히 조절되는 전자빔을 생산하도록 하는데 그 목적이 있다.본 발명의 목적은 자외선 다이오드와 MCP를 이용하여 자외선 광자들을 증폭하여 획득된 전자빔에 의해 기체분자를 이온화하고 이온검출을 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치에 있어서, 공급된 전원에 의해 자외선을 방출하는 자외선 다이오드; 상기 자외선 다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 MCP 후면판에서 대량 전자빔을 획득하는 MCP 전자증배판; 상기 MCP 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자 집적렌즈; 상기 전자 집적렌즈를 통해 주입된 전자빔에 의해 기체시료 분자들을 이온화하는 이온트랩 질량분리기; 및 상기 이온트랩 질량분리기로부터 분리된 이온을 질량스펙트럼에 의해 검출하는 이온검출기;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020110136090 (2011.12.16)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자 10-1319926-0000 (2013.10.14)
공개번호/일자 10-2013-0031180 (2013.03.28) 문서열기
공고번호/일자 (20131029) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020110094678   |   2011.09.20
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.12.16)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승용 대한민국 대전 유성구
2 양모 대한민국 대전시 유성구
3 김현식 대한민국 대전시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 이노 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 ***, *층 (서초동, 신한국빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.12.16 수리 (Accepted) 1-1-2011-1001081-52
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184293-13
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2012-5184331-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058386-17
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2013-5058545-81
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0288179-16
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.05.01 수리 (Accepted) 1-1-2013-0386177-55
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.05.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0386178-01
9 등록결정서
Decision to grant		 2013.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0666521-06
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
고진공 상태의 질량분석기 진공챔버 내부에 조사된 자외선 광자들을 증폭하여 획득된 전자빔에 의해 기체분자를 이온화 및 이온검출을 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치에 있어서,상기 질량분석기 진공챔버 내부에 자외선을 방출하는 자외선 다이오드;상기 자외선 다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량 전자빔을 획득하는 마이크로채널 플레이트(MCP) 전자증배판;상기 마이크로채널 플레이트 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적(focusing)하는 전자집적렌즈;상기 전자집적렌즈를 통해 주입된 전자빔에 의해 기체시료 분자들을 이온화하는 이온트랩 질량분리기; 및상기 이온트랩 질량분리기로부터 분리된 이온을 질량스펙트럼에 의해 검출하는 이온검출기;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 자외선 다이오드의 온/오프 펄스신호에 따라 자외선방출 시간 및 강도를 조절하는 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 마이크로채널 플레이트 전자증배판은 전면판에서 상기 자외선 다이오드에서 방출된 대량의 자외선 광자를 주사하고, 상기 자외선광자들이 대량의 초기화 전자방출을 유도함에 따라 상기 MCP 전자증배판의 후면판에서 백만 배(106)까지 증폭된 고전류 전자빔을 획득하는 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 마이크로채널 플레이트 전자증배판은 전면판에 '-2000V ~ -2400V'의 전압이 인가되고, 후면판은 '-100V ~ -300V'의 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 전자집적렌즈는 마이크로채널 플레이트 전자증배판의 후면판에 인가되는 음전압보다 높은 전압으로 인가하는 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 자외선 다이오드와 전자증배판, 전자집적렌즈, 이온트랩 질량분리기 및 이온검출기는 10-6 ~ 10-7 Torr의 진공챔버 안에 구성된 것을 특징으로 하는 자외선 다이오드와 MCP를 이용한 질량분석기의 이온화원 획득장치
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3 WO2013042829 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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