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후막 저항체용 페이스트 조성물 및 이를 이용한 저항체 제조방법

  • 기술번호 : KST2015014868
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 후막 공정을 활용하여 고주파에서 대전력 특성 구현이 가능한 저항체용 조성물과 이의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 저항체용 조성물은 루테늄 산화물(RuOx) 전도성 재료, 유리 첨가물, 및 분산제를 포함하되, 상기 유리 첨가물은 ZnO를 주성분으로 하며, 상기 루테늄 산화물과 반응하여 가스를 생성하는 납 산화물(PbO), 카드뮴, 비스무트(Bismuth), 구리(copper), 및 알칼리 토류(alkaline earth)계의 원소를 포함하지 않는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01C 17/06 (2006.01) H01C 7/00 (2006.01)
CPC H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01) H01C 7/003(2013.01)
출원번호/일자 1020130103174 (2013.08.29)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1501488-0000 (2015.03.05)
공개번호/일자 10-2015-0025427 (2015.03.10) 문서열기
공고번호/일자 (20150311) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.08.29)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유명재 대한민국 서울 광진구
2 유찬세 대한민국 경기 의왕시 안양판교로 **,

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.08.29 수리 (Accepted) 1-1-2013-0790438-98
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.04.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.05.13 수리 (Accepted) 9-1-2014-0036034-69
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0518632-17
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.09.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0934517-75
6 등록결정서
Decision to grant
2014.12.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0851897-76
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
유기용매 내에서 분산되어 이루어지는 고주파 대전력 환경에 강인한 후막 저항체용 페이스트 조성물에 있어서,루테늄 산화물(RuOx) 전도성 재료, 유리 첨가물, 및 분산제를 포함하되, 상기 유리 첨가물은 ZnO을 포함하고, 상기 루테늄 산화물과 반응하여 가스를 생성하는 납 산화물(PbO), 카드뮴, 비스무트(Bismuth), 구리(copper), 및 알칼리 토류(alkaline earth)계의 원소를 포함하지 않는 것이고, 상기 분산제는 상기 루테늄 산화물 전도성 재료의 0
2 2
제1항에 있어서, 상기 유리 첨가물은,ZnO-B2O3-SiO2계 원소를 포함하는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물
3 3
제1항에 있어서, 상기 루테늄 산화물 전도성 재료는,10 내지 80 중량%의 함량을 가지는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물
4 4
제1항에 있어서, 상기 유리 첨가물은,3 내지 15 중량%의 함량을 가지는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물
5 5
삭제
6 6
고주파 대전력 환경에 강인한 후막 저항체용 페이스트 조성물을 제조하는 방법에 있어서, 유기 조성물 및 무기물계 가교제를 유기용매 내에 분산시켜서 유기물 레진을 준비하는 단계; 루테늄 산화물(RuOx) 전도성 재료, 유리 첨가물, 및 분산제를 상기 유기물 레진에 투여한 후 혼합하는 단계; 및상기 혼합된 유기물 레진에 대해서 탈포 및 필터링 과정을 거친 후, 3-roll 밀링을 실시하는 단계를 포함하되,상기 유리 첨가물은 ZnO를 포함하며, 상기 루테늄 산화물과 반응하여 가스를 생성하는 납 산화물(PbO), 카드뮴, 비스무트(Bismuth), 구리(copper), 및 알칼리 토류(alkaline earth)계의 원소를 포함하지 않는 것이고, 상기 분산제는 상기 루테늄 산화물 전도성 재료의 0
7 7
제6항에 있어서, 상기 유리 첨가물은,ZnO-B2O3-SiO2계 원소를 포함하는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물 제조방법
8 8
제6항에 있어서, 상기 루테늄 산화물 전도성 재료는,10 내지 80 중량%의 함량을 가지는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물 제조방법
9 9
제6항에 있어서, 상기 유리 첨가물은,3 내지 15 중량%의 함량을 가지는 것을 특징으로 하는 후막 저항체용 페이스트 조성물 제조방법
10 10
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 (주)엘아이씨티 지식경제 기술혁신사업 [SW 융합형 부품 기술개발사업] SW 기반 디지털 무선통신용 핵심 모듈 및 트랜시버 개발