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반도체 화합물이 코팅된 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015014884
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 반도체 화합물이 코팅된 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체, 상기 반도체 화합물이 코팅된 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조 방법, 및 상기 반도체 화합물이 코팅된 3차원 다공성 반도체 산화물 구조체를 포함하는 광전기화학 전지에 관한 것이다.
Int. CL H01L 21/205 (2006.01) H01L 31/0256 (2006.01) H01L 31/18 (2006.01) H01L 31/04 (2014.01)
CPC H01G 9/2027(2013.01) H01G 9/2027(2013.01)
출원번호/일자 1020140066038 (2014.05.30)
출원인 서강대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1518301-0000 (2015.04.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150508) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.05.30)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 문준혁 대한민국 서울특별시 양천구
2 조창열 대한민국 인천광역시 연수구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서강대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 마포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.05.30 수리 (Accepted) 1-1-2014-0515435-68
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.04.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0024520-56
4 등록결정서
Decision to grant
2015.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0286853-15
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.11 수리 (Accepted) 4-1-2017-5005781-67
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5014626-89
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기재 상에 고분자 콜로이드 입자를 함유하는 제 1 희생층을 형성하고;상기 제 1 희생층에 원자층증착법에 의해 제 1 반도체 산화물을 코팅하고;상기 제 1 희생층을 제거함으로써 3 차원으로 배열된 기공을 가지는 제 1 반도체 산화물 층을 형성하고;상기 제 1 반도체 산화물층에 제 2 희생층을 형성하고; 및상기 제 2 희생층에 반도체 화합물을 코팅하는 것을 포함하는, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 기재는 전도성 투명 기재를 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 고분자 콜로이드 입자는, 폴리스타이렌(PS), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 폴리스타이렌/디비닐벤젠(PS/DVB), 폴리아미드, 폴리(부틸메타크릴레이트)(PBMA), 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제 1 반도체 산화물은 Ti, Cu, Zr, Fe, Zn, In, Ir, La, V, Mo, W, Sn, Nb, Y, Sc, Sm, Ga 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것의 산화물을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제 1 희생층의 제거는 열처리 공정을 이용하여 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 열처리 공정은 400℃ 내지 650℃의 온도에서 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
7 7
제 1 항에 있어서,상기 제 2 희생층을 형성하는 것은 원자층증착법에 의해 상기 제 1 반도체 산화물층에 제 2 반도체 산화물을 증착하는 것을 포함하는 공정에 의하여 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 제 2 희생층을 형성하는 제 2 반도체 산화물은 산화아연, 산화카드뮴, 산화철, 산화코발트, 산화망간, 산화니켈, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
9 9
제 1 항에 있어서,상기 반도체 화합물은 Ag2S, CdS, CdSe, CdTe, CuSe, MoS2, PbS, PbSe, Sb2S3, ZnS, 및 이들의 조합들로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
10 10
제 1 항에 있어서,상기 반도체 화합물을 코팅하는 것은, 상기 제 2 희생층을 반도체 화합물 형성용 전구체-함유 용액에 침지한 후 초음파를 분사하여 상기 반도체 화합물이 상기 반도체 산화물층에 코팅되면서 상기 제 2 희생층의 제 2 반도체 산화물은 에칭되어 제거되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
11 11
3 차원으로 배열된 기공을 가지는 제 1 반도체 산화물층; 및 상기 제 1 반도체 산화물층에 코팅된 반도체 화합물을 포함하는, 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 따른 방법에 의해 제조된 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
12 12
제 11 항에 있어서,상기 3 차원으로 배열된 기공의 크기는 나노미터 내지 마이크로미터 단위인 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
13 13
제 11 항에 있어서,상기 다공성 반도체 산화물의 기공은 단순입방정계, 체심입방정계, 면심입방정계, 또는 역전오팔 구조 형태로 배열된 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
14 14
제 11 항에 있어서, 상기 반도체 화합물은 Ag2S, CdS, CdSe, CdTe, CuSe, MoS2, PbS, PbSe, Sb2S3, ZnS, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
15 15
제 10 항에 따른 상기 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체를 포함하는, 광전기화학 전지
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 서강대학교 산학협력단 나노소재기술개발사업 제한공간 내 자기조립을 이용한 계층형 광전변환소재 구조제어 및 광전특성