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기재 상에 고분자 콜로이드 입자를 함유하는 제 1 희생층을 형성하고;상기 제 1 희생층에 원자층증착법에 의해 제 1 반도체 산화물을 코팅하고;상기 제 1 희생층을 제거함으로써 3 차원으로 배열된 기공을 가지는 제 1 반도체 산화물 층을 형성하고;상기 제 1 반도체 산화물층에 제 2 희생층을 형성하고; 및상기 제 2 희생층에 반도체 화합물을 코팅하는 것을 포함하는, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조 방법
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제 1 항에 있어서,상기 기재는 전도성 투명 기재를 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 고분자 콜로이드 입자는, 폴리스타이렌(PS), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 폴리스타이렌/디비닐벤젠(PS/DVB), 폴리아미드, 폴리(부틸메타크릴레이트)(PBMA), 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 반도체 산화물은 Ti, Cu, Zr, Fe, Zn, In, Ir, La, V, Mo, W, Sn, Nb, Y, Sc, Sm, Ga 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것의 산화물을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 제 1 희생층의 제거는 열처리 공정을 이용하여 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 5 항에 있어서,상기 열처리 공정은 400℃ 내지 650℃의 온도에서 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 제 2 희생층을 형성하는 것은 원자층증착법에 의해 상기 제 1 반도체 산화물층에 제 2 반도체 산화물을 증착하는 것을 포함하는 공정에 의하여 수행되는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 7 항에 있어서,상기 제 2 희생층을 형성하는 제 2 반도체 산화물은 산화아연, 산화카드뮴, 산화철, 산화코발트, 산화망간, 산화니켈, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 반도체 화합물은 Ag2S, CdS, CdSe, CdTe, CuSe, MoS2, PbS, PbSe, Sb2S3, ZnS, 및 이들의 조합들로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 반도체 화합물을 코팅하는 것은, 상기 제 2 희생층을 반도체 화합물 형성용 전구체-함유 용액에 침지한 후 초음파를 분사하여 상기 반도체 화합물이 상기 반도체 산화물층에 코팅되면서 상기 제 2 희생층의 제 2 반도체 산화물은 에칭되어 제거되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체의 제조방법
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3 차원으로 배열된 기공을 가지는 제 1 반도체 산화물층; 및 상기 제 1 반도체 산화물층에 코팅된 반도체 화합물을 포함하는, 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 따른 방법에 의해 제조된 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
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제 11 항에 있어서,상기 3 차원으로 배열된 기공의 크기는 나노미터 내지 마이크로미터 단위인 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
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제 11 항에 있어서,상기 다공성 반도체 산화물의 기공은 단순입방정계, 체심입방정계, 면심입방정계, 또는 역전오팔 구조 형태로 배열된 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
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제 11 항에 있어서, 상기 반도체 화합물은 Ag2S, CdS, CdSe, CdTe, CuSe, MoS2, PbS, PbSe, Sb2S3, ZnS, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 것을 포함하는 것인, 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체
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제 10 항에 따른 상기 3 차원 다공성 반도체 산화물 구조체를 포함하는, 광전기화학 전지
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