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자기진단이 가능한 에이직

  • 기술번호 : KST2015023249
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요약 본 발명은 에이직(Application Specific Integrated Circuit ; 이하, 'ASIC'라 칭함)을 PCB(Printed Circuit Board) 상에 장착하여 사용하는 경우 해당 ASIC 자체의 불량과 SMD(Surface Mounted Device) 작업의 잘못을 정확히 판단할 수 있도록 한 자기진단이 가능한 ASIC에 관한 것이다. 종래의 ASIC에는 자기진단 기능이 제공되지 않아 해당 ASIC을 테스트하고자 하는 경우 PCB상에 SMD 작업을 수행한 후 별도로 JTAG(Joint Test Action Group) 포트를 만들고, 이와 연결하여 테스트하기 위한 JTAG 커넥터와 테스트 장치가 준비되어야 하며, 실제 PCB 양산시에는 이를 제거해야 하는 번거로움이 있었다. 본 발명은 자기진단이 가능하도록 ASIC을 설계하고, 내부 모듈의 상태를 테스트하여 그 결과를 시각적으로 표시해 줌으로써, 해당 ASIC을 PCB 상에 장착하여 사용하는 경우 별도의 장비를 구비하지 않고도 해당 ASIC의 내부 모듈에 문제가 있는지 또는 PCB 상에 ASIC이 완착되었는지 또는 SMD 작업시 과열로 인해 ASIC의 구성 모듈이 파손되었는지 등을 정확히 판단할 수 있게 된다. 또한, 본 발명은 해당 ASIC을 PCB 상에 장착하는 SMD 작업과 관련된 문제를 간단하게 판단할 수 있어, 해당 PCB 생산 라인에서의 SMD 작업 조건을 효율적으로 관리할 수 있게 되며, 양산한 PCB의 디버깅(debugging)을 방지할 수 있게 된다.
Int. CL G11C 29/44 (2006.01.01) G11C 29/56 (2015.01.01) G01R 31/3193 (2006.01.01) G01R 31/28 (2006.01.01)
CPC G11C 29/4401(2013.01) G11C 29/4401(2013.01) G11C 29/4401(2013.01) G11C 29/4401(2013.01)
출원번호/일자 1019990028708 (1999.07.15)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0612576-0000 (2006.08.07)
공개번호/일자 10-2001-0010032 (2001.02.05) 문서열기
공고번호/일자 (20060811) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.07.12)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박희봉 대한민국 경기도군포시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.07.15 수리 (Accepted) 1-1-1999-0080331-16
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.10.22 수리 (Accepted) 4-1-1999-0131269-05
3 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2002.09.27 수리 (Accepted) 1-1-2002-5237658-13
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
2002.09.27 수리 (Accepted) 1-1-2002-5237711-35
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2003.10.16 수리 (Accepted) 4-1-2003-0055522-32
6 출원심사청구서
Request for Examination
2004.07.12 수리 (Accepted) 1-1-2004-0306309-21
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0181592-08
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.05.29 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2006-0376114-79
9 의견서
Written Opinion
2006.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2006-0376116-60
10 등록결정서
Decision to grant
2006.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0447600-47
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
특정 용도를 제공하기 위한 다수의 모듈을 포함하는 에이직에 있어서,상기 모듈의 정상 여부를 진단하기 위한 자기진단 프로그램을 내장하는 메모리부와; 상기 메모리부의 자기진단 프로그램을 실행시켜서, 상기 각 모듈의 레지스터로부터 모듈의 기본값을 판독하고, 상기 각 모듈에 대해 기설정된 기본값과 판독한 기본값을 비교하여 기본값이 서로 일치하지 않는 모듈을 비정상 상태로 판단하여 비정상 상태인 모듈을 외부로 알려주는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기진단이 가능한 에이직
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제어부에서 모듈에 대한 테스트 결과를 외부로 알려주기 위해 시각적으로 확인할 수 있는 발광소자를 사용하는 표시부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기진단이 가능한 에이직
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제어부는, 전원과 인에이블 신호 및 리셋 신호가 인가되는 경우 상기 메모리부로 출력 인에이블 신호와 칩 인에이블 신호를 인가하여 자기진단 프로그램을 실행시키는 것을 특징으로 하는 자기진단이 가능한 에이직
4 4
제 3항에 있어서,상기 제어부에 인에이블 신호가 인가되는 경우에, 에이직 내부의 코어 메모리에 상기 인에이블 신호를 인가하여 상기 코어 메모리에 내장된 프로그램의 실행을 중단시켜 특정 용도의 에이직 동작을 정지시키도록 구성하는 것을 특징으로 하는 자기진단이 가능한 에이직
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6 5
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.