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초소형 미러 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015026100
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요약 본 발명은 초소형 미러 및 그 제조방법에 관한 것으로, 종래 초소형 미러 및 그 제조방법은 45°의 경사면을 형성하기 위하여 이방성 식각을 식각시간을 제어하는 타임에치 방식으로 제어하여, 환경변수에 따라 정확한 구조물을 형성할 수 없으며, 이에 따라 그 공정의 신뢰성 및 수율이 저하되는 문제점이 있었다. 이와 같은 문제점을 감안한 본 발명은 실리콘 온 인슐레이터(SOI) 기판을 준비하는 단계와; 상기 SOI 기판의 상하부에 식각방지층을 형성하는 단계와; 상기 SOI 기판의 상부에 위치하는 식각방지층의 일부를 식각하여, 그 하부의 실리콘층을 노출시키는 단계와; 상기 노출된 실리콘층을 경사지게 이방성 식각하여 실리콘 구조물을 형성하는 단계와; 상기 식각방지층을 제거하고, 실리콘 구조물의 경사면을 경면처리하여 미러를 형성하는 단계로 구성되는 제조방법을 통해, 실리콘 기판의 상부에 위치하는 절연막과; 상기 절연막의 상부에 위치하는 적어도 하나의 경사면을 가지는 실리콘 구조물과; 상기 실리콘 구조물의 경사면에 위치하는 미러로 구성되는 초소형 미러를 구현하여, SOI기판 내에 매립된 절연막을 경사면을 가지는 구조물의 형성시 식각이 종료되는 식각종료막을 사용하여 정확하게 지정함으로써, 환경변수에 무관하게 균일한 구조물을 형성할 수 있게 되는 효과가 있다.
Int. CL G02B 5/08 (2006.01)
CPC G02B 5/0808(2013.01) G02B 5/0808(2013.01)
출원번호/일자 1020020065342 (2002.10.24)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0892066-0000 (2009.03.31)
공개번호/일자 10-2004-0036362 (2004.04.30) 문서열기
공고번호/일자 (20090407) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.10.17)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이영주 대한민국 경기도성남시분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2002.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2002-0350415-60
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2003.10.16 수리 (Accepted) 4-1-2003-0055522-32
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2007.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2007-0743938-16
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.10.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0743941-54
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.09.18 수리 (Accepted) 9-1-2008-0060974-62
8 등록결정서
Decision to grant
2009.01.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0033751-93
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘 기판의 상부에 위치하는 절연막과; 상기 절연막의 상부에 위치하는 적어도 하나의 경사면을 가지는 실리콘 구조물과; 상기 실리콘 구조물의 경사면에 위치하는 미러를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 초소형 미러
2 2
제 1항에 있어서, 상기 경사면은 45°의 경사각으로 경사진 것을 특징으로 하는 초소형 미러
3 3
제 1항에 있어서, 실리콘 구조물은 9
4 4
제 1항에 있어서, 상기 경사면이 위치하는 방향으로 연장된 방향에 노출된 실리콘 기판의 상부에 위치하는 금속전극과; 그 금속전극의 상부에 위치하는 수광 또는 발광소자를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 초소형 미러
5 5
제 4항에 있어서, 상기 금속전극은 실리콘 기판상에 직접 위치하거나, 연장된 상기 절연막 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 초소형 미러
6 6
제 1항에 있어서, 상기 미러는 실리콘 구조물의 경사면이거나, 그 경사면상에 위치하는 금속인 것을 특징으로 하는 초소형 미러
7 7
실리콘 온 인슐레이터(SOI) 기판을 준비하는 단계와;상기 SOI 기판의 상하부에 식각방지층을 형성하는 단계와;상기 SOI 기판의 상부에 위치하는 식각방지층의 일부를 식각하여, 그 하부의 실리콘층을 노출시키는 단계와; 상기 노출된 실리콘층을 경사지게 이방성 식각하여 실리콘 구조물을 형성하는 단계와; 상기 식각방지층을 제거하고, 실리콘 구조물의 경사면을 경면처리하여 미러를 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 SOI 기판을 준비하는 단계는 9
9 9
제 8항에 있어서, 상기 실리콘 기판은 결정방향에 무관하게 사용하는 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
10 10
제 7항에 있어서, 상기 미러를 형성하는 단계는 식각방지층을 제거하고, 그 경사면에 금속을 증착하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 미러의 형성을 위해 경사면에 금속을 증착하는 공정은 그 미러를 형성함과 아울러 실리콘 기판 또는 절연막의 상부에 금속을 증착하여 전극을 형성하는 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
12 12
제 11항에 있어서, 상기 전극의 상부에 수광 또는 발광소자를 부착하는 공정을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
13 12
제 11항에 있어서, 상기 전극의 상부에 수광 또는 발광소자를 부착하는 공정을 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 초소형 미러 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.