요약 | 본 발명은 화합물 반도체 레이저 다이오드에 관한 것으로, n-화합물 반도체 기판의 상부에 리지(Ridg)를 갖는 n-화합물 반도체층이 형성되어 있고; 상기 리지의 상부에 n-클래드층, n-웨이브 가이드층, 활성층, 에칭방지층, p-웨이브 가이드층, p-클래드층과 p-캡층이 순차적으로 적층되어 있고; 상기 리지 측면의 n-화합물 반도체층 상부에 p-금속 화합물 반도체층과 n-금속 화합물 반도체층이 순차적으로 적층되거나 또는 유전막이 형성되도록 구성함으로써, 본 발명은 인가전류의 구속력을 향상시켜, 임계전류(Threshold Current, Ith)를 낮출 수 있고, 수평/수직 방사각 비율을 개선할 수 있으며, L-I(Light-Current)곡선에서 킨크(Kink)의 발생을 줄일 수 있는 효과가 발생한다. 화합물반도체, 유전막, 리지, 구속 |
---|---|
Int. CL | H01S 5/30 (2006.01) |
CPC | H01S 5/0422(2013.01) H01S 5/0422(2013.01) H01S 5/0422(2013.01) H01S 5/0422(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020020065389 (2002.10.25) |
출원인 | 엘지전자 주식회사 |
등록번호/일자 | 10-0493639-0000 (2005.05.26) |
공개번호/일자 | 10-2004-0036383 (2004.04.30) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20050603) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2002.10.25) |
심사청구항수 | 1 |