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박막트랜지스터 소자의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015027187
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요약 본 발명에 따른 박막트랜지스터 소자의 제조 공정에서는 촉매금속 물질을 이용한 비정질 실리콘의 결정화 공정을 통해 형성된 폴리실리콘 물질로 이루어진 액티브층의 채널부에 잔존하는 촉매금속 물질을 별도의 레이저 장치를 이용한 확산처리없이, H+를 이용한 중화 공정을 통해 균일한 제거가 가능하고, 또한 박막트랜지스터 소자용 보호막을 H+를 포함하는 실리콘 질화막을 채용함으로써, 촉매금속 물질의 중성화 효과를 극대화하여, 촉매금속 물질이 소자에 전기적 손상을 주는 것을 효과적으로 차단함으로써, 소자특성을 향상시킬 수 있다.
Int. CL H01L 29/786 (2006.01)
CPC H01L 29/66757(2013.01) H01L 29/66757(2013.01) H01L 29/66757(2013.01) H01L 29/66757(2013.01)
출원번호/일자 1020030002335 (2003.01.14)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-0959684-0000 (2010.05.17)
공개번호/일자 10-2004-0065382 (2004.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (20100526) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.07)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김빈 대한민국 서울특별시양천구
2 김해열 대한민국 경기도안양시동안구
3 배종욱 대한민국 서울특별시양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 네이트특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, ***호(역삼동, 하나빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2003-0011679-23
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2008-0011644-19
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2008.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2008-0011645-65
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.05.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.06.12 수리 (Accepted) 9-1-2009-0034472-34
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0487990-68
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.01.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0032043-85
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0032045-76
10 등록결정서
Decision to grant
2010.05.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0205251-24
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
절연기판 상에 위치하며, 촉매금속 물질을 이용한 비정질 실리콘의 결정화 공정을 통해 형성된 폴리실리콘 박막으로 액티브층을 형성하는 단계와; 50 ~ 500W의 파워를 갖는 CVD(Chemical Vapor Deposition) 장비를 이용하여 1 × 1013 ~ 9 × 1013cm-2의 이온 도즈량을 갖는 H+ 이온을 상기 액티브층에 주입시켜 상기 액티브층 내부에 잔존하는 촉매금속 물질을 전기적으로 중성화시키는 단계와; 상기 액티브층 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 절연막 위로 게이트 전극, 소스 전극 및 드레인 전극을 차례대로 형성하는 단계 를 포함하는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 H+ 이온을 상기 액티브층에 주입시키는 단계는, 이온주입 방식, 샤워 방식, 플라즈마 방식 중 어느 하나에서 선택되는 공정을 이용하는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 폴리실리콘 박막으로 액티브층을 형성하는 단계는, 상기 폴리실리콘 박막을 패터닝(patterning)하는 단계를 포함하는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 액티브층, 게이트 전극, 게이트 절연막, 소스 전극, 드레인 전극은 박막트랜지스터 소자를 이루고, 상기 박막트랜지스터 소자를 덮는 영역에는 보호층을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 보호층을 이루는 물질은 H+를 포함하는 실리콘 질화막에서 선택되는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 실리콘 질화막은, 저온 증착 또는 H+ 플라즈마 처리 중 어느 하나를 통해 형성되는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
7 7
삭제
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 촉매금속 물질로 비정질 실리콘을 결정화하는 단계는, 열에너지를 이용하는 결정화 단계인 박막트랜지스터 소자의 제조방법
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 촉매금속 물질로 비정질 실리콘을 결정화하는 단계는, 금속전극을 이용한 전계로 결정화 단계인 박막트랜지스터 소자의 제조방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 촉매금속 물질은 니켈(Ni), 크롬(Cr), 팔라듐(Pd), 백금(Pt), 코발트(Co), 망간(Mn) 중 어느 하나에서 선택되는 박막트랜지스터 소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.