맞춤기술찾기

이전대상기술

진동 변위 산출 시스템 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015027745
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 진동 변위 산출 시스템 및 그 방법에 관한 것으로서, 기존의 안전 스위치 방식이나 콜피츠 공진회로 방식들보다 간단한 구조로 손쉽게 제조되며, 통계적인 방법을 이용하지 않고도 진동체가 진동하는 변위를 직접적으로 측정할 수 있어 보다 정확한 진동 변위를 측정한다. 이를 위해 본 발명은, 발광부가, 진동체에 부착된 미러로 광을 조사하고, 그 발광부와 나란히 설치된 수광부가, 미러를 통해 반사된 광을 수광하여 그 수광한 광량에 따른 전위차를 발생하면, 진동 변위 산출 수단이 그 발생한 전위차의 해당 레벨 값을 측정하고, 그 측정한 해당 레벨 값 중에서 가장 높은 최대 피크 전압 레벨 값과 가장 낮은 최소 피크 전압 레벨 값을 검출하여 이들을 기설정된 수광부와 미러간의 소정의 최단거리값과 연산시켜 상기 진동체가 전후방향으로 진동함에 따라 발생된 진동 변위를 산출할 수 있도록 한다. 진동, 변위, 산출, 미러, 전위차
Int. CL D06F 33/02 (2006.01)
CPC D06F 37/203(2013.01) D06F 37/203(2013.01) D06F 37/203(2013.01)
출원번호/일자 1020030033673 (2003.05.27)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0530281-0000 (2005.11.15)
공개번호/일자 10-2004-0102286 (2004.12.04) 문서열기
공고번호/일자 (20051122) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.05.27)
심사청구항수 5

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오현호 대한민국 경기도안양시동안구
2 김성아 대한민국 서울특별시강남구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박창남 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, *층 (서초동, 명지빌딩)(나이스국제특허법률사무소)
2 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
3 장재용 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **-*, *층(역삼동, 대명빌딩)(휴피아국제특허법률사무소)
4 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
5 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
6 조담 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2003-0188549-02
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2003.10.16 수리 (Accepted) 4-1-2003-0055522-32
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.03.28 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.04.21 수리 (Accepted) 9-1-2005-0022396-98
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.05.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0236548-32
6 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
2005.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0391855-44
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.07.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0391859-26
8 의견서
Written Opinion
2005.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0391858-81
9 등록결정서
Decision to grant
2005.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0570456-86
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
진동체에 부착된 미러(mirror);상기 미러와 일정 거리만큼 이격된 위치에 설치되어 상기 진동체의 진동에 따라 미러를 향하는 방향으로 광을 조사하는 발광부;상기 발광부와 나란히 설치되어 상기 미러를 통해 반사된 광을 수광하여 그 수광한 광량에 대응되는 전위차를 발생하는 수광부;상기 수광부에서 발생한 전위차의 해당 레벨 값을 측정하는 수광부 출력 전압 측정부;상기 수광부 출력 전압 측정부가 출력한 전압의 해당 레벨 값 중에서 가장 높은 최대 피크 전압 레벨 값과 가장 낮은 최소 피크 전압 레벨 값을 검출하는 피크 레벨 검출부;상기 피크 레벨 검출부에서 검출한 최대/최소 피크 레벨 값과, 진동하지 않는 경우의 수광부와 미러의 최단거리값을 연산하여 상기 진동체가 전후방향으로 진동함에 따라 발생된 진동 변위를 산출하는 마이컴으로 구성되는, 진동 변위 산출 시스템
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 발광부는;발광 다이오드(Light Emitting Diode)인 것을 특징으로 하는, 진동 변위 산출 시스템
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 수광부는;광 다이오드(Photo Diode) 또는 광 트랜지스터(Photo Transistor)인 것을 특징으로 하는, 진동 변위 산출 시스템
5 5
진동체에 부착된 미러로부터 일정 거리만큼 이격되어 설치된 발광부가 진동체의 진동에 따라 더불어 진동하게 되는 미러(mirror)를 향해 광을 조사하는 제 1 단계; 상기 제 1 단계에 따라 조사되어 상기 미러에서 반사된 광을 상기 발광부와 나란히 설치된 수광부가 수광하는 제 2 단계; 상기 제 2 단계에 따라 수광한 광량에 따라 발생되는 전위차의 해당 레벨 값을 측정하는 제 3 단계: 상기 제 3 단계에 따라 측정한 해당 레벨 값 중에서 가장 높은 최대 피크 전압 레벨 값과 가장 낮은 최소 피크 전압 레벨 값을 검출하는 제 4 단계; 상기 제 4 단계에서 검출한 최대/최소 피크 레벨 값과 진동하지 않을 경우에 있어서의 수광부와 미러간의 최단거리값을 연산하여 상기 진동체가 전후방향으로 진동함에 따라 발생된 진동 변위를 산출하는 제 5 단계로 이루어지는, 진동 변위 산출 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 제 5 단계는; 하기의 수학식을 이용하여 상기 진동체가 전후방향으로 진동함에 따라 발생된 진동 변위를 산출하는 것을 특징으로 하는, 진동 변위 산출 방법
7 6
제 5 항에 있어서, 상기 제 5 단계는; 하기의 수학식을 이용하여 상기 진동체가 전후방향으로 진동함에 따라 발생된 진동 변위를 산출하는 것을 특징으로 하는, 진동 변위 산출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.