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반도체 레이저소자와 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015028642
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요약 릿지 구조를 개선한 선택적 매몰 릿지형 반도체 레이저소자 및 그 제조방법이 개시된다. 본 발명의 반도체 레이저소자는 기판 상부에 제1 클래드층 및 활성층을 형성한 후, 상기 활성층 상부의 중앙 부위에 형성되는 메인 릿지부와 상기 메인 릿지부와 일정 거리 이격되는 부위에 나란하게 형성되는 적어도 하나 이상의 보조 릿지부를 구성하도록 제2 클래드층을 형성하고, 상기 메인 릿지부를 제외한 활성층 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부 상부에 형성되는 전류 차단층을 형성하며, 상기 전류 차단층 및 상기 메인 릿지부 상부에 형성되는 접촉층을 형성하여 구성된다. 따라서, 본 발명은 반도체 레이저소자를 가열가압 융착을 이용하여 실장하는 경우에 인가되는 기계적 응력을 분산시켜 반도체 레이저소자가 파손되거나 벽개면의 반사거울 등이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 반도체 레이저소자, 릿지, 클래드층, 전류 차단층
Int. CL H01S 3/0941 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020030055524 (2003.08.11)
출원인 엘지이노텍 주식회사
등록번호/일자 10-0992758-0000 (2010.11.01)
공개번호/일자 10-2005-0017941 (2005.02.23) 문서열기
공고번호/일자 (20101105) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.07.25)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 강서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최진식 대한민국 광주광역시광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서교준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길**, **층 (역삼동, 케이앤아이타워)(특허사무소소담)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 중구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2003-0296042-11
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.05.16 수리 (Accepted) 4-1-2006-5066791-07
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.05.19 수리 (Accepted) 4-1-2006-5068944-32
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2008.07.25 수리 (Accepted) 1-1-2008-0536629-58
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2009.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0188839-55
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.06.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2009-0039441-91
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.07.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5146412-87
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.02.24 수리 (Accepted) 4-1-2010-5032116-06
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.04.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0137866-64
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.05.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0303837-09
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.05.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0303838-44
13 등록결정서
Decision to grant
2010.09.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0414192-75
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.27 수리 (Accepted) 4-1-2014-0093826-77
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.08 수리 (Accepted) 4-1-2017-5035901-08
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.18 수리 (Accepted) 4-1-2018-5136723-03
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5011221-01
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판; 상기 기판 상부에 순차적으로 형성되는 제1 클래드층 및 활성층; 상기 활성층 상부의 중앙 부위에 형성되는 메인 릿지부와 상기 메인 릿지부와 일정 거리 이격되는 부위에 나란하게 형성되는 적어도 하나 이상의 보조 릿지부를 구성하는 제2 클래드층; 상기 메인 릿지부를 제외한 활성층 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부 상부에 형성되는 전류 차단층; 및 상기 전류 차단층 및 상기 메인 릿지부 상부에 형성되는 접촉층 을 포함하는 반도체 레이저소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 기판과 상기 제1 클래드층 사이에 형성되는 버퍼층 을 더 포함하는 반도체 레이저소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 메인 릿지부 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부는 통전용이층 및 캡층 을 더 포함하여 구성되는 반도체 레이저소자
4 4
제1항에 있어서, 상기 활성층 상부에는 제3 클래드층 및 식각 저지층 을 더 포함하는 반도체 레이저소자
5 5
기판; 상기 기판 상부에 순차적으로 형성되는 버퍼층, 제1 클래드층, 활성층, 제2 클래드층 및 식각 저지층; 상기 식각 저지층 상부의 중앙 부위에 형성되는 메인 릿지부와 상기 메인 릿지부와 일정 거리 이격되는 부위에 나란하게 형성되는 적어도 하나 이상의 보조 릿지부를 구성하는 제3 클래드층, 통전용이층 및 캡층; 상기 메인 릿지부를 제외한 식각 저지층 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부 상부에 형성되는 전류 차단층; 및 상기 전류 차단층 및 상기 메인 릿지부 상부에 형성되는 접촉층 을 포함하는 반도체 레이저소자
6 6
제1항 또는 제5항에 있어서, 상기 메인 릿지부 상부에 형성되는 접촉층이 상기 전류 차단층 상부에 형성되는 접촉층보다 더 낮도록 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자
7 7
제1항 또는 제5항에 있어서, 상기 메인 릿지부와 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부의 폭은 상이하게 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자
8 8
제1항 또는 제5항에 있어서, 상기 메인 릿지부와 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부의 폭은 동일하게 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자
9 9
제1항 또는 제5항에 있어서, 상기 접촉층 및 상기 기판에 제1 전극부 및 제2 전극부를 더 형성한 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자
10 10
기판 상부에 제1 클래드층, 활성층, 제2 클래드층 및 통전용이층을 순차적으로 형성하는 제1 단계; 상기 통전용이층 상부에 메인 릿지부를 형성하기 위한 제1 마스크 패턴과 적어도 하나 이상의 보조 릿지부를 형성하기 위한 제2 마스크 패턴을 형성하는 제2 단계; 상기 제1 및 상기 제2 마스크 패턴을 식각 마스크로 사용하여 상기 통전용이층 및 제2 클래드층을 대상으로 선택적으로 식각하여 메인 릿지부와 적어도 하나 이상의 보조 릿지부를 형성하는 제3 단계; 상기 제2 마스크 패턴을 제거한 후, 상기 제1 마스크 패턴을 결정성장 방지 마스크로 사용하여 상기 메인 릿지부를 제외한 활성층 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부 상부에 전류 차단층을 형성하는 제4 단계; 및 상기 제1 마스크 패턴을 제거한 후, 상기 전류 차단층 및 상기 메인 릿지부 상부에 접촉층을 형성하는 제5 단계 를 포함하는 반도체 레이저소자의 제조방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 제1 단계에 있어서 상기 기판과 상기 제1 클래드층 사이에 버퍼층을 형성하는 단계 를 더 포함하는 반도체 레이저소자의 제조방법
12 12
제10항에 있어서, 상기 제1 단계에 있어서 상기 제2 클래드층의 식각으로부터 상기 활성층을 보호하기 위해 상기 활성층 상부에 식각 저지층을 형성하는 단계 를 더 포함하는 반도체 레이저소자의 제조방법
13 13
제10항에 있어서, 상기 메인 릿지부 상부에 형성되는 접촉층이 상기 전류 차단층 상부에 형성되는 접촉층보다 더 낮도록 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자의 제조방법
14 14
제10항에 있어서, 상기 메인 릿지부는 상기 활성층 상부의 중앙 부위에 형성되고, 상기 메인 릿지부와 일정 거리 이격되는 부위에 나란하게 상기 적어도 하나 이사의 보조 릿지부가 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자의 제조방법
15 15
제10항에 있어서, 상기 메인 릿지부 및 상기 적어도 하나 이상의 보조 릿지부에 캡층을 더 포함하여 식각에 의해 릿지형으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저소자의 제조방법
16 16
제10항에 있어서, 상기 제1 및 제2 마스크 패턴은 1회의 공정으로 동시에 형성되는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 반도체 레이저소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.