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상압 플라즈마 처리 장치

  • 기술번호 : KST2015029157
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요약 본 발명은 역삼각형 혹은 삼각형 구조의 전극 배치를 통해 안정적이고 풍부한 라디칼을 형성할 수 있는 상압 플라즈마 처리 장치에 관한 것으로, 제 1, 제 2 전극이 상하 방향으로 소정 간격 이격된 제 1 전극 쌍과, 제 1, 제 2 전극이 상하 방향으로 소정 간격 이격되고, 상기 제 1 전극 쌍 일측에 상기 제 1 전극 쌍과 평행하게 배열된 제 2 전극 쌍과, 상기 제 1, 제 2 전극 쌍 사이의 사이에 상기 제 1, 제 2 전극이 좌우 방향으로 소정 간격 이격되어 배열된 제 3 전극 쌍과, 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 제 1 전극에 RF를 인가하는 RF 파워 소오스와, 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 제 2 전극을 접지시키는 접지단 및 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍이 배치되어, 상기 RF 파워 인가에 따라 상기 전극 쌍들의 전극 사이의 공간에 플라즈마가 발생되는 챔버를 구비하여 이루어짐을 특징으로 한다. 상압 플라즈마(Atmospheric Pressure Plasma), 세정(cleaning), 애슁(ashing), 식각(etching), 라디칼(radical)
Int. CL H01L 21/3065 (2006.01)
CPC H01J 37/32568(2013.01) H01J 37/32568(2013.01)
출원번호/일자 1020030069930 (2003.10.08)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1002335-0000 (2010.12.13)
공개번호/일자 10-2005-0034109 (2005.04.14) 문서열기
공고번호/일자 (20101217) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.09.29)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염종열 대한민국 서울특별시강서구
2 남승희 대한민국 경기도수원시장안구
3 오재영 대한민국 경기도의왕시내

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 심창섭 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 **, 현대빌딩 *층 (잠실동)(KBK특허법률사무소)
2 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.10.08 수리 (Accepted) 1-1-2003-0375358-19
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2008.09.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0681147-10
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.05.15 수리 (Accepted) 9-1-2009-0029833-06
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.06.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0272506-21
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.08.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0552283-88
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0552284-23
9 등록결정서
Decision to grant
2010.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0546665-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제 1, 제 2 전극이 상하 방향으로 소정 간격 이격된 제 1 전극 쌍; 제 1, 제 2 전극이 상하 방향으로 소정 간격 이격되고, 상기 제 1 전극 쌍 일측에 상기 제 1 전극 쌍과 평행하게 배열된 제 2 전극 쌍; 상기 제 1, 제 2 전극 쌍 사이의 사이에, 제 1, 제 2 전극이 좌우 방향으로 소정 간격 이격되어 배열된 제 3 전극 쌍; 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 제 1 전극에 RF를 인가하는 RF 파워 소오스; 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 제 2 전극을 접지시키는 접지단; 및 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍이 배치되어, 상기 RF 파워 인가에 따라 상기 전극 쌍들의 전극 사이의 공간에 플라즈마가 발생되는 챔버를 구비하여 이루어짐을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 제 3 전극 쌍은 상기 제 1, 제 2 전극 쌍의 하측에 위치함을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제 3 전극 쌍은 상기 제 1, 제 2 전극 쌍의 상측에 위치함을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
4 4
제 1항에 있어서, 상기 챔버는 상기 제 1, 제 2 전극 쌍 사이이며, 제 3 전극 쌍의 제 1, 제 2 전극 사이의 영역에 대응하여 하단부에 플라즈마 가스 배출구를 구비함을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
5 5
제 4항에 있어서, 상기 챔버의 플라즈마 가스 배출구 하부에, 이송장치에 의해 지지되어, 플라즈마 처리하고자 하는 기판이 위치됨을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
6 6
제 5항에 있어서, 상기 기판은 로봇 방식 또는 트랙 방식으로 로딩/언로딩됨을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
7 7
제 5항에 있어서, 상기 기판과 상기 챔버 사이의 간격은 5mm 내임을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
8 8
제 1항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 각 전극은 플레이트(plate)형, 또는 바(bar)형임을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
9 9
제 1항에 있어서, 제 1, 제 2, 제 3 전극 쌍의 모든 제 1, 제 2 전극을 냉각시키기 위한 냉각 장치를 더 포함함을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
10 10
제 1항에 있어서, 상기 챔버는 상기 챔버의 외부로부터 반응 가스 또는 분위기 가스를 공급받는 가스 유입구를 구비함을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
11 11
삭제
12 12
제 1항에 있어서, 상기 RF 파워 소오스의 파형은 사각파(square wave)형, 정상파(sine wave)형 및 펄스(pulse)파형 중 어느 하나임을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
13 13
제 12항에 있어서, 상기 RF 파워 소오스의 파형이 펄스파형일 때, RF는 10 내지 50 KHz임을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
14 14
제 13항에 있어서, 상기 RF 파워 소오스에서 발생되는 파형이 사각파형 또는 정상파형일 때, RF는 13
15 15
제 1항에 있어서, 상기 RF 파워 소오스의 파워는 1000 내지 5000W임을 특징으로 하는 상압 플라즈마 처리 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.