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발광 다이오드

  • 기술번호 : KST2015030848
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요약 본 발명은 발광 다이오드에 관한 것으로, 발광 다이오드의 N-반도체층 또는 P-반도체층 보다 굴절률이 작은 복수개의 마이크로 렌즈들 또는 돌출부들을 N-반도체층 또는 P-반도체층에 어레이시켜 구성한다. 따라서, 본 발명은 활성층 전후의 반도체층 내부 또는 표면에 광의 전반사를 줄일 수 있는 구조물을 형성하여 발광 다이오드의 광을 효율적으로 추출하여 휘도를 증가시킬 수 있는 효과가 발생한다. 발광, 다이오드, 전반사, 마이크로렌즈, 굴절률
Int. CL H01L 33/10 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020040007441 (2004.02.05)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0581831-0000 (2006.05.12)
공개번호/일자 10-2005-0079279 (2005.08.10) 문서열기
공고번호/일자 (20060523) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.02.05)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신종언 대한민국 경기도성남시분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
4 조담 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2004-0047477-29
2 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2005.02.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0069412-12
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.09.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.10.19 수리 (Accepted) 9-1-2005-0069039-48
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0610913-78
6 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
2006.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0064251-31
7 의견서
Written Opinion
2006.01.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-0064271-44
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.01.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0064287-74
9 등록결정서
Decision to grant
2006.05.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0268103-68
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
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번호 청구항
1 1
기판 상부에 N-반도체층, 활성층과 P-반도체층이 순차적으로 형성되어 있고;상기 P-반도체층에서 N-반도체층 일부까지 제거되어, 상기 N-반도체층의 일부영역이 노출되어 있고; 상기 N-반도체층의 노출된 영역 상부에 N전극패드가 형성되어 있고, 상기 P-반도체층 상부에 P전극패드가 형성되어 있는 발광 다이오드에 있어서, 상기 N-반도체층과 P-반도체층 중 선택된 어느 한 반도체층 내부 영역과, N-반도체층과 P-반도체층의 내부 영역 중 선택된 어느 한 영역에는 상호 이격되며, 상기 N-반도체층 또는 P-반도체층 보다 굴절률이 작은 복수개의 마이크로 렌즈들이 어레이되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
2 2
N-반도체 기판 상부에 활성층과 P-반도체층이 순차적으로 형성되어 있고; 상기 N-반도체 기판의 하부에 N전극패드가 형성되어 있고, 상기 P-반도체층 상부에 P전극패드가 형성되어 이루어진 발광 다이오드에 있어서,상기 N-반도체 기판과 P-반도체층 중 선택된 어느 한 내부 영역 또는, N-반도체 기판과 P-반도체층 양자의 내부 영역에는,상호 이격되며, 상기 N-반도체 기판 또는 P-반도체층 보다 굴절률이 작은 복수개의 마이크로 렌즈들이 어레이되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 마이크로 렌즈들은, ITO, ZnO, IrO, SiO2, Si3N4, Al, Ni, Au, Co와 Cr 중 선택된 어느 하나로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
4 4
N-반도체 기판 상부에 활성층과 P-반도체층이 순차적으로 형성되어 있고; 상기 N-반도체 기판의 하부에 N전극패드가 형성되어 있고, 상기 P-반도체층 상부에 P전극패드가 형성되어 이루어진 발광 다이오드에 있어서,상기 N-반도체 기판 하부면과 P-반도체층 상부면 중 선택된 어느 한 영역 또는, 상기 N-반도체 기판 하부면과 P-반도체층 상부면 양자의 영역에는,상호 이격되며, 상기 N-반도체 기판 또는 P-반도체층 보다 굴절률이 작은 복수개의 돌출부들이 어레이되어 있으며,상기 N-반도체 기판과 P-반도체층 중 선택된 어느 한 내부 영역 또는, N-반도체 기판과 P-반도체층 양자의 내부 영역에는,상호 이격되며, 상기 N-반도체 기판 또는 P-반도체층 보다 굴절률이 작은 복수개의 마이크로 렌즈들이 어레이되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 돌출부들은, 열과 행으로 배열된 마이크로 렌즈들, 원기둥들과 사각기둥들 중 선택된 어느 하나 또는, 스트라이프 형태로 배열된 직사각 기둥들과 반원 기둥들 중 선택된 어느 하나로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
6 6
제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 돌출부들은, ITO, ZnO, IrO, SiO2, Si3N4, Al, Ni, Au, Co와 Cr 중 선택된 어느 하나로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
7 7
제 5 항에 있어서, 상기 마이크로 렌즈의 직경(d1), 원기둥의 직경(d2), 사각기둥의 폭(W1), 반원기둥의 선폭(W2)과 직각기둥의 선폭(W3)은 1㎚ ~ 100㎛인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
8 7
제 5 항에 있어서, 상기 마이크로 렌즈의 직경(d1), 원기둥의 직경(d2), 사각기둥의 폭(W1), 반원기둥의 선폭(W2)과 직각기둥의 선폭(W3)은 1㎚ ~ 100㎛인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP01562238 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP01562238 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP01562238 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
4 JP04605370 JP 일본 FAMILY
5 JP17223329 JP 일본 FAMILY
6 US07317212 US 미국 FAMILY
7 US20050173718 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN1652363 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 EP1562238 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP1562238 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 EP1562238 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
5 JP2005223329 JP 일본 DOCDBFAMILY
6 JP4605370 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 US2005173718 US 미국 DOCDBFAMILY
8 US7317212 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.