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에치레지스트와 이를 이용한 평판표시소자의 제조방법 및장치

  • 기술번호 : KST2015031016
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  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 포토 마스크가 필요없고 재료의 낭비를 줄이도록 한 에치레지스트와 이를 이용한 평판표시소자의 제조방법 및 장치에 관한 것이다. 이 에치레지스트는 소프트 몰드와의 접촉과 광의 노출에 의해 성형되며 액상 고분자 전구체, 광경화성 고분자 및 광개시제를 포함한다.
Int. CL G03F 7/027 (2006.01)
CPC G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01) G03F 7/027(2013.01)
출원번호/일자 1020040007956 (2004.02.06)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1076423-0000 (2011.10.18)
공개번호/일자 10-2005-0079482 (2005.08.10) 문서열기
공고번호/일자 (20111025) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.01.22)
심사청구항수 28

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 채기성 대한민국 인천광역시연수구
2 김용범 대한민국 서울특별시송파구
3 김진욱 대한민국 서울특별시송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.02.06 수리 (Accepted) 1-1-2004-0050638-55
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2007.09.11 수리 (Accepted) 1-1-2007-0657238-24
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0042756-85
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.01.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2010-0007113-50
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0015432-70
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.03.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0171460-16
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0171467-35
11 등록결정서
Decision to grant
2011.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0471946-09
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
13 [일부 청구항 포기]취하(포기)서
[Abandonment of Partial Claims] Request for Withdrawal (Abandonment)
2011.10.18 수리 (Accepted) 2-1-2011-0243959-98
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소프트 몰드와의 접촉과 광의 노출에 의해 성형되며, 20∼50wt%의 액상 고분자 전구체, 40∼60wt%의 광경화성 고분자 및 1∼10wt%의 광개시제를 포함하는 것을 특징으로 하는 에치레지스트
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 친수성인 것을 특징으로 하는 에치레지스트
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 액상 폴리에틸렌글리콜(Polyethylene glycol)을 포함하는 것을 특징으로 하는 에치레지스트
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 광경화성 고분자는, 액상 아크릴레이트(acrylate)와 액상 노볼락 수지(Novolac resin) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 에치레지스트
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 광개시제는, 2,2-dimethoxy-2phenylacetophenone을 포함하는 것을 특징으로 하는 에치레지스트
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 분자량이 600 이하인 것을 특징으로 하는 에치레지스트
8 8
삭제
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 소프트 몰드와의 접촉과 광의 노출에 의해 성형된 에치레지스트 패턴들 사이의 개구영역 내에는 상기 에치레지스트의 잔막이 없는 것을 특징으로 하는 에치레지스트
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 개구영역의 폭은 1μm∼1000μm 이내인 것을 특징으로 하는 에치레지스트
11 11
제 1 항에 있어서, 상기 에치레지스트의 유전상수는 2
12 12
20∼50wt%의 액상 고분자 전구체, 40∼60wt%의 광경화성 고분자 및 1∼10wt%의 광개시제를 포함하는 에치레지스트 용액을 기판 상에 도포하는 단계와; 상기 에치레지스트 용액 상에 소프트 몰드를 가압함과 동시에 에치레지스트 용액에 광을 조사하여 에치레지스트 패턴을 상기 기판 상에 형성하는 단계와; 상기 에치레지스트 패턴으로부터 상기 소프트 몰드를 분리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 기판은, 상기 에치레지스트 용액이 도포되는 박막을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 에치레지스트 패턴을 마스크로 하여 상기 박막을 식각하는 단계와; 상기 에치레지스트 패턴을 제거하여 박막 패턴을 상기 기판 상에 잔류시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
15 15
삭제
16 16
제 12 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 친수성인 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
17 17
제 12 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 액상 폴리에틸렌글리콜(Polyethylene glycol)을 포함하고;, 상기 광경화성 고분자는 액상 아크릴레이트(acrylate)와 액상 노볼락 수지(Novolac resin) 중 적어도 어느 하나를 포함하며; 상기 광개시제는 2,2-dimethoxy-2phenylacetophenone을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
18 18
청구항 18은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
19 19
제 12 항에 있어서, 상기 에치레지스트 용액을 기판 상에 도포하는 단계는, 이웃하는 상기 에치레지스트 패턴들 사이의 개구영역과 반비례 관계의 두께로 상기 에치레지스트 용액을 상기 기판 상에 도포하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
20 20
제 19 항에 있어서, 상기 개구영역 내에는 상기 에치레지스트 패턴의 잔막이 없는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조방법
21 21
청구항 21은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
22 22
청구항 22은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
23 23
20∼50wt%의 액상 고분자 전구체, 40∼60wt%의 광경화성 고분자 및 1∼10wt%의 광개시제를 포함하는 에치레지스트 용액을 기판 상에 도포하는 도포장치와; 상기 에치레지스트 용액 상에 가압되는 소프트 몰드와; 상기 에치레지스트 용액 상에 상기 소프트 몰드가 가압되는 동안 상기 에치레지스트 용액에 광을 조사하는 노광장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
24 24
제 23 항에 있어서, 상기 기판 상에는 상기 에치레지스트 용액이 도포되는 박막이 형성된 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
25 25
제 24 항에 있어서, 상기 소프트 몰드의 가압과 상기 노광에 의해 상기 기판 상에 남는 에치레지스트 패턴을 마스크로 하여 상기 박막을 식각하는 식각장치와; 상기 에치레지스트 패턴을 제거하는 스트립장치를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
26 26
삭제
27 27
제 23 항에 있어서, 상기 액상 고분자 전구체는, 액상 폴리에틸렌글리콜(Polyethylene glycol)을 포함하고;, 상기 광경화성 고분자는 액상 아크릴레이트(acrylate)와 액상 노볼락 수지(Novolac resin) 중 적어도 어느 하나를 포함하며; 상기 광개시제는 2,2-dimethoxy-2phenylacetophenone을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
28 28
청구항 28은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
29 29
제 25 항에 있어서, 상기 도포장치는 이웃하는 상기 에치레지스트 패턴들 사이의 개구영역과 반비례 관계의 두께로 상기 에치레지스트 용액을 상기 기판 상에 도포하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
30 30
제 29 항에 있어서, 상기 개구영역 내에는 상기 에치레지스트 패턴의 잔막이 없는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 제조장치
31 31
청구항 31은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
32 32
청구항 32은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.