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지문 대칭축 추출 방법

  • 기술번호 : KST2015031204
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요약 본 발명에 따른 지문 대칭축 추출 방법은, 입력된 지문의 중심점을 검출하는 단계와; 상기 검출된 지문의 중심점으로부터 반경 r의 원영역에 대하여, 상기 중심점을 기준으로 0 부터 π까지 등각도 α로 n 개의 각 θ0, θ1, θ2, ..., θn-1로 분할하는 단계와; n 개의 각각의 각도에 대하여, 다음 대칭척도 S(θ)를 이용하여 maxS(θi)를 구하고, 이로부터 가장 대칭인 축을 추출하는 단계; 를 포함한다. 여기서, N은 중심점으로부터 한 반경 r 내에 포함된 블럭 개수이며, m은 블럭방향 필드의 인덱스이다. 그리고, O(i, j)는 해당 대칭축을 기준으로 같은 거리에 있는 두 개의 블럭 쌍을 나타낸다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 지문 융선의 두께변화 등의 형태 변화에 둔감한 지문 융선의 블럭 방향을 이용하여, 지문의 중심을 지나는 임의의 직선을 기준으로 같은 거리에 있는 각 쌍의 융선 블록 방향을 이용하여 지문의 대칭축을 추출할 수 있는 장점이 있다.
Int. CL G06K 9/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020040019391 (2004.03.22)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1016848-0000 (2011.02.15)
공개번호/일자 10-2005-0094224 (2005.09.27) 문서열기
공고번호/일자 (20110222) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.03.23)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김택수 대한민국 서울특별시광진구
2 조상현 대한민국 서울특별시서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 허용록 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층 (역삼동, 현죽빌딩)(선영특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2004-0116867-29
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.03.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0173646-00
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.03.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0173645-54
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.09.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.10.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0065313-23
9 등록결정서
Decision to grant
2010.12.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0568802-40
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입력된 지문 이미지의 중심점을 검출하는 단계; 상기 중심점을 지나는 다수의 직선들을 설정하는 단계; 상기 각각의 직선을 기준으로 한 쌍의 대칭되는 지점의 융선 각도의 합을 계산하는 단계; 및 상기 융선 각도의 합이 π에 가장 가까운 직선을 대칭축으로 결정하는 단계; 를 포함하는 지문 대칭축 추출 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 다수의 직선들 각각은 등각만큼 이격되는 지문 대칭축 추출 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 한 쌍의 대칭되는 지점은 상기 다수의 직선들 중 어느 한 직선을 기준으로 하여 상반된 방향으로 동일 거리만큼 이격된 두 지점인 지문 대칭축 추출 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 융선 각도는 상기 기준이 되는 직선과 융선 사이의 각도인 지문 대칭축 추출 방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 중심점 검출 후, 상기 중심점을 중심으로 하는 소정 영역의 지문 이미지를 추출하는 단계; 및 상기 소정 영역의 지문 이미지를 다수의 블럭으로 분할하는 단계; 를 더 포함하는 지문 대칭축 추출 방법
6 6
제 5항에 있어서, 상기 융선 각도의 합을 계산하는 단계는 상기 다수의 직선들 중 어느 하나의 직선을 선택하는 단계; 상기 선택된 직선을 기준으로 한 쌍의 대칭되는 블럭을 선택하는 단계; 및 상기 선택된 블럭 쌍 내의 융선 각도의 합을 계산하는 단계; 를 포함하는 지문 대칭축 추출 방법
7 7
제 6항에 있어서, 상기 소정 영역 내의 다른 블럭 쌍들의 융선 각도의 합을 계산하는 단계; 및 상기 계산된 융선 각도의 합의 평균값을 계산하는 단계; 를 더 포함하는 지문 대칭축 추출 방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 대칭축 결정 단계는 상기 계산된 평균값이 π에 가장 가까운 직선을 대칭축으로 결정하는 단계를 포함하는 지문 대칭축 추출 방법
9 9
제 5항에 있어서, 상기 소정 영역은 상기 중심점을 중심으로 하는 원 영역인 지문 대칭축 추출 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP01580685 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP01580685 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 US07471812 US 미국 FAMILY
4 US20050207625 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN100370471 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN1674036 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 DE602005006454 DE 독일 DOCDBFAMILY
4 EP1580685 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
5 EP1580685 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
6 US2005207625 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US7471812 US 미국 DOCDBFAMILY
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