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전자력 구동 스캐닝 마이크로미러 및 이를 사용한광스캐닝 장치

  • 기술번호 : KST2015035495
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요약 본 발명은 소정의 전류를 인가하여 입력광을 반사시키는 마이크로미러를 가동시킴으로써 반사광의 경로를 변조하는 광 스캐닝 소자(optical scanning device)에 관한 것으로, 내부에 홀이 형성된 기판하부; 상기 기판하부 위에 적층된 기판상부; 상기 기판상부에 토션빔으로 회전가능하도록 연결되고, 반사면은 상기 기판하부에 형성된 홀을 향하는 미러판; 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 상기 미러판의 변형을 억제하는 강화프레임; 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 구동력을 발생시키는 자성체; 상기 미러판 반사면의 후면에 형성되어 자기장을 발생시키는 코일; 및 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 상기 구동력을 조절하는 조절전극을 포함하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러이다. 마이크로미러, 광스캐닝소자
Int. CL G02B 26/08 (2006.01)
CPC G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01)
출원번호/일자 1020050005126 (2005.01.19)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0644896-0000 (2006.11.03)
공개번호/일자 10-2006-0084307 (2006.07.24) 문서열기
공고번호/일자 (20061114) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.01.19)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이영주 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 지창현 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 황이남 대한민국 서울시 송파구 법원로 ***, ****호 (문정동, 대명벨리온지식산업센터)(아시아나국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2005-0030982-12
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.04.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.05.16 수리 (Accepted) 9-1-2006-0032574-32
4 등록결정서
Decision to grant
2006.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0481060-89
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
내부에 홀이 형성된 기판하부; 상기 기판하부 위에 적층된 기판상부; 상기 기판상부에 토션빔으로 회전가능하도록 연결되고, 반사면은 상기 기판하부에 형성된 홀을 향하는 미러판; 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 상기 미러판의 변형을 억제하는 강화프레임; 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 구동력을 발생시키는 자성체; 상기 미러판 반사면의 후면에 형성되어 자기장을 발생시키는 코일; 및 상기 미러판의 반사면의 후면에 형성되어 상기 구동력을 조절하는 조절전극을 포함하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
2 2
제1항에 있어서, 상기 강화 프레임 구조물은 하나 이상의 단위 프레임 구조물로 구성되어 어레이 형태로 배치된 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
3 3
제2항에 있어서, 상기의 단위 프레임 구조물은 회전축에 가까운 쪽이 회전축에서 먼 쪽보다 폭이 넓은 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
4 4
제2항에 있어서, 상기의 단위 프레임 구조물은 회전축에 가까운 쪽이 회전축에서 먼 쪽보다 두께가 두꺼운 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
5 5
제2항에 있어서, 상기의 단위 프레임 구조물은 소정의 부위가 비어있어 질량을 감소시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
6 6
제1항에 있어서, 상기의 자성체는 회전축을 중심으로 대칭 또는 비대칭으로 형성된 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
7 7
제1항에 있어서, 상기의 자성체는 상기 강화 프레임의 표면에 형성되거나 상기 강화 프레임 표면으로부터 매립된 형태로 제작된 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
8 8
제1항에 있어서, 가동 전극이 강화 프레임 구조물의 일측에 더 형성된 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
9 9
제1항에 있어서, 마이크로미러와 조절 전극 사이 또는 조절 전극과 가동 전극 사이에 전위차를 인가하여 구동력을 조절하는 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
10 10
제1항에 있어서, 코일은 미러판 반사면의 후면의 기판 상부에 집적되어 형성하거나, 미러판 반사면 후면과 일정 거리에 별도로 형성하여 부착하는 것을 특징으로 하는 전자력 구동 스캐닝 마이크로미러
11 11
제1항 내지 제 10항 중 어느 한 항의 스캐닝 마이크로미러와, 하나 이상의 렌즈를 포함하여 구성되고, 광원으로부터 상기 스캐닝 마이크로미러 패키지에 입사광을 제공하는 광학계를 포함하는 광스캐닝 장치
12 11
제1항 내지 제 10항 중 어느 한 항의 스캐닝 마이크로미러와, 하나 이상의 렌즈를 포함하여 구성되고, 광원으로부터 상기 스캐닝 마이크로미러 패키지에 입사광을 제공하는 광학계를 포함하는 광스캐닝 장치
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP01684108 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 JP04392410 JP 일본 FAMILY
3 JP18201783 JP 일본 FAMILY
4 TW290239 TW 대만 FAMILY
5 US07324252 US 미국 FAMILY
6 US20060158710 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN100380172 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN1825163 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 EP1684108 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 JP2006201783 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 JP4392410 JP 일본 DOCDBFAMILY
6 TW200632368 TW 대만 DOCDBFAMILY
7 TW290239 TW 대만 DOCDBFAMILY
8 TWI290239 TW 대만 DOCDBFAMILY
9 US2006158710 US 미국 DOCDBFAMILY
10 US7324252 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.