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레이저 다이오드의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015035896
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요약 본 발명은 레이저 다이오드의 제조 방법에 관한 것으로, 에피 구조를 기존의 역순서로 성장하여 리지를 n-형층에 형성하고, 작은 리지 구조로 인해 발생하는 저항 성분을 줄이고, p-형층의 구조 및 전극은 넓은 면적으로 제작하여 저항을 낮춤으로써, 소자의 동작 전압을 낮추어 소자의 수명을 증대시킬 수 있는 효과가 있다. 레이저, 다이오드, 리지
Int. CL H01S 5/30 (2006.01) H01S 5/22 (2006.01)
CPC H01S 5/3205(2013.01) H01S 5/3205(2013.01) H01S 5/3205(2013.01)
출원번호/일자 1020050013593 (2005.02.18)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1102168-0000 (2011.12.27)
공개번호/일자 10-2006-0092588 (2006.08.23) 문서열기
공고번호/일자 (20120102) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.08.19)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최윤호 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박창남 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, *층 (서초동, 명지빌딩)(나이스국제특허법률사무소)
2 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
3 장재용 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **-*, *층(역삼동, 대명빌딩)(휴피아국제특허법률사무소)
4 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
5 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2005-0087053-46
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.08.19 수리 (Accepted) 1-1-2009-0505226-81
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.06.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.07.16 수리 (Accepted) 9-1-2010-0044620-09
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0057785-44
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.02.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0135870-99
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0135865-60
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0560513-19
12 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2011.11.25 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2011-0045678-80
13 등록결정서
Decision to grant
2011.12.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0723181-77
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
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번호 청구항
1 1
기판 상부에 P-GaN 전극층, P-AlGaN 클래드층, P-GaN 웨이브 가이드층, P-AlGaN 전자 범람 방지층, InGaN 양자 우물층, N-GaN 웨이브 가이드층, N-AlGaN 클래드층과 N-GaN 전극층을 순차적으로 적층하는 단계와; 상기 N-GaN 전극층에서 상기 N-AlGaN 클래드층의 일부까지 식각하여 리지 구조를 형성하는 단계와; 상기 N-AlGaN 클래드층에서 상기 P-GaN 전극층의 일부까지 메사(Mesa) 식각하는 단계와; 상기 리지 구조 상부 및 메사 식각된 P-GaN 전극층의 일부 영역을 노출시키고, 상기 P-AlGaN 클래드층 상부, 메사 식각된 측벽과 상기 P-GaN 전극층 상부에 산화막을 형성하는 단계와; 상기 노출된 리지 구조를 감싸는 N-전극을 형성하고, 상기 노출된 P-GaN 전극층을 감싸는 P-전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 레이저 다이오드의 제조 방법
2 2
기판 상부에 P-GaN/AlGaN 초격자(Supper lattice)층, P-GaN 전극층, P-AlGaN 클래드층, P-GaN 웨이브 가이드층, P-AlGaN 전자 범람 방지층, InGaN 양자 우물층, N-GaN 웨이브 가이드층, N-AlGaN 클래드층과 N-GaN 전극층을 순차적으로 적층하는 단계와; 상기 N-GaN 전극층에서 상기 N-AlGaN 클래드층의 일부까지 식각하여 리지 구조를 형성하고, 상기 N-AlGaN 클래드층에서 상기 P-GaN 전극층의 일부까지 메사(Mesa) 식각하는 단계와; 상기 메사 식각된 영역에 있는 P-GaN 전극층의 중앙영역 외측의 가장자리 영역을 식각하여, 상기 P-GaN/AlGaN 초격자층을 노출시키는 단계와; 상기 리지 구조 상부 및 상기 메사 식각된 영역에 있는 P-GaN 전극층의 중앙영역 상부를 노출시키고, 상기 P-GaN/AlGaN 초격자층 상부, 메사 식각된 측벽, 상기 상기 메사 식각된 영역에 있는 P-GaN 전극층의 중앙영역 측벽, 상기 리지 구조 측벽과 상기 N-AlGaN 클래드층 상부에 산화막을 형성하는 단계와; 상기 리지 구조를 감싸는 N전극 및 상기 메사 식각된 영역에 있는 P-GaN 전극층의 중앙영역 상부에 P전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 레이저 다이오드의 제조 방법
3 3
P-형 전도성 기판 상부에 P-GaN 전극층, P-AlGaN 클래드층, P-GaN 웨이브 가이드층, P-AlGaN 전자 범람 방지층, InGaN 양자 우물층, N-GaN 웨이브 가이드층, N-AlGaN 클래드층과 N-GaN 전극층을 순차적으로 적층하는 단계와; 상기 N-GaN 전극층에서 상기 N-AlGaN 클래드층의 일부까지 식각하여 리지 구조를 형성하는 단계와; 상기 리지 구조를 감싸고, 상기 N-AlGaN 클래드층 상부에 산화막을 형성하는 단계와; 상기 리지 구조 상부의 산화막을 제거하고, 상기 리지 구조를 감싸는 N-전극을 형성하는 단계와; 상기 P-형 전도성 기판의 하부를 연마하여 일부를 제거하는 단계와; 상기 연마된 P-형 전도성 기판 하부에 P-전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 레이저 다이오드의 제조 방법
4 4
N-형 전도성 기판 상부에 터널 정션(Tunnel junction)층, P-GaN층, P-AlGaN 클래드층, P-GaN 웨이브 가이드층, P-AlGaN 전자 범람 방지층, InGaN 양자 우물층, N-GaN 웨이브 가이드층, N-AlGaN 클래드층과 N-GaN 전극층을 순차적으로 적층하는 단계와; 상기 N-GaN 전극층에서 상기 N-AlGaN 클래드층의 일부까지 식각하여 리지 구조를 형성하는 단계와; 상기 리지 구조를 감싸고, 상기 N-AlGaN 클래드층 상부에 산화막을 형성하는 단계와; 상기 리지 구조 상부의 산화막을 제거하고, 상기 리지 구조를 감싸는 제 1 전극을 형성하고, 상기 N-형 전도성 기판의 하부를 연마하여 일부를 제거하는 단계와; 상기 연마된 N-형 전도성 기판 하부에 제 2 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진 레이저 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.