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디스플레이 패널 리페어 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015035923
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요약 본 발명은 디스플레이 패널의 불량 부위를 수리하는 디스플레이 패널 리페어 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 디스플레이 패널의 불량 부위의 크기에 따라 감광제의 양을 다르게 토출하여 불량 부위에 감광제를 충진하는 감광제 충진유닛과, 상기 디스플레이 패널 불량 부위에 충진된 감광제를 소성하는 소성유닛을 포함하여 구성되어, 디스플레이 패널에 불량이 발생한 경우, 포토 레지스터 현상 이후에 불량 부분에 감광제를 충진하고 별도의 소성 유닛을 사용하여 불량 부위에 충진된 감광제를 소성함에 따라 중/대형크기의 불량 리페어가 가능하고 불량 리페어 후 크롬막의 접착성이 증가된다.디스플레이 패널, 리페어, 감광제
Int. CL G03F 7/26 (2006.01)
CPC G03F 7/40(2013.01) G03F 7/40(2013.01) G03F 7/40(2013.01) G03F 7/40(2013.01) G03F 7/40(2013.01) G03F 7/40(2013.01)
출원번호/일자 1020050012373 (2005.02.15)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1144796-0000 (2012.05.03)
공개번호/일자 10-2006-0091481 (2006.08.21) 문서열기
공고번호/일자 (20120614) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.02.12)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박인태 대한민국 경기도 평택시 송탄공원로 **
2 조창현 대한민국 경기도 평택시 송탄공원로 ***
3 우창세 대한민국 부산광역시 동구
4 강형식 대한민국 경상남도 창원시 성산구
5 홍순국 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박병창 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 *, 동주빌딩 *층 팍스국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2005-0078800-35
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2010.02.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0097372-47
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.01.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.02.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0010533-28
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.09.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0528004-30
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.10.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0798163-44
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.10.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0798164-90
11 등록결정서
Decision to grant
2012.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0232508-65
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
디스플레이 패널의 불량 부위의 크기에 따라 감광제의 양을 다르게 토출하여 불량 부위에 감광제를 충전하는 감광제 충전유닛; 및상기 디스플레이 패널 불량 부위에 충전된 감광제를 소성하는 소성유닛을 포함하고,상기 감광제 충전 유닛은 감광제를 토출하는 미세 노즐 및 상기 미세 노즐에서 토출되는 감광제의 양을 조절하는 제어모듈을 포함하며,상기 제어모듈은 상기 미세노즐에 가해주는 압력 및 상기 압력을 가하는 시간을 조절함에 따라 상기 감광제의 양을 조절하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 미세 노즐은 내경이 15㎛ 이하의 관인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 감광제 충전 유닛은 상기 감광제를 토출하는 미세 노즐의 위치를 조정하는 위치 조정모듈을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 디스플레이 패널 리페어 장치는 상기 감광제 충전 유닛이 불량 부분에 위치하도록 상기 감광제 충전 유닛의 위치를 3차원으로 조정하는 구동부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 소성유닛은 CO2 레이저를 방출하는 레이저 장치인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 소성유닛은 고온의 에어를 토출하는 열풍기인 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 디스플레이 패널 리페어 장치는 패널의 불량 부위를 검출하기 위해 디스플레이 패널의 이미지를 획득하는 이미지 획득 유닛을 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 장치
9 9
디스플레이 패널의 불량 부위를 감지하는 제 1 단계;디스플레이 패널의 불량 부위의 크기에 따라 감광제의 양을 다르게 토출하여 불량 부위에 감광제를 충전하는 제 2 단계; 및상기 감광제가 충전된 부위를 소성시키는 제 3 단계를 포함하고,상기 제 2 단계는 상기 감광제가 토출되는 미세노즐에 가하는 압력 및 상기 압력을 가하는 시간을 조절함에 따라 상기 감광제의 양을 조절하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 디스플레이 패널 리페어 방법의 패널 불량 수리는 포토 레지스터 현상 후 이루어지는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 제 2 단계는 가압 방식으로 에어를 분사하여 감광제가 토출되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 제 2 단계는 불량 부위의 크기에 따라 감광제 토출을 위한 에어에 인가되는 압력 및 감광제 토출 시간이 조정되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 리페어 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.