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폴리실리콘막 제조 방법, 그를 이용한 박막트랜지스터 및유기전계발광표시장치 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015041499
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 폴리실리콘막 제조 방법 및 그를 이용한 박막트랜지스터 및 유기전계발광표시장치의 제조 방법에 관한 것으로, 특히 비정질 실리콘막에 이온화된 비활성원소를 주입한 후 결정화하여 폴리실리콘막을 형성함으로써 PMOS 박막트랜지스터 소자의 히스테리시스(ΔVth)를 감소시킬 수 있는 폴리실리콘막의 제조 방법을 제공하고, 이를 통해 소자 특성이 향상된 박막트랜지스터의 제조 방법 및 패널의 잔상을 개선할 수 있는 유기전계발광표시장치의 제조 방법을 제공한다.히스테리시스(ΔVth), 문턱전압, 폴리실리콘, 결정화, 불순물 주입, 잔상
Int. CL H05B 33/26 (2006.01) H01L 29/786 (2006.01) H01L 21/265 (2006.01) H01L 21/324 (2006.01)
CPC H01L 21/26506(2013.01) H01L 21/26506(2013.01) H01L 21/26506(2013.01) H01L 21/26506(2013.01) H01L 21/26506(2013.01) H01L 21/26506(2013.01)
출원번호/일자 1020050134659 (2005.12.30)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1225347-0000 (2013.01.16)
공개번호/일자 10-2007-0071320 (2007.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20130123) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.24)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이기홍 대한민국 제주 북제주군
2 백원봉 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서교준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길**, **층 (역삼동, 케이앤아이타워)(특허사무소소담)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0781658-48
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2010.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0858854-36
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2012-0008977-17
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0241181-39
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.06.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0501691-98
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2012-0501690-42
12 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2012.08.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0698579-45
13 등록결정서
Decision to grant
2012.11.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0706059-06
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번호 청구항
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버퍼층이 형성된 기판 상에 비정질 실리콘막을 형성하는 단계;상기 비정질 실리콘막 상에 이온화된 비활성원소를 주입하는 단계;상기 이온화된 비활성원소가 주입된 비정질 실리콘막을 결정화하여 폴리실리콘막을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘막을 패터닝하여 액티브층을 형성하는 단계;상기 액티브층 상에 게이트 전극을 패터닝하여 형성하는 단계;상기 액티브층에 상기 게이트 전극을 마스크로 하여 불순물을 주입하여 소스 영역, 드레인 영역 및 상기 소스 영역과 드레인 영역 사이에 채널 영역을 정의하는 단계; 및상기 게이트 전극 상에 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 이온화된 비활성원소는 헬륨(He), 아르곤(Ar), 크롬(Kr) 또는 크세논(Xe) 중에서 선택되는 1종이며, 상기 주입되는 비활성원소들은 상기 버퍼층과 비정질 실리콘막 경계에 접촉 트랩(interface trapping) 상태를 유지하면서 위치하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조 방법
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제 6 항에 있어서,상기 이온화된 비활성원소는 헬륨(He), 아르곤(Ar), 크롬(Kr) 또는 크세논(Xe) 중에서 선택되는 1종인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조 방법
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제 6 항에 있어서,상기 이온화된 비활성원소 주입 시 가속 전압은 10 ~ 100KeV 범위인 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조 방법
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제 6 항에 있어서,상기 결정화는 600℃ 내지 800℃에서 열처리하는 것을 특징으로 하는 박막트랜지스터의 제조 방법
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버퍼층이 형성된 기판 비정질 실리콘막을 형성하는 단계;상기 비정질 실리콘막 상에 이온화된 비활성원소를 주입하는 단계;상기 이온화된 비활성원소가 주입된 비정질 실리콘막을 결정화하여 폴리실리콘막을 형성하는 단계;상기 폴리실리콘막을 패터닝하여 액티브층을 형성하는 단계;상기 액티브층 상에 게이트 전극을 패터닝하여 형성하는 단계;상기 액티브층에 상기 게이트 전극을 마스크로 하여 불순물을 주입하여 소스 영역, 드레인 영역 및 상기 소스 영역과 드레인 영역 사이에 채널 영역을 정의하는 단계; 상기 게이트 전극 상에 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계;상기 드레인 전극과 전기적으로 연결된 제 1 전극을 형성하는 단계;상기 제 1 전극 상에 적어도 유기발광층을 포함하는 유기막층을 형성하는 단계; 및 상기 유기막층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 이온화된 비활성원소는 헬륨(He), 아르곤(Ar), 크롬(Kr) 또는 크세논(Xe) 중에서 선택되는 1종이며, 상기 주입되는 비활성원소들은 상기 버퍼층과 비정질 실리콘막 경계에 접촉 트랩(interface trapping) 상태를 유지하면서 위치하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치의 제조 방법
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제 11 항에 있어서,상기 이온화된 비활성원소의 도즈 량은 1x1013 ~ 1x1015ions/㎠ 범위인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치의 제조 방법
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제 11 항에 있어서,상기 이온화된 비활성원소 주입 시 가속 전압은 10 ~ 100KeV 범위인 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치의 제조 방법
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제 11 항에 있어서,상기 결정화는 600℃ 내지 800℃에서 열처리하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광표시장치의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.