1 |
1
광원에서 나온 빔을 디이엠디이에서 선택적으로 반사하여 패널에 노광하는 마스크리스 노광기에 있어서,상기 디이엠디이에서 반사되어 패널로 전달되는 빔의 경로 상에 설치되어 상기 디이엠디이에서 반사되어온 빔을 패널쪽으로 투과하고 패널에서 반사되어온 빔을 반사하는 빔스플리터와,상기 빔스플리터에 의해 상기 패널에서 반사되어온 빔을 전달받아 화상데이터를 획득하는 감지카메라를 포함하여 구성되고,상기 광원에서 나온 빔이 상기 패널의 정렬마크에 조사되는 것을 감지카메라가 검출함을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
2 |
2
제 1 항에 있어서, 상기 빔스플리터는 펠리클 빔스플리터(Pellicle Beamsplitter)임을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
3 |
3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 감지카메라에서 획득한 화상데이터를 표시하는 모니터가 더 구비됨을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
4 |
4
제 3 항에 있어서, 상기 빔스플리터는 상기 디이엠디이에서 나온 광을 패널에 집광시키는 제2광학계의 프로젝션렌즈를 통과한 위치에 설치됨을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
5 |
5
제 4 항에 있어서, 상기 빔스플리터와 감지카메라는 하나의 조립체로 구성되어 상기 프로젝션렌즈를 통과한 위치에 설치됨을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
6 |
6
광원과,상기 광원에서 나온 빔을 선택적으로 반사하는 디이엠디이와,상기 디이엠디이에서 반사되어 패널에 조사되는 빔의 경로 상에서 상기 패널의 직전 위치에 설치되어 상기 디이엠디이에서 반사되어온 빔을 패널쪽으로 투과하고 패널에서 반사되어온 빔을 반사하는 빔스플리터와,상기 빔스플리터에 의해 반사되어온 빔을 전달받아 화상데이터를 획득하는 감지카메라를 포함하여 구성되고,상기 광원에서 나온 빔이 상기 패널의 정렬마크에 조사되는 것을 감지카메라가 검출함을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
7 |
7
제 6 항에 있어서, 상기 광원과 디이엠디이의 사이, 상기 디이엠디이와 빔스플리터의 사이에는 제1 및 제2 광학계가 더 구비되어 상기 정렬마크의 검출에 필요한 빔을 전달함을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
8 |
8
제 7 항에 있어서, 상기 빔스플리터는 펠리클 빔스플리터(Pellicle Beamsplitter)임을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
9 |
9
제 8 항에 있어서, 상기 감지카메라에서 획득한 화상데이터를 표시하는 모니터가 더 구비됨을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|
10 |
10
제 6 항 내지 제 9 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔스플리터와 감지카메라는 하나의 조립체로 구성되어 상기 패널에 조사되는 빔의 경로 상에서 상기 패널의 직전 위치에 설치됨을 특징으로 하는 마스크리스 노광기의 정렬장치
|