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반도체 레이저 소자 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015042166
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요약 본 발명은 반도체 레이저 소자에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 반도체 레이저 소자는, 기판상에 순차적으로 형성된 버퍼층과, 제1콘택층과, 제1클래드층 및 제1도파층을 포함하는 제1물질층; 상기 제1물질층 상에 형성되며, 광이 생성되는 활성층; 상기 활성층 상에 순차적으로 형성된 제2도파층과, 제2클래드층 및 제2콘택층을 포함하는 제2물질층; 상기 제2클래드층을 일부 식각하여 상기 활성층에 대해 수직한 방향으로 돌출되게 형성된 리지; 상기 돌출된 리지의 측면, 상기 제2 클래드층의 상면 및 측면 전부 및 메사 구조로 식각된 제1 콘택층을 덮도록 형성된 유전막; 및 상기 유전막 상에 형성되며, 상기 리지를 보호하기 위해 상기 활성층에 대해 수직한 방향으로 돌출되게 형성된 돌출부;를 포함하며, 상기 기판으로부터 상기 돌출부의 상면까지의 높이(h1)는 상기 기판으로부터 상기 제2콘택층까지의 높이(h2)보다 높도록하여, 반도체 레이저 소자의 제조 공정 중 발생될 수 있는 외부의 충격으로부터 리지를 보호할 수 있다.리지, 스크라이빙(Scribing), 벽개면, 제1 및 제2돌출부
Int. CL H01S 5/02 (2006.01) H01S 5/22 (2006.01)
CPC H01S 5/2201(2013.01) H01S 5/2201(2013.01) H01S 5/2201(2013.01)
출원번호/일자 1020060018952 (2006.02.27)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0774458-0000 (2007.11.01)
공개번호/일자 10-2007-0088995 (2007.08.30) 문서열기
공고번호/일자 (20071108) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.02.27)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전지나 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2006-0143548-72
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.01.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.02.09 수리 (Accepted) 9-1-2007-0007654-45
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0157485-47
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.05.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0384975-29
6 의견서
Written Opinion
2007.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2007-0384974-84
7 등록결정서
Decision to grant
2007.08.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0442062-56
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판상에 순차적으로 형성된 버퍼층과, 제1콘택층과, 제1클래드층 및 제1도파층을 포함하는 제1물질층;상기 제1물질층 상에 형성되며, 광이 생성되는 활성층;상기 활성층 상에 순차적으로 형성된 제2도파층과, 제2클래드층 및 제2콘택층을 포함하는 제2물질층;상기 제2클래드층을 일부 식각하여 상기 활성층에 대해 수직한 방향으로 돌출되게 형성된 리지;상기 돌출된 리지의 측면, 상기 제2 클래드층의 상면 및 측면 전부 및 메사 구조로 식각된 제1 콘택층을 덮도록 형성된 유전막; 및상기 유전막 상에 형성되며, 상기 리지를 보호하기 위해 상기 활성층에 대해 수직한 방향으로 돌출되게 형성된 돌출부;를 포함하며,상기 기판으로부터 상기 돌출부의 상면까지의 높이(h1)는 상기 기판으로부터 상기 제2콘택층까지의 높이(h2)보다 높은 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 제2콘택층은,상기 리지의 상면에 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
3 3
제2항에 있어서,상기 제1콘택층의 일부가 노출되도록 식각된 메사 평탄부에 상기 제1콘택층과 전기적으로 연결되도록 형성된 제1전극; 및상기 제2콘택층과 상기 돌출부 상에 상기 제2콘택층과 전기적으로 연결되도록 형성된 제2전극;을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
4 4
제3항에 있어서,상기 기판은 사파이어 기판이며,상기 활성층은 InGaN층이고,상기 버퍼층은 도핑이 안된 GaN층이며,상기 제1 및 제2콘택층은 각각 n-GaN층 및 p-GaN층이고,상기 제1 및 제2도파층은 각각 n-GaN층 및 p-GaN층이며,상기 제1 및 제2클래드층은 각각 n-AlGaN층 및 p-AlGaN층인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
5 5
삭제
6 6
제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판으로부터 상기 돌출부의 상면까지의 높이를 h1이라고 정의하고, 상기 기판으로부터의 상기 제2콘택층까지의 높이를 h2라고 정의할 때, 다음의 수학식을 만족하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
7 7
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 돌출부와 상기 리지 사이의 거리는 10㎛ 미만인 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
8 8
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 돌출부는,상기 리지의 일측에 형성되는 제1돌출부; 및상기 리지의 타측에 형성되는 제2돌출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
9 9
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 돌출부는,절연막과 금속막 중 적어도 어느 하나의 막으로 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자
10 10
a) 기판 상에 버퍼층과 제1콘택층과 제1클래드층 및 제1도파층을 포함하는 제1물질층과, 활성층과, 제2도파층과 제2클래드층 및 제2콘택층을 포함하는 제2물질층을 순차적으로 형성하는 단계;b) 상기 제1콘택층의 일부가 노출되도록 식각하여 메사 평탄부를 형성하는 단계;c) 상기 제2클래드층과 상기 제2 콘택층을 일부 식각하여 상기 활성층과 수직된 방향으로 돌출되게 리지를 형성하는 단계;d) 상기 메사 평탄부와 상기 제2콘택층 및 상기 제2클래드층의 상면에 유전막을 형성하고, 상기 제1 및 제2콘택층이 노출되도록 상기 메사 평탄부의 일부와 상기 리지 상면의 유전막을 제거하는 단계;e) 상기 유전막 상에 상기 리지를 보호하기 위한 제1 및 제2돌출부를 상기 활성층에 대해 수직한 방향으로 돌출되게 형성하는 단계; 및f) 상기 제1 및 제2물질층 각각과 전기적으로 연결되도록 제1 및 제2전극을 형성하는 단계;를 포함하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
11 11
삭제
12 12
삭제
13 13
제10항에 있어서,상기 기판으로부터 상기 돌출부의 상면까지의 높이(h1)는 상기 기판으로부터 상기 제2콘택층까지의 높이(h2)보다 높게 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
14 14
제10항에 있어서,상기 기판으로부터 상기 돌출부의 상면까지의 높이를 h1이라고 정의하고, 상기 기판으로부터의 상기 제2콘택층까지의 높이를 h2라고 정의할 때, 다음의 수학식을 만족하도록 상기 돌출부를 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
15 15
제10항, 제13항 및 제14항 중 어느 한 항에 있어서,상기 돌출부는 상기 돌출부와 상기 리지 사이의 거리가 10㎛ 미만이 되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
16 16
삭제
17 17
제10항에 있어서,상기 제1 및 제2돌출부는 절연막과 금속막 중 적어도 어느 하나의 막으로 형성된 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
18 18
제17항에 있어서, 상기 f)단계는,f1) 상기 제1콘택층과 전기적으로 연결되도록 상기 메사 평탄부의 노출된 부분에 상기 제1전극을 형성하는 단계; 및f2) 상기 제2콘택층과 전기적으로 연결되도록 상기 제2콘택층의 상면에 상기 제2전극을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.