맞춤기술찾기

이전대상기술

패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법

  • 기술번호 : KST2015042947
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 LDPC(Low Density Parity Check) 부호화 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 간단한 처리과정을 통해 정보어를 부호어로 변환시키는 패리티 검사 행렬을 사용하는 데이터의 송수신 장치 및 그를 이용하는 변복조 방법에 관한 것이다. 본 발명은, 상기와 같은 목적을 달성하기 위해, LDPC(Low Density Parity Check) 부호화를 수행하는 방법에 있어서, 입력 비트를 부호화하기 위해 사용되는 패리티 검사 행렬의 특정한 영역을 결정하는 단계; 및 상기 결정된 영역에 의해 상기 입력 비트를 부호화하는 단계를 포함하여 이루어지되, 상기 패리티 검사 행렬은, 기 설정된 개수의 상기 특정한 영역에 따라 정보어 부분에 포함되는 행 또는 열의 무게의 밀도가 상이한 것을 특징으로 한다. LDPC, 패리티 검사 행렬, 부호화, 무게, 밀도, 부호율
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01)
출원번호/일자 1020060040626 (2006.05.04)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1187072-0000 (2012.09.21)
공개번호/일자 10-2007-0107975 (2007.11.08) 문서열기
공고번호/일자 (20120927) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.11.16)
심사청구항수 15

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정지욱 대한민국 경기 시흥시
2 오민석 대한민국 서울 송파구
3 조기형 대한민국 경기 안양시 동안구
4 이영섭 대한민국 경기도 군포시 고산로***번길 **, **
5 김소연 대한민국 경기도 고양시 덕양구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 심창섭 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 **, 현대빌딩 *층 (잠실동)(KBK특허법률사무소)
2 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2006-0318179-87
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2010.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2010-0748072-47
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.08.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.09.20 수리 (Accepted) 9-1-2011-0076699-12
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0059182-15
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.02.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0163054-95
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0163055-30
11 등록결정서
Decision to grant
2012.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0508351-34
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
LDPC(Low Density Parity Check) 부호화를 수행하는 방법에 있어서, 입력 비트를 부호화하기 위해 사용되는 패리티 검사 행렬의 특정한 영역을 결정하는 단계; 및상기 결정된 영역에 의해 상기 입력 비트를 부호화하는 단계를 포함하여 이루어지되, 상기 패리티 검사 행렬은, 기 설정된 개수의 상기 특정한 영역에 따라 정보어 부분에 포함되는 행 또는 열의 무게의 밀도가 상이한 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬의 특정한 영역은, 기 설정된 길이의 입력 비트에 상응하는 정보어 부분과, 가변적 길이의 패리티 비트에 상응하는 패리티 부분을 포함하는 것을특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬의 특정한 영역은, 상기 패리티 검사 행렬에 의한 부호율(code rate)에 따라 결정되는 것을특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬의 각 특정한 영역에 대한 행 또는 열의 무게의 밀도의 크기는 상기 각 특정한 영역의 부호율의 크기에 상응하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬은, 특정한 크기의 서브 블록(sub block)으로 이루어진 모델 행렬(model matrix)로부터 확장되어 생성되는 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬은, 특정한 크기의 서브 블록으로 이루어진 모델 행렬(model matrix)로부터 확장되어 생성되는 것을특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 행 또는 열의 무게의 밀도는,상기 특정한 영역에 포함되는 행 또는 열에 포함되는 전체 성분(element) 중 무게를 갖는 성분과 상기 전체 성분 간의 비(ratio)인 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
8 8
LDPC(Low Density Parity Check) 부호화를 수행하는 방법에 있어서, 입력 비트를 패리티 검사 행렬의 특정한 제1 영역을 이용하여 부호화를 수행하는 단계;상기 부호화된 데이터의 부호율(Code rate)을 변경할지 여부를 판단하는 단계; 및상기 판단결과에 따라 입력 비트를 상기 패리티 검사 행렬의 특정한 제2 영역을 이용하여 부호화를 수행하는 단계를 포함하여 이루어지는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
9 9
제8항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬은, 기 설정된 개수의 상기 영역에 따라 정보어 부분에 포함되는 행 또는 열의 무게의 밀도가 상이한 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 제1 영역의 패리티 검사 행렬의 부호율이 상기 제2 영역의 패리티 검사 행렬의 부호율 보다 높은 경우,상기 제1 영역에 대한 행 또는 열의 무게의 밀도는, 상기 제2 영역에 대한 행 또는 열의 무게의 밀도에 비해 큰 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
11 11
제9항에 있어서, 상기 제1 영역의 패리티 검사 행렬의 부호율이 상기 제2 영역의 패리티 검사 행렬의 부호율 보다 낮은 경우,상기 제1 영역에 대한 행 또는 열의 무게의 밀도는, 상기 제2 영역에 대한 행 또는 열의 무게의 밀도에 비해 작은 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
12 12
제9항에 있어서, 상기 행 또는 열의 무게의 밀도는,상기 특정한 영역에 포함되는 행 또는 열에 포함되는 전체 성분 중 무게를 갖는 성분과 상기 전체 성분 간의 비(ratio)인 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
13 13
제8항에 있어서, 상기 제1 영역 및 제2 영역은, 기 설정된 길이의 입력 비트에 상응하는 정보어 부분과, 가변적 길이의 패리티 비트에 상응하는 패리티 부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
14 14
제8항에 있어서, 상기 패리티 검사 행렬은, 특정한 크기의 서브 블록(sub block)으로 이루어진 모델 행렬(model matrix)로부터 확장되어 생성되는 것을 특징으로 하는 패리티 검사 행렬을 이용한 부호화 방법
15 15
LDPC(Low Density Parity Check) 부호화를 수행하는 장치에 있어서, 입력 비트를 부호화하기 위해 사용되는 패리티 검사 행렬을 포함하는 메모리; 및상기 패리티 검사 행렬의 특정한 영역을 결정하고, 상기 결정된 영역에 의해 상기 입력 비트를 부호화하는 부호화 모듈을 포함하여 이루어지되,상기 패리티 검사 행렬은, 기 설정된 개수의 상기 특정한 영역에 따라 정보어 부분에 포함되는 행 또는 열의 무게의 밀도가 상이한 것을 특징으로 하는 부호화장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.