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위치 가변적 온도 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015044605
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요약 본 발명은 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시험 장치를 제공하는바, 이러한 시험 장치는 위치 가변적 암 부재를 포함함으로써, 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도 측정할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G01K 1/14 (2006.01) G01K 7/00 (2006.01)
CPC G01K 1/146(2013.01) G01K 1/146(2013.01) G01K 1/146(2013.01) G01K 1/146(2013.01) G01K 1/146(2013.01)
출원번호/일자 1020060078496 (2006.08.21)
출원인 주식회사 엘지화학
등록번호/일자 10-1056713-0000 (2011.08.08)
공개번호/일자 10-2008-0017108 (2008.02.26) 문서열기
공고번호/일자 (20110812) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.05.25)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 우효상 대한민국 대전광역시 유성구
2 신우진 대한민국 대전광역시 서구
3 이우철 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손창규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** *동 ****호(역삼동, 성지하이츠*차빌딩)(글로벌혜성특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2006-0590393-54
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2006.08.25 수리 (Accepted) 4-1-2006-0019818-11
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.05.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0311860-68
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0008122-74
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0137573-26
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.05.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0339989-41
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0339882-65
9 등록결정서
Decision to grant
2011.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0363046-77
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5000389-31
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.12.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5161532-51
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.12 수리 (Accepted) 4-1-2018-5227604-80
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5261818-30
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164284-96
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하며, 상기 암 부재는 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상하 방향, 좌우 방향 및 전후 방향으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나 이상의 방향으로 온도센서 장착 부위가 이동할 수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 암 부재의 단부에 온도센서가 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 온도센서는 암 부재의 단부 하단면에 탄력적으로 장착된 판 스프링 또는 압축 스프링에 의해, 암 부재의 단부 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 스프링의 단부면에 온도센서가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 장치는, 상기 테스트 시편을 시험 상태로 위치 고정할 수 있는 본체; 상기 본체의 일측에 설치되어 있고 온도센서가 장착되어 있는 위치 가변적 암 부재; 및 상기 시편의 테스트 장치의 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 측정장치로 송부하는 커넥터; 를 포함하는 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 시험 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 위치 가변적 암 부재는, 본체에 가변적으로 연결된 지지부와, 상기 지지부에 가변적으로 연결된 수평 연장부를 포함하는 것으로 구성되어 있고, 상기 온도센서는 상기 수평 연장부에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
8 8
제 7 항에 있어서, 본체에 대한 지지부의 상기 가변적 연결은 지지부가 좌우 방향으로 회전할 수 있도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 지지부는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고, 본체와 접하는 그것의 단부에는 체결용 만입홈이 형성되어 있으며, 상기 만입홈은 그에 대응하여 본체에 형성되어 있는 체결용 돌기에 결합되어 있어서, 지지부는 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
10 10
제 8 항에 있어서, 상기 본체에는 지지부에 대응하는 형상의 장착홈이 형성되어 있고, 상기 지지부의 단부는 본체에 소정의 각도로 피벗 회전이 가능하도록 결합되어 있어서, 지지부를 회전시켜 본체의 장착홈에 삽입할 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
11 11
제 7 항에 있어서, 지지부에 대한 수평 연장부의 상기 가변적 연결은, 수평 연장부가 (i) 상하 방향, 또는 (ii) 전후 방향, 또는 (iii) 상하 방향 및 전후 방향으로 이동할 수 있도록 지지부에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 수직 체결홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 수직 체결홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 수직 체결홈을 따라 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
13 13
제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 체결 관통홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 체결 관통홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 체결 관통홈을 따라 전후 방향 및 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
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제 7 항에 있어서, 상기 가변적 연결 부위에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부가 추가로 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
15 15
제 1 항에 있어서, 상기 온도센서의 연결회로는 위치 가변적 암 부재를 따라 커넥터에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
16 16
제 1 항에 있어서, 상기 온도센서는 써머커플 또는 써미스터인 것을 특징으로 하는 시험 장치
17 17
제 1 항에 있어서, 상기 장치는 이차전지의 온도를 측정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 시험 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.