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가변 저항 장치

  • 기술번호 : KST2015045411
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요약 본 발명은 필요에 따라 저항값을 변화시킬 수 있는 가변 저항 장치로서, 외부 회로에 각각 연결되는 한 쌍의 모 저항체, 및 상기 모 저항체들 사이에 착탈가능하게 설치되어 있는 둘 또는 그 이상의 가변 저항체들을 포함하는 구조로 구성되어 있어서, 가변 저항체들을 모 저항체로부터 탈리 및/또는 부착시키는 간단한 과정에 의해 다양하고 정확한 저항값을 설정할 수 있으며, 저항값을 용이하게 설정할 수 있어서 다양한 변수가 존재하는 안전성 시험을 단기간에 수행할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01C 17/00 (2006.01)
CPC H01C 10/10(2013.01) H01C 10/10(2013.01) H01C 10/10(2013.01)
출원번호/일자 1020060102641 (2006.10.23)
출원인 주식회사 엘지화학
등록번호/일자 10-1075904-0000 (2011.10.17)
공개번호/일자 10-2008-0036260 (2008.04.28) 문서열기
공고번호/일자 (20111026) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.07.13)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 진성장 대한민국 전라북도 전주시 완산구
2 우효상 대한민국 대전광역시 유성구
3 이우철 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손창규 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *** *동 ****호(역삼동, 성지하이츠*차빌딩)(글로벌혜성특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.10.23 수리 (Accepted) 1-1-2006-0760613-03
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.07.13 수리 (Accepted) 1-1-2009-0423122-30
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.04.23 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.05.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0030555-56
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.08.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0349392-96
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.10.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0652793-74
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0738079-87
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.12.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0805559-41
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.12.07 수리 (Accepted) 1-1-2010-0805506-32
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0147047-12
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.05.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0340016-88
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0339884-56
13 등록결정서
Decision to grant
2011.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0467248-09
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5000389-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.12.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5161532-51
16 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2018.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2018-0920426-95
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.12 수리 (Accepted) 4-1-2018-5227604-80
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5261818-30
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164284-96
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저항값을 변화시킬 수 있는 시험 장치로서, 외부 회로에 각각 연결되는 한 쌍의 모 저항체, 상기 모 저항체에 대한 착탈을 조절할 수 있는 레버가 설치되어 있는 둘 또는 그 이상의 가변 저항체들, 및 상기 모 저항체와 가변 저항체의 외부를 감싸는 절연성 하우징을 포함하고, 상기 레버가 하우징 외부로 돌출되도록 체결되어 있는 가변 저항 장치; 테스트 시편; 및 상기 테스트 시편과 가변 저항 장치의 연결회로 상에 위치하는 스위치;를 포함하고 있고, 이차전지의 단락특성을 평가하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 시험 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 가변 저항체들은 각각 동일한 저항값을 가지며, 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체의 수를 변경하는 것을 특징으로 하는 시험 장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 가변 저항체들 중 적어도 두 개의 가변 저항체들은 저항값이 다르며, (i) 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체를 선택하거나, 또는 (ii) 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체의 수를 변경하거나, 또는 (iii) 소망하는 저항값에 따라 모 저항체에 부착되는 가변 저항체를 선택하고 가변 저항체의 수를 변경하는 것을 특징으로 하는 시험 장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 모 저항체들은 서로 평행하게 배열된 한 쌍의 바 부재들이며, 상기 가변 저항체들은 상기 바 부재들을 따라 소정의 간격으로 수평 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 모 저항체들은 서로 평행하게 배열된 한 쌍의 바 부재들이며, 상기 가변 저항체들은 상기 바 부재들에 대해 소정의 간격으로 수직 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
6 6
제 4 항에 있어서, 상기 가변 저항체들 중 적어도 하나의 가변 저항체 상에는 수직 방향으로 착탈 가능하게 배열된 하나 이상의 또 다른 가변 저항체들이 더 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 하우징의 일측에는 가변 저항 장치의 과열을 방지하기 위한 냉각팬이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치
10 10
삭제
11 11
삭제
12 12
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.