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측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판 및 이를 갖는이동단말기

  • 기술번호 : KST2015045927
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 인쇄회로기판과; 인쇄회로기판의 하면에 실장되는 부품소자와; 인쇄회로기판의 상면 및 하면을 잇는 측면에 형성되는 테스트포인트와; 부품소자의 신호단자와 테스트포인트를 회로적으로 연결하는 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판에 관한 것이다.또한, 본 발명은 이러한 인쇄회로기판의 테스트포인트가 단말기 본체 측면의 개폐캡을 통해 외부로 노출됨으로써 제품의 분해 없이, 실장된 부품소자의 신호 테스트가 가능한 이동단말기에 관한 것이다.테스트포인트, 인쇄회로기판, 소자, 신호, 비아홀
Int. CL H04B 1/38 (2006.01) H05K 1/18 (2006.01)
CPC H05K 1/184(2013.01) H05K 1/184(2013.01) H05K 1/184(2013.01)
출원번호/일자 1020060114731 (2006.11.20)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1280435-0000 (2013.06.24)
공개번호/일자 10-2008-0045519 (2008.05.23) 문서열기
공고번호/일자 (20130628) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.15)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박인규 대한민국 경기도 광명시 광

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2006-0848814-14
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2007.09.12 수리 (Accepted) 1-1-2007-0660325-70
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2011.11.15 수리 (Accepted) 1-1-2011-0900194-76
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.07.20 수리 (Accepted) 9-1-2012-0056451-84
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0676850-56
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.01.09 수리 (Accepted) 1-1-2013-0021339-40
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.01.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0021340-97
12 등록결정서
Decision to grant
2013.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0266799-09
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
인쇄회로기판과;상기 인쇄회로기판의 하면에 실장되는 부품소자와;상기 인쇄회로기판의 상면 및 하면을 잇는 측면에 형성되는 테스트포인트와;상기 부품소자의 신호단자와 상기 테스트포인트를 회로적으로 연결할 수 있도록 구성된 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트;를 포함하고,상기 테스트포인트는 상기 상면의 연결부에서 시작되어 상기 상면의 모서리로부터 상기 하면의 모서리를 향하여 소정의 길이 만큼 형성된 복수의 제1 테스트 포인트와, 상기 하면의 연결부에서 시작되어 상기 하면의 모서리로부터 상기 복수의 제1 테스트포인트에 각각 대향되도록 소정의 길이 만큼 형성된 복수의 제2 테스트포인트를 구비하는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판
2 2
제1항에 있어서,상기 테스트포인트는 상하방향으로 2개 층 이상 형성되는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판
3 3
제2항에 있어서,상기 인쇄회로기판에는 상하면을 관통하는 테스트포인트용 비아홀(via hole)이 형성되고,상기 연결부 중 일부는 상기 테스트포인트용 비아홀(via hole)을 경유하여 반대면으로부터 상기 테스트포인트에 회로적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판
4 4
제1항에 있어서,상기 인쇄회로기판은 제1인쇄회로기판, 제2인쇄회로기판, …, 제n인쇄회로기판이 다층으로 적층 형성되고,상기 테스트포인트는 상기 n개의 인쇄회로기판 중 적어도 2개의 인쇄회로기판 측면에 형성되는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판
5 5
제4항에 있어서,상기 테스트포인트가 형성되는 인쇄회로기판 중 적어도 하나의 인쇄회로기판에는 상하면을 관통하는 테스트포인트용 비아홀(via hole)이 형성되고,상기 연결부 중 일부는 상기 비아홀(via hole)을 경유하여 반대면으로부터 상기 테스트포인트에 회로적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판
6 6
제1항 내지 제5항 중 어느 하나의 인쇄회로기판과;상기 인쇄회로기판이 실장되는 단말기 본체와;상기 테스트포인트가 외부에 노출되도록 상기 단말기 본체 측면에 형성되는 개방공과;상기 개방공을 개폐하는 개폐캡을 포함하는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판을 갖는 이동단말기
7 7
제6항에 있어서,상기 각각의 테스트포인트에는 검사장치와의 회로적 연결을 용이하게 하기 위하여 패드가 돌출·형성되는 것을 특징으로 하는 측면에 테스트포인트가 형성된 인쇄회로기판을 갖는 이동단말기
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.