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탄소 나노 튜브를 통한 내열성 개선의 감광성 수지 조성물

  • 기술번호 : KST2015046641
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 a) 알칼리 가용성 수지, b) 감광제, c) 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브 및 d) 유기 용매를 포함하는 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물을 제공한다. 본 발명의 감광성 수지 조성물을 사용하면 패턴 형성시 노광부와 비노광부의 현상성 차이가 크고 감도, 해상도 및 내열 특성이 매우 우수하며, 전자소자의 금속막, 반도체막 또는 보호막 등의 회로 형성을 유용하게 할 수 있다. 감광성 수지 조성물, 알칼리 가용성 수지, 감광제, 내열성 개선제, 유기 용매, 탄소 나노 튜브
Int. CL G03F 7/004 (2006.01) B82B 3/00 (2006.01)
CPC G03F 7/0042(2013.01) G03F 7/0042(2013.01)
출원번호/일자 1020060132369 (2006.12.22)
출원인 주식회사 엘지화학
등록번호/일자 10-1034346-0000 (2011.05.03)
공개번호/일자 10-2008-0058558 (2008.06.26) 문서열기
공고번호/일자 (20110516) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.18)
심사청구항수 28

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신혜인 대한민국 서울 송파구
2 최보윤 대한민국 대전 유성구
3 손용구 대한민국 경기 수원시 권선구
4 박찬효 대한민국 대전 유성구
5 김경준 대한민국 대전 유성구
6 서성우 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2006-0952828-15
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.09.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0575852-16
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2009-0575935-18
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.07.01 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.08.13 수리 (Accepted) 9-1-2010-0048607-08
6 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2010.08.25 수리 (Accepted) 1-1-2010-0549926-66
7 등록결정서
Decision to grant
2011.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0212516-27
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5000389-31
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.12.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5161532-51
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.12 수리 (Accepted) 4-1-2018-5227604-80
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5261818-30
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164284-96
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 알칼리 가용성 수지 3 내지 30 중량부; b) 감광제 1 내지 10 중량부; c) 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브 0
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 a) 알칼리 가용성 수지 화합물이 중량 평균 분자량 2,500 내지 15,000 범위의 노볼락 수지인 것인 감광성 수지 조성물
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 b) 감광제는 퀴논디아지드류 화합물과 폴리페놀류 화합물의 에스테르화 반응 화합물인 것인 감광성 수지 조성물
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 c) 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브는 다중벽 탄소 나노 튜브(MWNT), 이중벽 탄소 나노 튜브(DWNT), 단일벽 탄소 나노 튜브(SWNT)의 구조, 암체어(arm-chair), 지그재그(zig-zag) 또는 카이럴(chiral)구조로 이루어진 군에서 선택된 한 종 또는 그 이상의 다발로 이루어진 것인 감광성 수지 조성물
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브는 산처리에 의해 개질된 탄소 나노 튜브인 것인 감광성 수지 조성물
6 6
청구항 5에 있어서, 상기 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브는 황산, 질산 또는 황산과 질산의 혼합물에 의해 개질된 탄소 나노 튜브인 것인 감광성 수지 조성물
7 7
청구항 6에 있어서, 상기 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브는 황산과 질산을 1:1 내지 3:1의 비율로 혼합한 혼합물에 의해 개질된 탄소 나노 튜브인 것인 감광성 수지 조성물
8 8
청구항 1에 있어서, 상기 d) 유기 용매가 케톤류, 글리콜에테르류 및 아세테이트류로 이루어지는 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는 것인 감광성 수지 조성물
9 9
청구항 1에 있어서
10 10
기판 상에 알칼리 가용성 수지 3 내지 30 중량부, 감광제 1 내지 10 중량부, 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브 0
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 기판은 금속 기판, 반도체 막 또는 절연막인 것을 특징으로 하는 포토레지스트 막의 제조방법
12 12
청구항 10에 있어서, 상기 포토레지스트 막의 두께는 1 내지 3㎛인 것인 포토레지스트 막의 제조방법
13 13
청구항 10에 있어서, 상기 경화는 80 내지 115℃에서 1 내지 5분간 실시하는 것인 포토레지스트 막의 제조방법
14 14
청구항 10의 방법에 의하여 제조된 포토레지스트 막
15 15
a) 기판 상에 알칼리 가용성 수지 3 내지 30 중량부, 감광제 1 내지 10 중량부, 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브 0
16 16
청구항 15에 있어서, 상기 기판은 금속 기판, 반도체 막 또는 절연막인 것인 포토레지스트 패턴의 제조방법
17 17
청구항 15에 있어서, 상기 포토레지스트 막의 두께는 1 내지 3㎛인 것인 포토레지스트 패턴의 제조방법
18 18
청구항 15에 있어서, 상기 프리 베이크는 80 내지 115℃에서 1 내지 5분간 실시하는 것인 포토레지스트 패턴의 제조방법
19 19
청구항 15에 있어서, 상기 노광 조건은 20 내지 200mJ/cm2인 것인 포토레지스트 패턴의 제조방법
20 20
청구항 15에 있어서, 상기 포스트 베이크는 120 내지 150℃에서 2 내지 5분간 실시하는 것인 포토레지스트 패턴의 제조방법
21 21
청구항 15의 방법에 의하여 제조된 포토레지스트 패턴
22 22
청구항 14의 포토레지스트 막 또는 청구항 21의 포토레지스트 패턴을 포함하는 전자소자
23 23
a) 기판 상에 알칼리 가용성 수지 3 내지 30 중량부, 감광제 1 내지 10 중량부, 화학적 개질처리된 탄소 나노 튜브 0
24 24
청구항 23에 있어서, 상기 기판은 금속 기판, 반도체 막 또는 절연막인 것인 패턴화된 기판의 제조방법
25 25
청구항 23에 있어서, 상기 포토레지스트 막의 두께는 1 내지 3㎛인 것인 패턴화된 기판의 제조방법
26 26
청구항 23에 있어서, 상기 프리 베이크는 80 내지 115℃에서 1 내지 5분간 실시하는 것인 패턴화된 기판의 제조방법
27 27
청구항 23에 있어서, 상기 노광 조건은 20 내지 200mJ/cm2인 것인 패턴화된 기판의 제조방법
28 28
청구항 23에 있어서, 상기 포스트 베이크는 120 내지 150℃에서 2 내지 5분간 실시하는 것인 패턴화된 기판의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.