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투명 도전 산화막, 이의 제조방법, 인듐-주석 복합 산화물,및 소결체

  • 기술번호 : KST2015047170
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, a) 인듐(In), b) 주석(Sn), c) 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 및 바륨(Ba)으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속(M), 및 d) 산소(O)를 함유하는 금속산화물로 형성된 투명 도전 산화막으로서, 상기 a) 인듐(In) 및 상기 b) 주석(Sn)을 총 금속 원소에 대해 80 ~ 99 at.% 비율로 함유하되, 상기 a) 인듐(In)은 총 금속 원소에 대해 0 초과 60 at.% 이하의 비율로 함유되며, 상기 c) 마그네슘(Mg), 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr), 및 바륨(Ba)으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속(M)은 총 금속 원소에 대해 1 ~ 20 at.%의 비율로 함유되는 것인 투명 도전 산화막, 상기 투명 도전 산화막의 제조방법, 상기 투명 도전 산화막을 이용하여 형성된 투명 전극, 상기 투명 전극을 포함하는 전자장치, 인듐-주석 복합 산화물, 소결체, 상기 소결체를 이용한 증착재료 및 스퍼터링 타겟을 제공한다.투명 도전 산화막, 인듐, 주석, 마그네슘, 칼슘, 스트론튬, 바륨
Int. CL G06F 3/041 (2006.01) H01B 5/14 (2006.01)
CPC H01B 5/14(2013.01) H01B 5/14(2013.01) H01B 5/14(2013.01)
출원번호/일자 1020070005690 (2007.01.18)
출원인 주식회사 엘지화학
등록번호/일자 10-1251134-0000 (2013.03.29)
공개번호/일자 10-2008-0068228 (2008.07.23) 문서열기
공고번호/일자 (20130404) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.01.19)
심사청구항수 23

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김병주 대한민국 전라북도 전주시 덕진구
2 방정식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 엘지화학 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2007-0053231-16
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2011.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2011-0040854-63
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2011.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2011-0044203-54
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2011.04.08 수리 (Accepted) 1-1-2011-0259013-62
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.01.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.02.15 수리 (Accepted) 9-1-2012-0009096-87
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0447130-97
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.10.02 수리 (Accepted) 1-1-2012-0799297-66
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.10.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0799298-12
10 등록결정서
Decision to grant
2013.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0140793-15
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5000389-31
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.12.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-5161532-51
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.12 수리 (Accepted) 4-1-2018-5227604-80
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5261818-30
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164284-96
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 인듐(In), b) 주석(Sn), c) 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr) 및 바륨(Ba)으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속(M) 및 d) 산소(O)를 함유하는 금속산화물로 형성된 투명 도전 산화막으로서,상기 a) 인듐(In) 및 상기 b) 주석(Sn)을 총 금속 원소에 대해 80 ~ 99 at
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 금속산화물은 상기 a) 인듐(In)의 산화물로 In2O3, 상기 b) 주석(Sn)의 산화물로 SnO2, 및 상기 c) 금속(M)의 산화물로 MO을 포함하는 것인 투명 도전 산화막
3 3
청구항 1에 있어서, 상기 투명 도전 산화막은 플라스틱 기판 또는 유리 기판 상에 형성되는 것인 투명 도전 산화막
4 4
청구항 3에 있어서, 상기 플라스틱 기판은 폴리카보네이트 (polycarbonate), 폴리에틸렌 테레프탈레이드 (polyethylene terephthalate), 폴리에틸렌 나프탈레이트 (polyethylene naphthalate), 폴리아릴레이트 (polyallylate), 폴리에테르 술폰 (polyether sulfone), 비정질 폴리올레핀 (amorphous polyolefin), 폴리스티렌 (polystyrene), 및 아크릴 수지 중 선택된 1종 이상으로 형성된 것인 투명 도전 산화막
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 투명 도전 산화막은 스퍼터링(sputtering)법, 화학기상증착(CVD)법, 졸-겔(sol-gel)법, 스핀 코팅(spin coating)법, 전자 빔 증착(E-Beam evaporation)법, 펄스레이저증착(PLD)법, 및 이온플레이팅(Ion plating)법 중에서 선택되는 방법으로 형성되는 것인 투명 도전 산화막
6 6
청구항 1에 있어서, 상기 투명 도전 산화막은 아르곤-수소 혼합가스를 스퍼터링 가스로 하여 스퍼터링(sputtering)법에 의해 형성되는 것인 투명 도전 산화막
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 투명 도전 산화막은 수소 농도가 0 초과 1% 이하인 아르곤-수소 혼합가스를 스퍼터링 가스로 하여 스퍼터링(sputtering)법에 의해 형성되는 것인 투명 도전 산화막
8 8
청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 따른 투명 도전 산화막은 비저항(resistivity)이 5 × 10-3 Ωcm 이하인 것인 투명 도전 산화막
9 9
청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 따른 투명 도전 산화막으로 형성된 것인 투명 전극
10 10
청구항 9에 따른 투명 전극을 포함하는 전자장치
11 11
청구항 10에 따른 전자장치는 디스플레이장치 또는 태양 전지인 것인 전자장치
12 12
a) 인듐(In), b) 주석(Sn), c) 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr) 및 바륨(Ba)으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속(M), 및 d) 산소(O)를 함유하는 인듐-주석 복합 산화물로서,상기 a) 인듐(In) 및 상기 b) 주석(Sn)을 총 금속 원소에 대해 80 ~ 99 at
13 13
청구항 12에 있어서, 상기 인듐-주석 복합 산화물은 상기 a) 인듐(In)의 산화물로 In2O3, 상기 b) 주석(Sn)의 산화물로 SnO2, 및 상기 c) 금속(M)의 산화물로 MO을 포함하는 것인 인듐-주석 복합 산화물
14 14
a) 인듐(In), b) 주석(Sn), c) 칼슘(Ca), 스트론튬(Sr) 및 바륨(Ba)으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상의 금속(M), 및 d) 산소(O)를 함유하는 금속산화물로 형성된 소결체로서,상기 a) 인듐(In) 및 상기 b) 주석(Sn)을 총 금속 원소에 대해 80 ~ 99 at
15 15
청구항 14에 있어서, 상기 금속산화물은 상기 a) 인듐(In)의 산화물로 In2O3, 상기 b) 주석(Sn)의 산화물로 SnO2, 및 상기 c) 금속(M)의 산화물로 MO을 포함하는 것인 소결체
16 16
청구항 14 또는 청구항 15에 따른 소결체를 사용하여 박막증착용 타겟을 준비하는 단계; 및아르곤-수소 혼합가스를 분위기 가스로 사용하여, 아르곤-수소 분위기 하에서 상기 박막증착용 타켓을 기판 위에 투명 도전 산화막으로 성장시키는 단계를 포함하는 투명 도전 산화막의 제조방법
17 17
청구항 16에 따른 투명 도전 산화막의 제조방법은 스퍼터링(sputtering)법, 전자 빔 증착(E-Beam evaporation)법, 및 이온플레이팅(Ion plating)법 중에서 선택되는 방법을 이용하는 것인 투명 도전 산화막의 제조방법
18 18
청구항 16에 있어서, 상기 아르곤-수소 혼합가스에서 상기 수소 농도가 0 초과 1% 이하인 것인 투명 도전 산화막의 제조방법
19 19
청구항 14 또는 청구항 15에 따른 소결체를 이용한 증착재료
20 20
청구항 14 또는 청구항 15에 따른 소결체를 이용한 스퍼터링 타겟
21 21
청구항 20에 따른 스퍼터링 타겟을 준비하는 단계;아르곤-수소 혼합가스를 스퍼터링 가스로 하여, 아르곤-수소 분위기 하에서 상기 스퍼터링 타겟에 전력을 인가하는 단계; 및스퍼터에 의해 상기 스퍼터링 타겟을 기판 위에 투명 도전 산화막으로 성장시키는 단계를 포함하는 투명 도전 산화막의 제조방법
22 22
청구항 21에 따른 투명 도전 산화막의 제조방법은 RF 마그네트론 스퍼터링법을 이용하는 것인 투명 도전 산화막의 제조방법
23 23
청구항 21에 있어서, 상기 아르곤-수소 혼합가스에서 상기 수소 농도가 0 초과 1% 이하인 것인 투명 도전 산화막의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.