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태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 태양전지의제조방법

  • 기술번호 : KST2015048163
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 태양전지의 선택적 에미터 형성방법 및 태양전지의 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 선택적 에미터 형성방법은 스크린 프린팅을 이용한 태양전지의 선택적 에미터 형성방법으로서, 지지체 및 상기 지지체를 통해 도펀트 페이스트가 통과하지 못하도록 상기 지지체 상에 형성되는 비인쇄 라인을 포함하되, 상기 비인쇄 라인 간의 간격이 인쇄 대상 반도체 기판의 헤비 도핑되어야 할 영역에 대응하는 부분에서 상기 반도체 기판의 라이트 도핑되어야 할 영역에 대응하는 부분에서보다 더 크도록 스크린 메쉬를 준비하는 단계; 상기 스크린 메쉬를 상기 반도체 기판 위에 위치시킨 후, 도펀트 페이스트를 스크린 프린터를 이용하여 상기 반도체 기판 위에 인쇄하는 단계; 및 상기 도펀트 페이스트가 인쇄된 반도체 기판을 열처리하여 도펀트를 확산시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 선택적 에미터 형성방법 및 태양전지의 제조방법에 따르면, 태양전지의 에미터층과 전극 사이의 접촉 저항을 낮추기 위한 선택적 에미터를 선폭이 적절히 조절된 스크린 메쉬를 이용함으로써 페이스트의 옆퍼짐 현상에 의해 간단한 공정 및 저렴한 비용으로 제조할 수 있다. 태양전지, 광기전력효과, 반도체, 선택적 에미터, 비인쇄 라인, 스크린 메쉬
Int. CL H01L 31/18 (2014.01) H01L 31/04 (2014.01)
CPC H01L 31/1804(2013.01) H01L 31/1804(2013.01) H01L 31/1804(2013.01) H01L 31/1804(2013.01)
출원번호/일자 1020070042769 (2007.05.02)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1382098-0000 (2014.03.31)
공개번호/일자 10-2008-0097649 (2008.11.06) 문서열기
공고번호/일자 (20140404) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.04.26)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유재성 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0330814-99
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0159686-52
3 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.07.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0496734-16
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2012.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0332773-13
8 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.08.01 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
9 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.08.26 수리 (Accepted) 9-1-2013-0070010-26
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.09.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0611018-74
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2013-0981784-05
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.10.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0981791-14
13 등록결정서
Decision to grant
2014.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0198873-96
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
스크린 프린팅을 이용한 태양전지의 선택적 에미터 형성방법에 있어서,지지체 및 상기 지지체를 통해 도펀트 페이스트가 통과하지 못하도록 상기 지지체 상에 형성되는 비인쇄 라인을 포함하되, 상기 비인쇄 라인 간의 간격이 인쇄 대상 반도체 기판의 헤비 도핑되어야 할 제1 영역에 대응하는 부분에서 상기 반도체 기판의 라이트 도핑되어야 할 제2 영역에 대응하는 부분에서보다 더 크도록 스크린 메쉬를 준비하는 단계;상기 스크린 메쉬를 상기 반도체 기판 위에 위치시킨 후, 도펀트 페이스트를 스크린 프린터를 이용하여 상기 반도체 기판 위에 인쇄해서, 상기 제1 영역 도포된 도펀트 페이스트의 높이가 상기 제2 영역에 도포된 도펀트 페이스트의 높이보다 높게 형성하는 단계; 및 상기 도펀트 페이스트가 인쇄된 반도체 기판을 열처리하여 도펀트를 확산시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
2 2
제1항에 있어서,상기 스크린 메쉬의 비인쇄 라인의 폭은 수 ~ 80㎛인 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
3 3
제1항에 있어서,상기 스크린 메쉬의 상기 반도체 기판의 제1 영역에 대응하는 부분에서의 상기 비인쇄 라인 간의 간격은 80㎛ 이상인 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
4 4
제1항에 있어서,상기 스크린 메쉬의 상기 반도체 기판의 제2 영역에 대응하는 부분에서의 상기 비인쇄 라인 간의 간격은 수 ~ 80㎛인 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
5 5
제1항에 있어서,상기 반도체 기판은 p형 반도체 기판인 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
6 6
제5항에 있어서,상기 도펀트는 P, As, Sb로 이루어진 군에서 선택되는 것을 특징으로 하는 태양전지의 선택적 에미터 형성방법
7 7
태양전지의 선택적 에미터 형성을 위해 반도체 기판 위에 도펀트 페이스트를 스크린 프린팅하는데 사용되는 스크린 메쉬에 있어서, 지지체 및 상기 지지체를 통해 상기 도펀트 페이스트가 통과하지 못하도록 상기 지지체 상에 형성되는 비인쇄 라인을 포함하되,상기 비인쇄 라인 간의 간격은, 상기 반도체 기판의 헤비 도핑되어야 할 제1 영역에 대응하는 부분에서 상기 반도체 기판의 라이트 도핑되어야 할 제2 영역에 대응하는 부분에서보다 더 크게 형성되고,상기 비인쇄 라인의 폭은 수 ~ 80㎛인 것을 특징으로 하는 스크린 메쉬
8 8
삭제
9 9
제7항에 있어서,상기 반도체 기판의 제1 영역에 대응하는 부분에서의 상기 비인쇄 라인 간의 간격은 80㎛ 이상인 것을 특징으로 하는 스크린 메쉬
10 10
제7항에 있어서,상기 반도체 기판의 제2 영역에 대응하는 부분에서의 상기 비인쇄 라인 간의 간격은 수 ~ 80㎛인 것을 특징으로 하는 스크린 메쉬
11 11
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 따른 선택적 에미터 형성방법을 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지의 제조방법
12 12
제11항에 따른 태양전지의 제조방법을 이용하여 제조되는 태양전지
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.