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기록매체, 기록매체 기록방법 및 기록장치

  • 기술번호 : KST2015049163
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기록매체, 기록매체 기록방법 및 기록장치에 관한 것이다. 특히, 홀로그래피(Holography)를 이용한 기록매체, 기록매체 기록방법 및 기록매체 기록장치에 관한 것이다.본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 것으로, 테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡특성을 측정하는 단계; 상기 측정된 왜곡특성에 따라서, 데이터 이미지내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 단계; 상기 결정된 간격에 따라, 상기 기준패턴을 상기 데이터 이미지내에 삽입하여 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법을 제공한다.홀로그램, 왜곡특성, 보정
Int. CL G11B 7/007 (2006.01) G11B 7/0065 (2006.01) G11B 7/0045 (2006.01)
CPC G11B 7/0045(2013.01) G11B 7/0045(2013.01) G11B 7/0045(2013.01)
출원번호/일자 1020070083889 (2007.08.21)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1414606-0000 (2014.06.26)
공개번호/일자 10-2009-0019447 (2009.02.25) 문서열기
공고번호/일자 (20140703) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.08.21)
심사청구항수 39

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재성 대한민국 서울특별시 서초구
2 장영수 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 박영복 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2007-0603133-30
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0668380-19
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.08.22 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0077886-02
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0738927-40
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.12.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1187973-48
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-1187974-94
11 등록결정서
Decision to grant		 2014.04.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0281046-80
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡특성을 측정하는 단계;상기 측정된 왜곡특성에 따라서, 데이터 이미지내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 단계;상기 결정된 간격에 따라, 상기 기준패턴을 상기 데이터 이미지내에 삽입하여 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 2차원 데이터 이미지인 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 테스트 이미지는, 기준패턴이 가로 및 세로 방향으로 등간격으로 배치되어 구성된 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 기록장치의 왜곡특성을 측정하는 단계는, 상기 테스트 이미지를 기록하는 단계;상기 테스트 이미지를 재생하는 단계;상기 기록한 테스트 이미지와 재생된 테스트 이미지를 비교하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 기록한 테스트 이미지와 재생된 테스트 이미지를 비교하는 것은, 상기 테스트 이미지내의 각 기준패턴의 재생 전후의 위치 이동을 구하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 위치 이동을 구하는 것은, 이동거리와 이동방향을 구하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
7 7
제 1 항에 있어서,상기 기준패턴간의 간격은, 상기 왜곡의 정도가 심한 영역일 수록 좁은 간격으로 배치하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 기준패턴을 상기 데이터 이미지내에 삽입하는 것은, 사용자 데이터와 제어 데이터를 포함하는 데이터 이미지에 상기 기준패턴을 삽입하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
9 9
제 1 항에 있어서,상기 기록방법은, 상기 데이터 이미지내의 기준패턴의 위치 및 형상 정보를 기록매체에 기록하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 기준패턴의 위치 및 형상 정보를 기록하는 것은, 상기 기록매체에 한 번 이상 기록하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 기준패턴의 위치 및 형상 정보를 기록하는 것은, 기록매체의 할당된 영역에 기록하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 기록매체의 할당된 영역은, 상기 기록매체의 리드인(Lead-in) 영역에 할당되는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
13 13
제 1 항에 있어서,상기 기록방법은, 상기 기록장치의 왜곡특성을 기록장치의 저장공간에 기록하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
14 14
제 1 항에 있어서,상기 기록방법은 상기 데이터 이미지내의 기준패턴의 위치 및 형상 정보를 기록장치의 저장공간에 기록하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
15 15
제 1 항에 있어서,상기 기준패턴은 다분할영역으로 구성되어 있으며, 각 분할영역은 반전 또는 회전 또는 대칭관계에 있는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
16 16
제 1 항에 있어서,상기 기록방법은 홀로그램을 이용하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
17 17
제 1 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 이전에 기록 또는 재생된 데이터 이미지의 기준패턴의 집합일 수 있는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
18 18
테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡 정도를 측정하고, 상기 측정된 왜곡 정도에 따라서 데이터 이미지 내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 제어부;상기 결정된 간격에 따라, 상기 기준패턴을 상기 데이터 이미지내에 삽입하여 기록하는 광출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
19 19
제 18 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 2차원 데이터 이미지인 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
20 20
제 19 항에 있어서,상기 2차원 데이터 이미지는, 기준패턴이 가로 및 세로 방향으로 등간격으로 배치되어 구성된 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
21 21
제 18 항에 있어서,상기 왜곡 정도는 테스트 이미지의 재생 전후의 데이터를 비교하여 측정하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
22 22
제 18 항에 있어서,상기 기준패턴간의 간격을 결정하는 것은, 왜곡정도가 심한 영역일수록 상기 기준패턴간의 간격을 짧게 배치하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
23 23
테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡 정도를 측정하는 단계;상기 측정된 왜곡 정도를 기록장치에 기록하는 단계;상기 측정된 왜곡 정도에 따라서, 데이터 이미지내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
24 24
테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡 정도를 측정하는 단계;상기 측정된 왜곡 정도에 따라서, 데이터 이미지내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 단계;상기 데이터 이미지내에서 기준패턴간의 간격을 기록매체에 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
25 25
테스트 이미지를 이용하여 기록장치의 왜곡특성을 측정하는 단계;상기 측정된 왜곡특성에 따라서, 데이터 이미지내에서 기준패턴 간의 간격을 결정하는 단계;상기 결정된 간격에 따라, 상기 기준패턴을 상기 데이터 이미지내에 삽입하여 기록하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체 기록방법
26 26
기준패턴을 포함하는 테스트 이미지를 생성하여 기록하는 단계;상기 기록한 테스트 이미지를 독출하여, 기록한 테스트 이미지와 독출한 테스트 이미지를 비교하는 단계;상기 테스트 이미지의 이동을 구하여, 기록장치의 왜곡특성을 구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
27 27
제 26 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 상기 기준패턴을 포함하는 2차원 데이터 이미지인 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
28 28
제 27 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 상기 2차원 데이터 이미지내에서 등간격으로 배치된 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
29 29
제 26 항에 있어서,기록된 테스트 이미지와 독출된 테스트 이미지를 비교하는 것은, 각 테스트 이미지내의 대응되는 기준패턴을 비교하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
30 30
제 26 항에 있어서,상기 테스트 이미지의 이동을 구하는 것은, 상기 테스트 이미지내의 기준패턴의 위치 이동을 구하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
31 31
제 30 항에 있어서,각 기준패턴이 위치 이동은, 각 기준패턴의 이동거리와 이동방향을 구하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
32 32
제 26 항에 있어서,상기 기록장치의 왜곡특성은, 상기 테스트 이미지의 재생 전후의 이동 맵(map)으로 나타낸 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
33 33
제 26 항에 있어서,상기 기록장치의 왜곡특성은 기록매체의 할당된 영역에 기록하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
34 34
제 26 항에 있어서,상기 기록장치의 왜곡특성은 기록장치의 저장공간에 기록되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기록장치 왜곡특성 측정방법
35 35
기록장치의 왜곡특성을 반영하여 데이터 이미지내에 삽입된 기준패턴의 위치 및 형상정보를 포함하는 제 1 영역과;상기 데이터 이미지를 포함하는 제 2 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 기록매체
36 36
제 35 항에 있어서,상기 기록장치의 왜곡특성은 테스트 이미지를 이용하여 측정된 것을 특징으로 하는 기록매체
37 37
제 36 항에 있어서,상기 테스트 이미지는 기준패턴이 등간격으로 배치된 2차원 데이터 이미지인 것을 특징으로 하는 기록매체
38 38
제 35 항에 있어서,상기 기록매체는 테스트 이미지를 더 포함할 수 있는 것을 특징으로 하는 기록매체
39 39
제 35 항에 있어서,상기 기록매체는 홀로그램을 이용하여 기록 및/또는 재생할 수 있는 것을 특징으로 하는 기록매체
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