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대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치

  • 기술번호 : KST2015050185
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요약 본 발명은 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치에 관한 것으로서, 구성요소의 분해 및 조립이 용이한 조립식으로 구성하여 전극의 교체와 같은 유지보수가 용이하고, 착탈이 용이한 스페이서의 두께 조절을 통해 상부전극과 하부전극 사이의 간격 조절이 용이하며, 상기 상부전극 및 하부전극을 직·간접적으로 냉각시킬 수 있는 쿨링시스템을 통해 상기 상부전극 및 하부전극에서 발생되는 열을 효율적으로 냉각시킴으로써 열화에 따른 손상을 방지할 수 있고, 상기 상부전극 및 하부전극에서 발생될 수 있는 아킹(arching) 현상을 최소화할 수 있는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치를 제공한다.삭제
Int. CL H01L 21/3065 (2006.01)
CPC H01J 37/32605(2013.01) H01J 37/32605(2013.01)
출원번호/일자 1020070118375 (2007.11.20)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1333878-0000 (2013.11.21)
공개번호/일자 10-2009-0051916 (2009.05.25) 문서열기
공고번호/일자 (20131127) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.11.20)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김태완 대한민국 서울특별시 서초구
2 이창헌 대한민국 서울특별시 서초구
3 방진혁 대한민국 서울특별시 서초구
4 한영호 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0832286-11
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.11.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0954809-91
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2012.11.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0954836-13
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.07.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.08.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0063271-61
9 등록결정서
Decision to grant
2013.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0795025-53
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
가스 공급부로부터 공급되는 가스를 수용하는 가스 챔버;상기 가스 챔버의 하단에 배치되어 상기 가스 챔버에 착탈가능하게 체결되고, 복수개의 가스전달홀이 마련된 중간 플레이트;상기 중간 플레이트에 착탈가능하게 체결되는 서포터;상기 서포터에 착탈가능하게 체결되는 상부전극조립체;상기 상부전극조립체의 하부에 소정 간격 이격되도록 배치되어 상기 상부전극조립체와의 방전을 통해 상기 가스를 플라즈마로 변환시키고, 변환된 플라즈마를 하부로 배출하는 복수개의 플라즈마 배출홀이 마련된 하부전극조립체;상기 하부전극조립체를 지지하도록 내측벽으로부터 돌출형성된 안착턱이 마련된 홀더; 및상기 중간플레이트와 상기 홀더를 착탈가능하게 연결하고 하단에 단차부가 형성된 브라켓을 포함하며, 상기 하부전극조립체는 상기 안착턱에 지지되고 상면에서 상기 단차부에 의해 압박되어 상기 홀더에 지지고정되는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 중간 플레이트와 상기 브라켓 사이에 착탈가능하게 개재되어 상기 상부 및 하부전극조립체 사이의 간격을 조절하는 스페이서가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 하부전극조립체의 측면과 상기 홀더의 내측벽 사이에는 갭(gap)이 존재하도록 상기 하부전극조립체의 폭방향 길이는 상기 홀더의 대향하는 내측벽간의 길이보다 작은 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 홀더와 상기 브라켓의 연결시, 상기 홀더의 상면과 상기 브라켓의 하면 사이에는 갭(gap)이 존재하는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 중간 플레이트에는 냉매 주입포트 및 냉매 배출포트가 더 마련되고, 상기 냉매 주입포트를 통해 공급되는 냉매를 상기 상부전극조립체로 전달하는 냉매 주입라인 및 상기 상부전극조립체 내부에서 순환된 냉매를 상기 냉매 배출포트로 전달하는 냉매 배출라인이 상기 중간플레이트와 상기 상부전극조립체 사이에 더 마련되는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
6 6
제 5 항에 있어서,상기 상부전극조립체는상부가 개방된 박스형 형상을 갖는 유전체;상기 유전체의 바닥부 상면에 형성된 상부전극;상기 상부전극의 상면에 접착되어 상기 서포터에 체결되고, 상기 냉매 주입라인 및 냉매 배출라인과 연결되어 공급되는 냉매가 이동하는 냉매유로가 형성된 냉각블럭;상기 상부전극과 상기 상부전극에 고전압을 인가하는 전원공급부를 연결시키는 고전압 와이어; 및상기 유전체의 내부 공간에 충진되어 상기 상부전극 및 상기 냉각블럭을 외부와 차단시키는 에폭시를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
7 7
제 6 항에 있어서,상기 에폭시는 상기 유전체와 비슷한 열팽창계수를 갖는 고전압 에폭시인 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
8 8
제 6 항에 있어서,상기 에폭시는 진공상태하에서 120℃를 유지하여 경화시킴으로써 내부에 형성될 수 있는 기포를 최소화한 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
9 9
제 6 항에 있어서,상기 유전체의 내측벽에는 상기 상부전극과 연결된 리드 단자가 더 마련되고, 상기 고전압 와이어는 상기 리드 단자와 연결됨으로써 상기 상부전극과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
10 10
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 하부전극조립체는 상기 복수개의 플라즈마 배출홀이 마련된 평판형상으로서 중심층에 배치되는 하부전극과, 상기 하부전극을 둘러싸도록 형성되어 상기 하부전극이 외부로 노출되지 않도록 하는 유전체로 구성되는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
11 11
제 10 항에 있어서,상기 하부전극조립체는 유전체를 평판형상으로 평면연마하고, 상기 유전체의 상면에 Ag를 코팅하여 하부전극을 형성하고, 레이저가공을 통해 상기 하부전극에 복수개의 단차홀을 형성하고, 상기 유전체 및 하부전극을 덮도록 유전체를 용사하고, 상기 단차홀의 중심축을 기준으로 상기 단차홀보다 작은 직경을 갖는 홀을 뚫어 상기 복수개의 플라즈마 배출홀을 형성하여 제조된 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
12 12
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 홀더에는 냉매 주입포트 및 냉매 배출포트가 더 마련되고,상기 홀더의 내부에는 상기 홀더의 냉매 주입 및 배출포트와 연결되어 공급되는 냉매가 순환하는 냉매유로가 형성되어 상기 하부전극조립체를 간접적으로 냉각시키는 것을 특징으로 하는 대기압 플라즈마를 이용한 표면처리장치
13 13
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2 CN101441986 CN 중국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.