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질화물 반도체 레이저 다이오드 및 그의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015050509
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요약 본 발명은 질화물 반도체 레이저 다이오드 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 상부 일측면 전체의 가장자리가 제거된 그루브 라인이 형성된 질화물 기판과; 상기 질화물 기판 상부에 형성되며, 레이저가 방출하는 반도체 레이저 다이오드 구조물을 포함하여 구성된다.따라서, 본 발명은 반도체 레이저 다이오드 구조물을 성장시키는 도중에 발생된 응력으로 인한 크랙(Clack) 발생을 기판의 그루브 라인들에서 성장된 반도체 에피층 사이로 한정시켜 전파를 차단하여 고품질 에피층을 성장시킬 수 있는 장점이 있다.더불어, 본 발명은 크랙에 의한 반도체 레이저 다이오드 소자의 손상을 최소화할 수 있어, 생산 수율을 향상시킬 수 있게 된다. 레이저, 다이오드, 그루브, 기판, 전위, 크랙, 전파
Int. CL H01S 3/0941 (2006.01)
CPC H01S 3/09415(2013.01) H01S 3/09415(2013.01) H01S 3/09415(2013.01) H01S 3/09415(2013.01) H01S 3/09415(2013.01)
출원번호/일자 1020070133348 (2007.12.18)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1362504-0000 (2014.02.06)
공개번호/일자 10-2009-0065838 (2009.06.23) 문서열기
공고번호/일자 (20140213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.21)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 방규현 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2007-0910597-13
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2008-5128387-76
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2012.06.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0494143-24
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.02.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.03.11 수리 (Accepted) 9-1-2013-0016799-64
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0582276-66
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.10.23 수리 (Accepted) 1-1-2013-0957031-36
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.10.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0957114-27
11 등록결정서
Decision to grant
2014.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0075441-80
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
상부 일측면의 가장자리가 제거된 단차 형태의 그루브 라인이 형성된 질화물 기판과; 상기 질화물 기판 상부에 형성되며, 레이저가 방출하는 반도체 레이저 다이오드 구조물을 포함하여 구성되고, 상기 그루브 라인들에서 질화물 반도체는 3차원 성장 모드로 성장되고,상기 그루브 라인들이 형성되어 있지 않은 질화물 반도체는 2차원 성장 모드로 성장되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 그루브 라인 표면에는,상기 반도체 레이저 다이오드 구조물을 형성하기 위한, 이종 결정핵생성(Heterogenious nucleation)을 촉진시킬 수 있는 시드(Seed)층이 더 형성되어 있고,상기 시드층 상부에 반도체 레이저 다이오드 구조물이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
3 3
청구항 2에 있어서, 상기 시드층은,산화물, 질화물과 금속 중 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
4 4
청구항 1에 있어서, 상기 그루브 라인 표면에는, 미세 돌기가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 그루브 라인들의 표면 거칠기는, 10 ~ 1000Å인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
6 6
청구항 1 내지 5 중 한 항에 있어서, 상기 그루브 라인은,레이저가 방출하는 면과 수직하게 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
7 7
청구항 1 내지 5 중 한 항에 있어서, 상기 질화물 기판에는, 상부 타측면의 가장자리가 제거된 단차 형태의 다른 그루브 라인이 더 구비된 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
8 8
삭제
9 9
청구항 1 내지 5 중 한 항에 있어서, 상기 그루브 라인들 각각은 연속적으로 이어진 스트라이프 형상으로 형성되어 있거나, 또는 복수개의 그루브들이 배열된 형상으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드
10 10
질화물 기판 상부에 복수개의 그루브(Groove) 라인들을 형성하는 단계와;상기 질화물 기판 상부에 질화물 반도체를 성장시켜 반도체 레이저 다이오드 구조물을 성장시키는 단계와;상기 그루브 라인들에서 성장된 질화물 반도체 에피층 내부를 다이싱(Dicing)하는 과정을 포함하여 개별 반도체 레이저 다이오드 칩으로 분리하는 단계로 구성되며, 상기 반도체 레이저 다이오드 구조물을 성장시키는 단계에서 상기 그루브 라인들에서 질화물 반도체는 3차원 성장 모드로 성장되고, 상기 그루브 라인들이 형성되어 있지 않은 질화물 기판 표면에서 질화물 반도체는 2차원 성장 모드로 성장되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드의 제조 방법
11 11
삭제
12 12
청구항 10에 있어서, 상기 질화물 기판 상부에 복수개의 그루브(Groove) 라인들을 형성하는 단계와 개별 반도체 레이저 다이오드 칩으로 분리하는 단계 사이에, 상기 그루브 라인들 표면에 산화물, 질화물과 금속 중 하나로 이루어진 시드층을 형성하는 단계가 더 구비된 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드의 제조 방법
13 13
청구항 10에 있어서, 상기 그루브 라인의 단면 형상은,원호 모양, 삼각형, 사각형과 하부가 좁고 상부가 넓은 사각형 중 하나인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드의 제조 방법
14 14
청구항 10에 있어서, 상기 그루브 라인들의 깊이는 1~10㎛이고, 폭은 1~100㎛인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 레이저 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.