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액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015052178
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 기판 상에 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계와; 상기 드레인 전극과 접촉하는 화소전극을 형성하는 단계와; 상기 소스 및 드레인 전극과 이들 두 전극 사이의 이격영역에 동일한 형태 및 면적을 가지고 완전 중첩하며 순차 적층된 유기 반도체층과, 게이트 절연막과, 제 1 금속물질로 제 1 게이트 전극 패턴을 형성하고, 상기 제 1 게이트 전극 패턴 상부에 제 2 금속물질로 상기 제 1 게이트 전극 패턴과 동일한 형태를 가지며 완전 중첩하고 상기 제 1 게이트 전극의 테두리를 노출시키는 제 2 게이트 전극 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제 1 게이트 전극 패턴 위로 상기 제 1 게이트 전극 패턴을 노출시키는 게이트 콘택홀과 상기 화소전극을 노출시키는 오픈부를 갖는 보호층을 형성하는 단계와; 상기 보호층 위로 상기 게이트 콘택홀을 통해 상기 제 1 게이트 전극 패턴과 접촉하는 게이트 배선을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법을 제공한다. 유기박막트랜지스터, 이중게이트전극, 유기반도체층, 누설전류, 쇼트
Int. CL H01L 29/786 (2006.01) G02F 1/136 (2006.01)
CPC H01L 27/283(2013.01) H01L 27/283(2013.01) H01L 27/283(2013.01)
출원번호/일자 1020080044910 (2008.05.15)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1454751-0000 (2014.10.20)
공개번호/일자 10-2009-0119077 (2009.11.19) 문서열기
공고번호/일자 (20141027) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.04.30)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 노영훈 대한민국 대구광역시 동구
2 강한샘 대한민국 경기도 수원시 장안구
3 김민주 대한민국 서울특별시 영등포구
4 강호철 대한민국 경기도 군포시 광정로 ***, 솔거대림아파트 *
5 김대원 대한민국 서울특별시 중구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 네이트특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, ***호(역삼동, 하나빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2008-0344250-55
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2013-0380639-18
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.12.26 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0011498-00
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.04.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0276683-25
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2014-0551780-38
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.06.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0551781-84
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0568428-15
12 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2014.09.12 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2014-0034501-75
13 등록결정서
Decision to grant
2014.10.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0707308-17
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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기판 상에 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계와;상기 드레인 전극과 접촉하는 화소전극을 형성하는 단계와;상기 소스 및 드레인 전극과 이들 두 전극 사이의 이격영역에 동일한 형태 및 면적을 가지고 완전 중첩하며 순차 적층된 유기 반도체층과, 게이트 절연막과, 제 1 금속물질로 제 1 게이트 전극 패턴을 형성하고, 상기 제 1 게이트 전극 패턴 상부에 제 2 금속물질로 상기 제 1 게이트 전극 패턴과 동일한 형태를 가지며 완전 중첩하고 상기 제 1 게이트 전극 패턴의 테두리를 노출시키는 제 2 게이트 전극 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제 2 게이트 전극 패턴 위로 상기 제 2 게이트 전극 패턴을 노출시키는 게이트 콘택홀과 상기 화소전극을 노출시키는 오픈부를 갖는 보호층을 형성하는 단계와;상기 보호층 위로 상기 게이트 콘택홀을 통해 상기 제 2 게이트 전극 패턴과 접촉하는 게이트 배선을 형성하는 단계를 포함하며, 순차 적층된 상기 유기 반도체층과 게이트 절연막과 제 1 게이트 전극 패턴을 형성하고 상기 제 1 게이트 전극 패턴 상부에 상기 제 1 게이트 전극 패턴의 테두리를 노출시키는 상기 제 2 게이트 전극 패턴을 형성하는 단계는, 상기 화소전극 상부로 상기 기판 전면에 순차적으로 유기 반도체 물질층과, 유기 절연물질층과, 건식식각이 가능한 상기 제 1 금속물질로 이루어지는 제 1 금속층과, 상기 제 2 금속물질로 이루어지는 제 2 금속층을 형성하는 단계와, 상기 제 2 금속층 위로 상기 소스 및 드레인 전극 및 이들 두 전극 사이의 이격간격에 대응하여 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 상기 포토레지스트 패턴 외부로 노출된 상기 제 2 금속층에 대해 습식식각을 진행함으로써 상기 포토레지스트 패턴보다 작은 폭을 가지며 상기 포토레지스트 패턴에 대해 언더컷 형태를 갖는 상기 제 2 게이트 전극 패턴을 형성하는 단계와, 상기 제 2 게이트 전극 패턴 상부의 상기 포토레지스트 패턴을 블록킹 마스크로 하여 상기 제 1 금속층과 상기 유기 절연물질층과 상기 유기 반도체 물질층을 이방성 특성을 갖는 건식식각을 진행함으로써 상기 포토레지스트 패턴과 동일한 폭을 가져 상기 제 2 게이트 전극 패턴의 외측으로 테두리가 노출된 상태를 이루는 상기 제 1 게이트 전극패턴과, 상기 게이트 절연막과 상기 유기 반도체층을 형성하는 단계와, 상기 포토레지스트 패턴을 애싱을 진행하여 제거하는 단계를 포함하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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삭제
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제 1 항에 있어서, 상기 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계는, 상기 소스 전극과 연결되는 데이터 배선을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 게이트 배선은 상기 화소전극과 중첩하도록 형성함으로써 상기 보호층을 사이에 두고 서로 중첩하는 게이트 배선과 화소전극이 스토리지 커패시터를 이루도록 하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 제 1 금속물질은 크롬(Cr) 또는 티타늄(Ti)인 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 제 2 금속물질은 금(Au), 은(Ag), 구리(Cu), 몰리티타늄(MoTi), 알루미늄(Al), 알루미늄네오디뮴(AlNd), 니켈(Ni), 몰리브덴(Mo) 중 하나인 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 소스 및 드레인 전극을 형성하기 전에 상기 기판 전면에 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)으로 이루어진 버퍼층을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 게이트 배선 위로 제 2 보호층을 형성하는 단계를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.