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우네리 측정 장비 및 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015052463
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요약 본 발명은 우네리 측정 장비에 관한 것으로, 보다 상세하게는 글래스 기판의 표면에 미세란 굴곡으로 나타나는 우네리의 종류를 사전에 판별할 수 있는 우네리 측정 장비에 관한 것이다.이를 위한 본 발명에 따른 우네리 측정 장비는 외부의 빛을 차단하는 챔버와; 상기 챔버 내부의 일 측에서 자외선을 생성하는 광원과; 상기 광원과 평행하게 이격된 형광 스크린과; 상기 광원 및 형광 스크린의 이격된 사이 공간에 평행하게 배치된 측정 글래스 기판과; 상기 형광 스크린과 이격된 일 측에 위치하고, 상기 광원으로부터의 자외선을 측정 글래스 기판에 조사하여 상기 측정 글래스 기판의 어느 면에 우네리가 존재하는 가를 탐지하는 측정 카메라를 포함하는 것을 특징으로 한다.전술한 우네리 측정 장비는 측정 글래스 기판의 어느 표면에 우네리가 존재하는가를 사전에 판별할 수 있는 바, 생산 수율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.
Int. CL G01B 11/30 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) G01B 7/34 (2006.01)
CPC G01B 11/30(2013.01) G01B 11/30(2013.01) G01B 11/30(2013.01) G01B 11/30(2013.01) G01B 11/30(2013.01)
출원번호/일자 1020080052788 (2008.06.04)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1458795-0000 (2014.10.31)
공개번호/일자 10-2009-0126621 (2009.12.09) 문서열기
공고번호/일자 (20141110) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.05.27)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 오금미 대한민국 서울 서대문구
2 김욱성 대한민국 서울특별시 양천구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 네이트특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, ***호(역삼동, 하나빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.06.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0402964-85
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2013-0469088-69
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.03.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.04.08 수리 (Accepted) 9-1-2014-0026759-62
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0296924-03
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2014-0606410-39
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.06.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0606411-85
11 등록결정서
Decision to grant
2014.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0745782-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
외부의 빛을 차단하는 챔버와;상기 챔버 내부의 상부 일 측에서 자외선을 생성하는 광원과;상기 광원과 평행하게 이격되어 상기 챔버 내부의 하부 일측에 위치하는 형광 스크린과;상기 광원 및 형광 스크린의 이격된 사이 공간에 평행하게 배치된 측정 글래스 기판과;상기 형광 스크린과 이격된 일 측에 위치하고, 상기 광원으로부터 방출된 자외선이 측정 글래스 기판을 통과하여 상기 형광스크린에 발광된 패턴으로 상기 측정 글래스 기판의 상부 또는 하부 표면에 형성된 우네리의 종류와 위치를 탐지하는 측정 카메라를 포함하는 우네리 측정 장비
2 2
제 1 항에 있어서,상기 자외선은 300 ~ 400nm의 파장대를 가지는 것을 특징으로 하는 우네리 측정 장비
3 3
제 1 항에 있어서,상기 자외선은 야광 램프와 포충용 자외선 램프를 포함하는 자외선 램프인 것을 특징으로 하는 우네리 측정 장비
4 4
제 1 항에 있어서,상기 형광 스크린은 상기 자외선에 의해 발광하는 형광 물질이 도포된 것을 특징으로 하는 우네리 측정 장비
5 5
광원, 측정 글래스 기판, 형광 스크린 및 측정 카메라가 차례로 배치되는 우네리 측정 장비에 있어서,제논 램프를 이용한 우네리 측정 장비로 상기 측정 글래스 기판에서의 우네리 발생 지점을 확인하는 단계와;상기 광원으로부터의 자외선을 상기 측정 글래스 기판의 우네리 발생 지점에 조사하여 상기 우네리에 의한 굴절 패턴을 상기 형광 스크린 및 측정 카메라로 판별하는 단계를 포함하는 우네리 측정 방법
6 6
외부의 빛을 차단하는 챔버와;상기 챔버 내부의 일 측에서 자외선을 생성하는 광원과;상기 광원과 평행하게 이격 배치된 측정 글래스 기판과;상기 측정 글래스 기판과 평행하게 이격 배치되고, 상기 광원으로부터의 자외선을 상기 측정 글래스 기판에 조사하여 상기 측정 글래스 기판의 상부 또는 하부 표면에 형성된 우네리의 종류와 위치를 탐지하는 전류 검출기를 포함하는 우네리 측정 장비
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.