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액정표시패널의 불량셀 리페어방법

  • 기술번호 : KST2015052827
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요약 본 발명은 액정표시패널의 불량픽셀 리페어방법에 관한 것으로서, 그 구성은 하부기판상에 서로 교차되게 배열되어 복수개의 셀영역을 정의하는 복수개의 게이트배선과 데이터배선 및 공통배선과, 상기 게이트배선 및 데이터배선이 교차하는 지점에 형성되고 게이트전극과 액티브층 및 소스/드레인전극으로 구성된 박막트랜지스터와, 상기 드레인전극에 연결된 화소전극으로 이루어지는 복수개의 셀로 구성된 액정표시패널을 제공하는 단계와; 상기 액정표시패널의 하단부에서 적어도 1/2 지점의 영역내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하고, 전단 게이트배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제1 암점화 단계와; 상기 액정표시패널의 상단부에서 상기 적어도 1/2 지점의 영역내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하고 상기 공통배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제2 암점화 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.액정패널, 휘점, 암점, 리페어(repair), 상시야각, 하시야각
Int. CL G02F 1/13 (2006.01) G02F 1/136 (2006.01) G02F 1/133 (2006.01)
CPC G02F 1/1362(2013.01) G02F 1/1362(2013.01) G02F 1/1362(2013.01) G02F 1/1362(2013.01)
출원번호/일자 1020080066694 (2008.07.09)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1473842-0000 (2014.12.11)
공개번호/일자 10-2010-0006460 (2010.01.19) 문서열기
공고번호/일자 (20141226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.07.03)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신기택 대한민국 대구광역시 북구
2 박희정 대한민국 부산광역시 남구
3 윤재호 대한민국 서울특별시 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2008-0495547-17
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.07.03 수리 (Accepted) 1-1-2013-0599485-42
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.02.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.03.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0018528-90
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.06.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0409960-54
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0779022-39
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.08.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0779024-20
11 등록결정서
Decision to grant
2014.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0829902-56
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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하부기판상에 서로 교차되게 배열되어 복수개의 셀영역을 정의하는 복수개의 게이트배선과 데이터배선 및 공통배선과, 상기 게이트배선 및 데이터배선이 교차하는 지점에 형성되고 게이트전극과 액티브층 및 소스/드레인전극으로 구성된 박막트랜지스터와, 상기 드레인전극에 연결된 화소전극으로 이루어지는 복수개의 셀로 구성된 액정표시패널을 제공하는 단계와;상기 액정표시패널의 중앙부인 1/2 지점으로부터 패널의 하단부까지의 영역 내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하고, 전단 게이트배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제1 암점화 단계와;상기 액정표시패널의 중앙부인 1/2 지점으로부터 패널의 상단부까지의 영역 내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하고 상기 공통배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제2 암점화 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 불량셀 리페어방법
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제1 항에 있어서, 상기 액정표시패널의 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하는 단계는 레이저 조사에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 불량셀 리페어방법
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제1 항에 있어서, 전단 게이트배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제1 암점화 단계와 상기 공통배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제2 암점화 단계는 레이저를 이용한 웰딩공정에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 불량셀 리페어방법
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삭제
5 5
하부기판상에 서로 교차되게 배열되어 복수개의 셀영역을 정의하는 복수개의 게이트배선과 데이터배선 및 공통배선과, 상기 게이트배선 및 데이터배선이 교차하는 지점에 형성되고 게이트전극과 액티브층 및 소스/드레인전극으로 구성된 박막트랜지스터와, 상기 드레인전극에 연결된 화소전극으로 이루어지는 복수개의 셀로 구성된 액정표시패널을 제공하는 단계와;상기 액정표시패널의 상단부에서 1/3 지점까지의 영역에 해당하는 상부영역 내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀의 드레인전극을 절단하고 상기 공통배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제2 암점화 단계와;상기 액정표시패널의 상기 1/3 지점에서 2/3 지점까지의 영역에 해당하는 중앙영역 내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀에, 드레인전극을 절단하고 상기 공통배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 상기 제2 암점화하는 단계 및 드레인전극을 절단하고 전단 게이트배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제1 암점화 단계 중 하나를 선택하여 적용하는 단계와; 상기 액정표시패널의 상기 2/3 지점에서 하단부까지의 영역에 해당하는 하부영역 내에 배열되는 복수개의 셀중 불량셀에, 드레인전극을 절단하고 전단 게이트배선과 화소전극의 오버랩되는 영역을 단락시켜 불량셀을 암점화하는 제1 암점화 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 불량셀 리페어방법
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